- 2025-07-29 10:46:17半導(dǎo)體器件測試
- 半導(dǎo)體器件測試是評(píng)估半導(dǎo)體器件性能、可靠性和質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。它涉及對半導(dǎo)體芯片或組件進(jìn)行電學(xué)、熱學(xué)、機(jī)械等多方面的測試，以確保其符合設(shè)計(jì)規(guī)格和預(yù)期應(yīng)用需求。測試內(nèi)容包括但不限于電流-電壓特性分析、功耗測試、耐熱性測試、可靠性驗(yàn)證等。通過這些測試，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決半導(dǎo)體器件潛在的問題，保障其在實(shí)際應(yīng)用中的穩(wěn)定性和可靠性。
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半導(dǎo)體器件測試資訊
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- 預(yù)算150萬元 東南大學(xué)集成電路學(xué)院 采購半導(dǎo)體器件脈沖電壓電流測試系統(tǒng)
- 東南大學(xué)集成電路學(xué)院半導(dǎo)體器件脈沖電壓電流測試系統(tǒng)采購項(xiàng)目 招標(biāo)項(xiàng)目的潛在投標(biāo)人應(yīng)在江蘇省南京市鼓樓區(qū)鄭和中路118號(hào)D座12樓1203室（https://www.jstcc.cn/）獲取招標(biāo)文件，并
半導(dǎo)體器件測試文章
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- 半導(dǎo)體器件快速溫變半導(dǎo)體老化測試箱的技術(shù)原理、應(yīng)用與行業(yè)實(shí)踐
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- 泰克助力高效功率器件評(píng)估，深度解析功率半導(dǎo)體雙脈沖測試
- 在當(dāng)今快速發(fā)展的電力電子技術(shù)領(lǐng)域，功率半導(dǎo)體器件的性能優(yōu)化至關(guān)重要。雙脈沖測試（DPT）作為一種關(guān)鍵的測試方法，為功率器件的動(dòng)態(tài)行為評(píng)估提供了精準(zhǔn)的手段。
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- 探針臺(tái)聯(lián)用半導(dǎo)體參數(shù)儀在MEMS器件中電學(xué)測試的應(yīng)用
- 針對MEMS器件的微尺度特性，需要采用高精度探針臺(tái)配合半導(dǎo)體參數(shù)分析儀構(gòu)建測試平臺(tái)。其中探針臺(tái)通過精密定位系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)微米級(jí)接觸，而參數(shù)分析儀則提供精確的電學(xué)激勵(lì)與測量能力，二者協(xié)同工作確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
半導(dǎo)體器件測試產(chǎn)品
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- 大功率半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)
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武漢普賽斯儀表有限公司
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- SiC功率半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)
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- 功率半導(dǎo)體器件測試
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- SiC功率半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)
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- 功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)測試系統(tǒng)
