FT-371A高阻雙電四探針測試儀

一.概述：

四探針法測試高阻值材料方阻及電阻率，可以測試到10^10Ω方阻值，液晶顯示，芯片控制，恒流輸出， 四探針雙位測量、參考美國 A.S.T.M 標準。中或英文語言版本.

FT-371A高阻雙電四探針測試儀
二.適用范圍：

覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試,硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料,晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等.

FT-371A高阻雙電四探針測試儀
三.參數資料Parameters：