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2025-01-10 10:52:26電鏡組織處理機(jī): 電鏡組織處理機(jī)是專門(mén)用于電子顯微鏡樣本前處理的設(shè)備。它采用精密的自動(dòng)化程序，能夠自動(dòng)完成組織樣本的脫水、固定、染色等步驟，為后續(xù)的電子顯微鏡觀察做好準(zhǔn)備。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的科研實(shí)驗(yàn)，適用于多種類型的組織樣本處理。相比傳統(tǒng)的手工處理方法，電鏡組織處理機(jī)能夠提供更精細(xì)、一致的處理效果，提高實(shí)驗(yàn)效率和準(zhǔn)確性。

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電鏡組織處理機(jī)問(wèn)答

2023-04-17 15:26:25常溫電鏡公開(kāi)課第8講丨高壓冷凍組織樣品的電鏡制樣技術(shù)

2023-06-08 16:04:39邀請(qǐng)函｜飛納電鏡邀您共赴西北五省第十三屆電鏡學(xué)術(shù)交流及技術(shù)研討會(huì)！: 會(huì)議邀請(qǐng) “西北五省第十三屆電鏡學(xué)術(shù)交流及技術(shù)研討會(huì)”將于 2023 年 6 月 9 日 - 12 日在甘肅省蘭州市蘭州大學(xué)舉辦。此次會(huì)議是西北五省規(guī)模最大、影響力最強(qiáng)的電子顯微學(xué)盛會(huì)。本次會(huì)議將采用會(huì)前培訓(xùn)、會(huì)議中專家報(bào)告、學(xué)術(shù)座談、廠商報(bào)告和廠家現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備使用技術(shù)培訓(xùn)形式。專家學(xué)者將齊聚一堂，共赴這場(chǎng)電鏡盛會(huì)。會(huì)議時(shí)間：2023 年 6 月 9 日 - 12 日會(huì)議地點(diǎn)：蘭州大學(xué)電鏡中心復(fù)納科技致力于為實(shí)驗(yàn)室樣品制備與檢測(cè)提供智能、高效、可靠的高科技解決方案。其中飛納臺(tái)式掃描電鏡作為全球領(lǐng) 先的桌面式掃描電鏡，憑借操作簡(jiǎn)單、成像質(zhì)量高和效率高等優(yōu)勢(shì)成為眾多研究人員的選擇。在本次會(huì)議中，我們也將現(xiàn)場(chǎng)展示飛納電鏡能譜一體機(jī) ProX，由工程師現(xiàn)場(chǎng)開(kāi)展電鏡技能培訓(xùn)與問(wèn)題答疑，歡迎大家前來(lái)上機(jī)測(cè)試。會(huì)議報(bào)告/ FUNA本次會(huì)議中，復(fù)納科技產(chǎn)品經(jīng)理萬(wàn)正宇將帶來(lái)“DENSsolutions 基于 MEMS 的原位透射電鏡技術(shù)發(fā)展＆ STEM 在飛納臺(tái)式電鏡上的應(yīng)用”主題報(bào)告，為大家分享最新的原位實(shí)驗(yàn)方案與 STEM 表征。歡迎各位專家老師和我們一起探討交流！01Pharos - STEM作為全球唯一臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 Pharos-STEM 電子顯微鏡，在較低的加速電壓下，可減少電子束對(duì)樣品的損傷，顯著提高了圖像的襯度。Pharos STEM 電子顯微鏡，利用 FEG 高亮度電子源，可在透射模式下對(duì)薄樣品進(jìn)行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡 (TEM) 載網(wǎng)，實(shí)現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場(chǎng) (BF) 、暗場(chǎng) (DF) 和高角度環(huán)形暗場(chǎng) (HAADF) 像，并支持自定義選擇成像模式。02DENSsolutionsDENS 產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動(dòng)態(tài)現(xiàn)象。目前提供的四種原位實(shí)驗(yàn)方案：Wildfire TEM 原位加熱方案、Lightning TEM 原位熱電方案、Climate TEM 原位氣相加熱方案和 Stream TEM 原位液相加熱 / 加電方案，已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。03Technoorg Linda復(fù)納科技擁有 Technoorg Linda 離子研磨儀，采用離子束技術(shù)，可對(duì)樣品進(jìn)行快速研磨及表面精細(xì)加工和最終拋光。是 SEM / TEM 樣品表面處理的有力工具。04NEOSCANNeoscan 臺(tái)式顯微 CT 采用先進(jìn) X 射線成像技術(shù)，分辨率高，對(duì)場(chǎng)地要求少，緊湊便攜，適用于實(shí)驗(yàn)室和研究機(jī)構(gòu)日常使用。歡迎各位老師蒞臨展位與我們探討交流，我們隨時(shí)為您提供專業(yè)的解答與支持，現(xiàn)場(chǎng)也有精美小禮品相送噢！