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半導(dǎo)體器件測試問答
- 2024-05-18 19:23:47半導(dǎo)體封裝推拉力機(jī)，WB剪切力測試，芯片線弧
- 半導(dǎo)體封裝推拉力機(jī)，WB剪切力測試，芯片線弧 供應(yīng)商:深圳市尖端精密科技有限公司手機(jī)號(hào):15989477601聯(lián)系人:吳生 所在地:深圳市龍華新區(qū)龍華街道上油松尚游詳細(xì)介紹: 半導(dǎo)體封裝金線，銅線，合金線鋁線線弧高度測試儀ic線弧高度測試儀，芯片線弧高度測試，led線弧高度測試，wb線弧高度測試公差正負(fù)1um 半導(dǎo)體封裝金線，銅線，合,IC線弧高度,芯片線弧高度,WB線弧高度測試,LED線弧高度測試
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- 2021-05-13 11:29:10吉時(shí)利源表助力半導(dǎo)體分立器件I-V特性測試
- 近期有很多用戶在網(wǎng)上咨詢I-V特性測試， I-V特性測試是很多研發(fā)型企業(yè)和高校研究的對象，分立器件I-V特性測試可以幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本I-V特性參數(shù)，并在整個(gè)工藝流程結(jié)束后評(píng)估器件的優(yōu)劣。I-V特性測試難點(diǎn)： 種類多微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待測參數(shù)各不相同，此外，新材料和新器件對測試設(shè)備提出了更高的要求，要求測試設(shè)備具備更高的低電流測試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。尺寸小隨著器件幾何尺寸的減小，半導(dǎo)體器件特性測試對測試系統(tǒng)的要求越來越高。通常這些器件的接觸電極尺寸只有微米量級(jí)，這些對低噪聲源表，探針臺(tái)和顯微鏡性能都提出了更高的要求。I-V特性測試方案： 針對I-V 特性測試難點(diǎn)，安泰測試建議可采用keithley高精度源測量單元（SMU）為核心測試設(shè)備，配備使用簡便靈活、功能豐富的 CycleStar 測試軟件，及穩(wěn)定的探針臺(tái)。 圖：系統(tǒng)配置連接示意圖測試功能：這是一個(gè)簡單易用的I-V特性測試方案，無論對于雙端口或三端口器件，如二極管、晶體管、場效應(yīng)管都很適用。? 二極管特性的測量與分析? 雙極型晶體管 BJT 特性的測量與分析? MOSFET 場效應(yīng)晶體管特性的測量與分析? MOS器件的參數(shù)提取 吉時(shí)利源表簡介及熱門型號(hào)推薦： 吉時(shí)利源表將數(shù)字萬用表 (DMM)、電源、實(shí)際電流源、電子負(fù)載和脈沖發(fā)生器的功能集成在一臺(tái)儀器中。通過吉時(shí)利源表進(jìn)行分立器件 I-V 特性測試時(shí)，支持同時(shí)操作兩臺(tái)吉時(shí)利源表，輕松完成三端口器件測試。此外，因?yàn)榧獣r(shí)利源表兼顧高精度和通用性，廣泛適用于教育、科研、產(chǎn)業(yè)等眾多行業(yè)。安泰測試作為泰克吉時(shí)利長期合作伙伴，為多家院校，研究所提供了I-V特性測試方案，并提供了吉時(shí)利源表現(xiàn)場演示，如果您也有相關(guān)應(yīng)用，歡迎關(guān)注安泰測試網(wǎng)。
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- 2023-07-07 11:25:23FS-Pro 半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹-安泰測Agitek
- S-Pro 半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備，在一個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖式 IV 測試、任意線性波形發(fā)生與測量、高速時(shí)域信號(hào)釆集以及低頻噪聲測試能力。幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在 FS-Pro 測試系統(tǒng)中完成。