簡單介紹 日本AET介電常數(shù)測試儀，頻率范圍：1G~20GHz，，采用德國CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM，測量材料的高頻介電常數(shù)，此方法保證了介電常數(shù)測量結(jié)果的**性；儀器量販大量供應(yīng)，可工廠直接下訂單，交貨迅速，歡迎選購aet參數(shù)價(jià)格。 日本AET介電常數(shù)測試儀的詳細(xì)介紹 性能特點(diǎn)： ?         日本AET微波(高頻)介電常數(shù)測試儀(Microwave Dielectric Measurement System), 利用微波技術(shù)結(jié)合高Q腔以及3D電磁場模擬技術(shù)，采用德國CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM，測量材料的高頻介電常數(shù)，此方法保證了介電常數(shù)測量結(jié)果的**性。

 ?         AET公司開發(fā)了二種共振腔：空洞共振腔和開放式同軸共振腔用于測試環(huán)境腔。

空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。

印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。

 ?         日本AET 公司針對CCL/印刷電路板設(shè)計(jì)空洞共振腔測試裝置 , 只需裁成小長條狀即可量測**的復(fù)介電常數(shù)(Dk), 尤其是低損耗(Df)的樣品, 測量值非常精準(zhǔn)。

用于介電常數(shù)測試儀，介電常數(shù)分析，介電損耗測試，高頻介電常數(shù)測量。

技術(shù)參數(shù)： ?         頻率范圍：1G~20GHz ?         同軸共振腔： ?         介電常數(shù)Epsilon：1~30，準(zhǔn)確度：+/-1%，

介電損耗tangent delta：0.05~0.0001，準(zhǔn)確度：+/-5%

應(yīng)用領(lǐng)域： ?         薄膜材料，半導(dǎo)體材料，電子材料（包括CCL和PCB），化學(xué)品，陶瓷材料，納米材料，光電材料等。