2023-06-21 14:21:22飛納電鏡線下用戶培訓(xùn)會(huì) —— 廣州站: 飛納電鏡第三場(chǎng)線下用戶培訓(xùn)會(huì)要來(lái)廣州啦！本次培訓(xùn)會(huì)誠(chéng)摯邀請(qǐng)各位用戶朋友們來(lái)到飛納電鏡最佳 Demo 室——廣州國(guó)際生物島，讓我們一起開(kāi)啟為期兩天的電鏡培訓(xùn)之旅吧！* 若有時(shí)間沖突，請(qǐng)于培訓(xùn)開(kāi)始前告知。培訓(xùn)·流程6月29日6月30日期待您的到來(lái)！

2023-06-20 15:09:23火爆招募 | 歐波同創(chuàng)新研究中心電鏡培訓(xùn)班

2023-05-31 11:35:26鋰電清潔度分析：從光鏡到電鏡（上）: 01金屬異物對(duì)鋰電池安全性的影響鋰離子電池正極材料中金屬異物（包括鐵、鎳、銅、鋅、鉻等）的含量對(duì)鋰電池的性能有較大影響。金屬異物在電池化成階段會(huì)先在正極氧化再到負(fù)極還原，當(dāng)負(fù)極處的金屬單質(zhì)累積到一定程度會(huì)形成枝晶，導(dǎo)致隔膜穿孔，造成電池內(nèi)部短路，提高電池的自放電率，嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)姵仄鸹?、爆炸，影響電池的安全性能。目前?duì)金屬異物的管控水平已經(jīng)成為衡量鋰離子電池正極材料生產(chǎn)線最核心的指標(biāo)之一。由于動(dòng)力鋰電池的最終客戶為汽車公司（如大眾，寶馬，戴姆勒等），對(duì)于金屬異物的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)也基本沿用燃油汽車清潔度標(biāo)準(zhǔn)（德國(guó)的汽車工業(yè)聯(lián)合會(huì)推出的 VDA19）的相關(guān)概念。VDA19 中對(duì)于異物的評(píng)估方法主要包括：稱重法，光鏡法、電鏡法、拉曼法等，其中光鏡法和電鏡法作為可視化的方法，得到了廣泛應(yīng)用。02光學(xué)顯微鏡檢測(cè)的原理及結(jié)果金屬表面的物理特性決定了光線不能進(jìn)入金屬物質(zhì)，它會(huì)像鏡子般把所有入射光全部反射出去。入射光在經(jīng)由金屬表面反射后，其反射光與入射光具有相同的振動(dòng)方向。如果反射光通過(guò)兩片平行的偏振片，金屬顆粒呈現(xiàn)亮色；如果反射光通過(guò)兩片垂直的偏振片，金屬顆粒呈現(xiàn)純黑色。入射光在經(jīng)過(guò)非金屬物質(zhì)后，其振動(dòng)方向會(huì)發(fā)生改變（主要原因是光可以射入非金屬物質(zhì)內(nèi)部），經(jīng)過(guò)非金屬物質(zhì)內(nèi)部后再出來(lái)的反射光不再具有偏振性，其方向也會(huì)發(fā)生改變。反射光通過(guò)平行和垂直的偏振片時(shí)，其亮度變化不大。通過(guò)記錄、對(duì)比顆粒在不同偏振光下的圖片，而后鑒別出金屬和非金屬顆粒。