- 2025-01-21 09:32:41syXAFS
- syXAFS是一種基于同步輻射X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XAFS）技術(shù)的分析方法。該技術(shù)通過測量樣品對X射線的吸收特性，揭示原子周圍的局部結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵信息。syXAFS具有非破壞性、元素選擇性和高靈敏度等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域，是研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的重要工具。
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