其全面而強(qiáng)大的參數(shù)測試分析能力極大地加速了半導(dǎo)體器件與工藝的研發(fā)和評(píng)估進(jìn)程，并可與概倫 9812 系列噪聲測試系統(tǒng)無縫集成，其快速 DC 測試能力進(jìn)一步提升了 9812 系列產(chǎn)品的噪聲測試效率。FS-Pro 釆用工業(yè)通用的 PXI 模塊化硬件架構(gòu)，系統(tǒng)擴(kuò)展性強(qiáng)， 還支持多通道并行測試，可進(jìn)一步提升測試效率。系統(tǒng)內(nèi)置專業(yè)測試軟件 LabExpress 為用戶提供了豐富的測試預(yù)設(shè)和強(qiáng)大的測試功能，可實(shí)現(xiàn)非常友好的用戶即插即用體驗(yàn)。FS-Pro 可廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件、LED 材料、二維材料器 件、金屬材料、新型先進(jìn)材料與器件測試等?；谠诋a(chǎn)線測試與科研應(yīng)用方面的優(yōu)異表現(xiàn)，F(xiàn)S-Pro 不僅被眾 多芯片設(shè)計(jì)公司和代工廠、IDM 公司釆用，其全面的測試能力更在科研學(xué)術(shù)界受到了廣泛關(guān)注和認(rèn)可，目前已被數(shù)十所國內(nèi)外高校及科學(xué)研究機(jī)構(gòu)所選用。應(yīng)用范圍：被半導(dǎo)體工業(yè)界和眾多知名大學(xué)及科研機(jī)構(gòu)釆用作為標(biāo)準(zhǔn)測試儀器集成功能：高速高精度 IV/CV測試能力脈沖式 IV測試能力任意線性波形發(fā)生與測量能力高速時(shí)域信號(hào)釆集能力與 9812 對準(zhǔn)的低頻噪聲測試能力使用方式：通過內(nèi)置專業(yè)軟件 LabExpress 的豐富功能實(shí)現(xiàn)測試操作簡單靈活，無需編程即可實(shí)現(xiàn)自由的波形發(fā)生或電壓同步與跟隨系統(tǒng)架構(gòu)：PXI標(biāo)準(zhǔn)機(jī)箱，可擴(kuò)展架構(gòu),支持通過多機(jī)箱擴(kuò)展SMU卡數(shù)量支持并行測試：內(nèi)置功能強(qiáng)大的測試算法支持多通道并行測試成倍提升測試效率硬件規(guī)格：寬量程：200V 電壓，1A 直流電流高精度：30fA 精度，0.1fA 靈敏度噪聲測試帶寬：高精度最高 100kHz，超低頻最高 40Hz噪聲測試速度：
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- 2022-05-24 18:18:25吉時(shí)利keithley2600脈沖信號(hào)測試軟件，憶阻器測試|半導(dǎo)體測試
- * 主要功能：線性掃描或?qū)?shù)掃描、電壓電流脈沖循環(huán)、數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。* 程控對象：吉時(shí)利 keithley2600 系列源表。* 程控接口：源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件提供 USB、RS232、TCP/LAN/ 以太網(wǎng)、GPIB 的連接方式。* 儀器兼容性：系統(tǒng)兼容泰克 / 吉時(shí)利（Tektronix/Keithley）源表 2600 全系列。1、軟件概述為了保證硬件系統(tǒng)的穩(wěn)定，需要對系統(tǒng)中的電氣元器件的性能有一定了解至關(guān)重要。因此了解電氣元器件的伏安特性曲線顯得十分重要，源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件應(yīng)運(yùn)而生。軟件可以控制源表指定通道進(jìn)行線性掃描或?qū)?shù)掃描，可以選擇脈沖源為電壓脈沖或電流脈沖來對電氣元器件的伏安特性曲線更加精準(zhǔn)的測試，并繪制相應(yīng)的伏安特性曲線圖，軟件也可以將掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行保存。2、軟件特點(diǎn)◆源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件提供 USB、RS232、TCP/LAN/ 以太網(wǎng)、GPIB 的連接方式；◆軟件可實(shí)時(shí)顯示源表測試到的數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前掃描進(jìn)度，可實(shí)時(shí)繪制伏安特性曲線；◆測試數(shù)據(jù)可選擇 CSV 格式格式導(dǎo)出。