產品介紹：

個人用的超分辨率顯微鏡，提供與N-SIM S相同的高分辨率

主要特性

分辨率為傳統光學顯微鏡的2倍

借助尼康創新的結構化照明顯微方法，并與尼康著名的高數值孔徑物鏡（NA值高達1.49）相結合，N-SIM E幾乎可以使傳統光學顯微鏡的空間分辨率提高一倍（達到約115nm *），從而幫助用戶觀察到微小的胞內結構及其相互作用。

* 該值是在3D-SIM模式下，通過測量100nm熒光小球的半高全寬而得（488nm激光激發）。

超分辨率圖像（3D-SIM）

傳統的寬場圖像

YFP標記的B16黑色素瘤細胞的微管。 
物鏡：CFI Apochromat TIRF 100XC Oil(NA 1.49) 
圖像拍攝速度：大約1.8秒/幅 （視頻） 
重構方法：slice重構 
圖像來源：與日本理化研究所，定量生物學zhong心，細胞極性調節實驗室的Yasushi Okada博士合作拍攝

超分辨率圖像（3D-SIM）

傳統的寬場圖像

GFP標記的活的Hela細胞的內質網。
物鏡：CFI Apochromat TIRF 100XC Oil（數值孔徑1.49）
圖像拍攝速度：約1.5秒/幀（視頻）
重建方法：Slice
拍攝合作伙伴：福島醫科大學醫學院生物醫學科學研究所的Ikuo Wada博士

具有1秒/幀的高時間分辨率的超分辨成像

N-SIM E為結構化照明技術提供快速的成像性能，約1秒/幀的時間分辨率，對活細胞成像有效。

重建圖像尺寸：1024 x 1024像素（33μmx33μm，100X物鏡）

重建圖像尺寸：2048 x 2048像素（66μmx66μm，100X物鏡）

用TRITC-鬼筆環肽（F-肌動蛋白，橙色）和AlexaFluor?488（微管，綠色）標記的NG108細胞的生長錐

樣品來源：國家先進工業科學與技術研究所（AIST）的Shizuha Ishiyama博士和Kaoru Katoh博士

采用3D-SIM模式的軸向超分辨率

3D-SIM模式生成三維結構化照明圖案，使橫向和軸向分辨率提高一倍。兩種重建方法（“slice”和“stack”）可用于優化結果，根據應用的要求（例如樣品厚度、速度等）。Slice重建適用于在特定深度成像的活細胞，因為它支持軸向超分辨率成像，具有300nm分辨率的光學切片。基于Gustafsson理論的可選stack重建適用于采集3D數據，因為它能以比slice重建更高的對比度去成像更厚的樣本。

3D-SIM圖像

傳統的寬場圖像

枯草芽孢桿菌（膜結構由尼羅紅染色，并表達融合了GFP的細胞分裂蛋白DivIVA（綠色）。
超分辨率顯微鏡可在分裂過程中準確定位蛋白質。 
重建方法：slice重建

3D-SIM（3D視圖）

3D-SIM（zui大投影）

小鼠角質（間接免疫標記角蛋白中間絲，Alexa Fluor 488偶聯二抗進行成像。）
重建方法：Stack重建
圖像來源：亞琛工業大學的Reinhard Windoffer博士

成像模式可在多尺寸實驗之間無縫切換

N-SIM E可以與共聚焦顯微鏡（AX/AX R）相組合。可以在低放大率/大視野共聚焦圖像中指定樣本中的期望位置，并且通過簡單地切換成像方法以獲得超分辨率圖像。將共聚焦顯微鏡與超分辨率系統相結合有利于了解超分辨信息的來龍去脈。

選擇在共聚焦圖像中拍攝SIM圖像的位置

拍攝所選位置的SIM圖像

超分辨率顯微鏡的物鏡

硅油物鏡

硅油物鏡使用高粘度硅油作為浸沒液體，其折射率接近活細胞的折射率。這種折射率兼容性的改進，大大改善了深部結構成像時的光子收集能力和分辨率。此外，硅油物鏡在寬波長范圍內表現出優異的色差校正和高透射率。

CFI SR HP Plan Apochromat Lambda S 100XC Sil

浸液物鏡

該系統可配置適用于固定樣品成像100X油浸型物鏡，或適用于活細胞成像的60X水浸型物鏡。使用波前像差測量技術對超分辨物鏡進行校準和檢測，以確保zui低可能性的非對稱像差和超分辨率成像所需的zhuo越光學性能。

干鏡

N-SIM E兼容干鏡，無需切換鏡頭即可實現超分辨率成像和共聚焦成像。低放大倍率、大視野干鏡即使在樣品組織的周邊也能實現高分辨率觀察。 

規格

結構化照明顯微鏡的原理

覆蓋已知的高空間頻率圖案可得到莫爾條紋，并對該條紋進行分析處理，進而從數學上恢復樣品的亞分辨率結構

利用高空間頻率激光干涉條紋照射樣本內的亞分辨率結構產生可記錄的莫爾條紋。這些莫爾條紋包括樣本的亞分辨率結構的調制信息。

通過處理多個莫爾條紋圖案來創建超分辨率圖像。

使用已知的高空間頻率條紋光照明，可從得到的莫爾條紋圖案中提取出超分辨信息。

通過處理多個莫爾圖案圖像來創建超分辨率圖像

在該過程中捕獲的莫爾條紋的圖像包括樣本內的微小結構的信息。捕獲結構化照明的多個相位和取向，并且從莫爾條紋信息中提取移位的“超分辨率”信息。該信息在數學上在“傅立葉”或孔徑空間重新組合，然后變換回圖像空間，以兩倍于傳統顯微鏡的分辨率創建圖像。

使用相位偏移的結構化照明拍攝多個圖像。

對三個不同的角度重復此過程。然后使用高級算法處理該系列圖像以獲得超分辨率圖像。

利用高頻條紋照明將分辨率提高一倍

高分辨率，高空間頻率信息的捕獲受到物鏡的數值孔徑（NA）的限制，超出光學系統孔徑的結構的空間頻率（圖A）將被排除在外。用高頻結構化照明條紋照射樣品，該照明條紋再與樣品中超出經典分辨率極限的未知結構相乘，從而會在光學系統孔徑內產生移位的“超分辨率”信息（圖B）。

當這個“超分辨率”信息在數學上與物鏡捕獲的標準信息相結合時，它產生的分辨率大約是數值孔徑兩倍的物鏡達到的分辨率（圖C）。

圖A：分辨率受到物鏡數值孔徑的限制。

圖B：結構化照明和通常不可分辨的樣品結構的乘積產生可記錄的莫爾條紋，其中包含了傳統分辨力極限兩倍的樣品信息。

圖C：圖像的分辨率大約是數值孔徑兩倍的物鏡達到的分辨率