具體測(cè)試結(jié)果如下：03光鏡檢測(cè)的局限性3.1 無(wú)法區(qū)分金屬顆粒的詳細(xì)分類并非所有金屬顆粒都具有相同的危害性，例如，在對(duì)大量失效電池進(jìn)行拆解分析后發(fā)現(xiàn)，相對(duì)于不銹鋼，銅的危害性更高。主要是因?yàn)殂~離子更容易在負(fù)極析出，析出后的生長(zhǎng)方式呈現(xiàn)枝晶狀，很容易刺穿隔膜。并且，銅的電導(dǎo)率比鐵高了一個(gè)數(shù)量級(jí)，一旦銅枝晶刺穿隔膜，極易導(dǎo)致電池內(nèi)部短路，進(jìn)一步導(dǎo)致電池過(guò)熱甚至起火。為了有效評(píng)估金屬顆粒的危害性，需要知道顆粒的詳細(xì)成分，而光學(xué)顯微鏡只能區(qū)分金屬和非金屬，但具體是哪類金屬則無(wú)從得知。3.2 會(huì)造成金屬與非金屬的誤識(shí)別根據(jù)光反射原理的分析，要求濾膜上的金屬顆粒要反光發(fā)亮。由于污染物顆粒在零件加工過(guò)程中暴露于液體、高溫和摩擦環(huán)境中，因此它們的表面會(huì)因?yàn)楦g等原因而不反光，呈現(xiàn)暗色。這些金屬顆粒在光學(xué)顯微鏡下，會(huì)被錯(cuò)誤地分類為非金屬顆粒。在如下示例中，顯示了三個(gè)顆粒(鋅，鋼和鋁)，這些顆粒通過(guò)光學(xué)顯微鏡確認(rèn)為非金屬。然而，SEM+EDX 分析顯示了這些顆粒的金屬性質(zhì)。3.3 對(duì)小尺寸顆粒的統(tǒng)計(jì)準(zhǔn)確性較低光學(xué)顯微鏡的分辨率較低（相比電子顯微鏡要低 2-3 個(gè)數(shù)量級(jí)），其對(duì)小尺寸顆粒的測(cè)試準(zhǔn)確性也較低。以下與 SEM+EDX 統(tǒng)計(jì)結(jié)果的比較，顯示了光學(xué)顯微鏡的錯(cuò)誤分類有多嚴(yán)重。由汽車供應(yīng)商提供的同一片濾膜，分別進(jìn)行了光學(xué)顯微鏡的顆粒分析以及 SEM+EDX 的測(cè)試分析，并進(jìn)行了比較。結(jié)果顯示，通過(guò)光學(xué)顯微鏡檢測(cè)的金屬顆粒數(shù)，不到實(shí)際金屬顆粒的 1/60。3.4 無(wú)法分析顆粒的可能來(lái)源鋰電池清潔度分析的意義，一方面是對(duì)清潔度的水平進(jìn)行評(píng)估，另一方面，希望通過(guò)對(duì)金屬顆粒的分析，確定其產(chǎn)生原因，并回溯至對(duì)應(yīng)的生產(chǎn)工序，進(jìn)行針對(duì)性的管控，從而提升產(chǎn)線的清潔度水平。由以上分析可知，光學(xué)顯微鏡提供的關(guān)于金屬顆粒形態(tài)和成分的信息有限，無(wú)法分析顆粒的可能來(lái)源，對(duì)清潔度水平的提升幫助有限。因此，全自動(dòng)鋰電清潔度分析方案應(yīng)運(yùn)而生。Phenom ParticleX 以臺(tái)式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動(dòng)對(duì)顆?；螂s質(zhì)進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。小編將在下一篇為大家詳細(xì)講述。