3、軟件應(yīng)用吉時(shí)利 keithley 源表測試軟件可應(yīng)用于：半導(dǎo)體電子元器件生產(chǎn)測試、LED 發(fā)光二極管測試、憶阻器測試、激光二極管生產(chǎn)測試、激光雷達(dá) VCSEL 測試等；4、兼容的部分儀器型號(hào)吉時(shí)利 keithley2600 系列源表脈沖掃描循環(huán)測試軟件兼容吉時(shí)利 Keithley2600A/B 全系列數(shù)字源表。5、軟件功能介紹5.1、儀器連接儀器連接界面可以進(jìn)行吉時(shí)利源表的連接。可選 USB、RS232、TCP/LAN/ 以太網(wǎng)、GPIB 的連接方式；5.2、參數(shù)配置需要配置源表的測量通道、脈沖類型（電壓脈沖或電流脈沖）、掃描類型（線性掃描或?qū)?shù)掃描）、脈沖基線、起始值、終止值、通道限值、脈沖寬度、脈沖間隔、掃描點(diǎn)數(shù)以及循環(huán)參數(shù)（循環(huán)次數(shù)和循環(huán)間隔）的配置。5.3、運(yùn)行測試點(diǎn)擊開始掃描進(jìn)入測試界面，如圖所示。可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前掃描進(jìn)度、可實(shí)時(shí)繪制伏安特性曲線。5.4、導(dǎo)出報(bào)告文件和趨勢圖在導(dǎo)出界面可以導(dǎo)出文件和趨勢圖，可將掃描數(shù)據(jù)以 csv 格式進(jìn)行保存?？赐昙{米軟件對于吉時(shí)利 keithley2600 脈沖信號(hào)測試軟件，憶阻器測試 | 半導(dǎo)體測試的介紹，是不是想馬上去體驗(yàn)看看呢？索取產(chǎn)品資料，申請免費(fèi)試用聯(lián)系，搜索【納米軟件】
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- 2023-01-10 13:42:12應(yīng)用分享丨Nexsa G2小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnO?成分半導(dǎo)體器件
- 01前言近幾年來，隨著國內(nèi)科技產(chǎn)業(yè)的不斷升級(jí)，對微電子器件的需求日益增加。特別是高科技產(chǎn)品的快速發(fā)展，比如智能手機(jī)、電腦、無人機(jī)、新能源汽車、智能機(jī)器人等，對高性能微電子器件的需求更是呈指數(shù)級(jí)增長，這使得微電子器件自然而然就成為人們研究的熱點(diǎn)材料。在微電子器件的研究中，通常需要對微電子器件表面進(jìn)行各種加工、改性處理，來使其具有不同的性能。由于X射線光電子能譜儀（XPS）是一種表面分析技術(shù)，隨著商業(yè)化XPS設(shè)備的普及，其在微電子器件研究中的應(yīng)用越來越廣泛，逐漸成為微電子器件研究中不可或缺的分析手段。本文將通過賽默飛最 新一代XPS表面分析平臺(tái)Nexsa G2，對半導(dǎo)體器件表面形成的窄條形SnOx成分進(jìn)行小束斑+特色SnapMap快照成像測試，展示如何通過設(shè)備小束斑+成像功能，快速全面分析這類特殊小尺寸半導(dǎo)體器件表面成分及其在面內(nèi)分布情況，來輔助評(píng)估表面處理效果及器件質(zhì)量。02樣品情況、測試方案及測試設(shè)備樣品如下圖1所示，為表面噴金形成的金箔，對金箔進(jìn)行處理，中間形成了窄條形的SnOx成分，尺寸約22um（寬）╳193um（長），需要確定SnOx具體成分及其是否在金箔中有擴(kuò)散，來輔助評(píng)估器件質(zhì)量及表面處理效果。圖1 SnOx成分半導(dǎo)體器件示意圖由于形成SnOx成分區(qū)域的尺寸較小，測試時(shí)采用小束斑XPS測試+SnapMap快照成像解決方案：小束斑XPS測試：采用10um束斑，直接聚焦到窄條形區(qū)域，可快速得到樣品表面元素及其化學(xué)態(tài)信息，輔助確定SnOx具體成分。SnapMap快照成像測試：Nexsa G2成像速度快，可快速得到樣品表面元素及其化學(xué)態(tài)在面內(nèi)分布信息，輔助評(píng)估SnOx成分分布及其擴(kuò)散情況。樣品采用賽默飛Nexsa 系列最 新表面分析平臺(tái)Nexsa G2進(jìn)行測試。Nexsa G2是一款自動(dòng)化程度高、小束斑性能優(yōu)異；同時(shí)，也可實(shí)現(xiàn)多技術(shù)聯(lián)用的高性能、高效率表面分析平臺(tái)。設(shè)備特色的SnapMap快照成像功能，成像測試速度快，可實(shí)現(xiàn)高效成像分析。設(shè)備如下圖2所示。