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2025-01-21 09:29:42常規(guī)XPS測試

常規(guī)XPS測試，即X射線光電子能譜測試，是一種表面分析技術(shù)，用于測定材料表面元素組成及化學態(tài)。該技術(shù)利用X射線輻射樣品，激發(fā)原子內(nèi)層電子或價電子，通過測量這些被激發(fā)出來的光電子的能量分布，獲得樣品表面元素種類、含量及化學態(tài)信息。XPS具有高靈敏度、高分辨率及非破壞性等特點，廣泛應用于材料科學、化學、物理、生物及環(huán)境科學等領(lǐng)域，是研究材料表面性質(zhì)的重要工具。

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