圖2 賽默飛Nexsa G2 XPS產(chǎn)品03SnOx成分半導(dǎo)體器件小束斑XPS+SnapMap快照成像測試結(jié)果分析3.1SnOx成分半器件小束斑XPS測試結(jié)果分析由于形成SnOx成分區(qū)域的尺寸較小，為快速分析此區(qū)域表面元素及化學(xué)態(tài)信息，采用小束斑（10μm），直接聚焦到樣品窄條形區(qū)域進(jìn)行測試，SnOx成分區(qū)域表面XPS測試數(shù)據(jù)如下圖3所示：圖3 SnOx成分區(qū)域表面小束斑XPS測試譜圖及定量結(jié)果由上圖SnOx成分區(qū)域常規(guī)XPS數(shù)據(jù)，可得到如下信息：由O1s譜圖，可看到此區(qū)域表面氧元素表現(xiàn)出不同化學(xué)態(tài)，主要為C-O/C=O污染成分和Sn-O成分。比較氧元素中Sn-O成分和氧化態(tài)錫元素相對含量，可看到：原子百分比（At%）：Sn(Oxide):O(Sn-O)≈1:2，可判斷SnOx成分主要為SnO2。此區(qū)域表面含較多Au元素。此區(qū)域表面含較多C元素，可判斷表面有一定程度污染。3.2SnOx成分半導(dǎo)體器件SnapMap快照成像測試結(jié)果分析為分析形成SnOx成分的分布及擴(kuò)散情況，采用小束斑（10um），選擇Sn/Au/O元素進(jìn)行SnapMap快照成像，成像區(qū)域大?。?50μm╳250μm。元素成像圖如下圖4所示（成像圖顏色以熱圖模式顯示）。圖4 Au/Sn元素成像圖及疊加圖由上成像圖，可快速得到Au/Sn元素在面內(nèi)分布情況。顏色越亮，表示對應(yīng)成分含量越多：分析Au/Sn元素成像譜圖，可直觀看到Au、Sn元素在面內(nèi)分布區(qū)域互補(bǔ)。分析Au/Sn元素成像譜圖疊加，可直觀看到Au、Sn兩元素在面內(nèi)分布情況；同時(shí)，可快速判斷形成的SnOx成分沒有出現(xiàn)明顯擴(kuò)散情況。此外，對Au/Sn/O元素成像圖進(jìn)行了進(jìn)一步處理。在成像譜圖中，選10um╳10um的小尺寸區(qū)域，直接聚焦到Au/Sn元素分布特征區(qū)域回溯成譜，將成像圖轉(zhuǎn)化成XPS譜圖，可快速分析不同區(qū)域元素及化學(xué)態(tài)差異，輔助進(jìn)一步確認(rèn)SnOx成分及其擴(kuò)散情況。Au/Sn/O元素成像圖不同區(qū)域回溯成譜，如下圖5所示。圖5 Au/Sn/O元素成像圖不同位置回溯成譜由上圖，分析Au/Sn/O元素成像圖不同位置回溯成的XPS譜圖，可直觀看到：SnOx成分區(qū)域表面檢出明顯Sn元素信號(hào)；同時(shí)，此區(qū)域也含有一定量Au元素。由Au/Sn/O元素不同化學(xué)態(tài)含量表格，可看到Sn(Oxide):O(Sn-O)≈1:2，進(jìn)一步確定SnOx區(qū)域成分為SnO2。Au元素區(qū)域表面未檢出Sn信號(hào)，說明SnOx成分在此區(qū)域沒有出現(xiàn)明顯擴(kuò)散情況。為進(jìn)一步判斷SnOx成分在與Au分布區(qū)域交界處是否存在擴(kuò)散情況，對Sn元素成像圖進(jìn)行線掃描處理，將成像圖轉(zhuǎn)化成Sn元素計(jì)數(shù)率隨距離變化圖，如下圖6所示。圖6 Sn元素成像圖線掃描由上圖Sn元素線掃描圖，可直觀看到SnOx成分在Au/Sn交界處也沒有出現(xiàn)明顯擴(kuò)散情況。說明對Au箔處理后，處理效果好，形成SnOx成分的窄條形區(qū)域質(zhì)量好。04 小結(jié)本文通過賽默飛最 新一代XPS表面分析平臺(tái)Nexsa G2對金箔表面處理形成SnOx成分的小條形區(qū)域進(jìn)行小束斑XPS+SnapMap快照成像測試，得到了豐富的樣品信息。小束斑XPS測試：Nexsa G2，可實(shí)現(xiàn)束斑大小10~400um連續(xù)可調(diào)，小束斑下也具有極 佳測試靈敏度，保證測試譜圖質(zhì)量。對于這類特殊小尺寸樣品，直接選擇小束斑，聚焦到小尺寸區(qū)域，可快速得到樣品表面元素及其化學(xué)態(tài)信息。通過這些信息，可輔助快速判斷樣品表面處理形成的SnOx成分為SnO2。SnapMap快照成像測試：Nexsa G2特色SnapMap快照成像功能，可實(shí)現(xiàn)高效成像測試，快速得到不同元素及化學(xué)態(tài)在面內(nèi)分布信息。通過分析Au/Sn/O元素成像圖，可進(jìn)一步確定SnOx成分為SnO2；同時(shí)，可確定SnOx成分沒有出現(xiàn)擴(kuò)散情況，說明樣品表面處理效果較好，形成SnOx成分的窄條形區(qū)域質(zhì)量好。
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