0.3 nm – 15 μm
3 μL
173 °+90 ° + 12°
Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年推出的表征納米體系特性的光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測技術(shù),可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。
基本性能指標
粒徑檢測(動態(tài)光散射法)
粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
最小樣品量 | 3 μL |
檢測角度 | 173 °+90 ° + 12° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
沉降法粒度測試
檢測方法 | 沉降法 |
粒徑范圍 | 1μm-50μm |
檢測角度 | 0° |
樣品量 | 1-3ml |
Zate電位測試
檢測角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無實際限制 |
電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
電導(dǎo)率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – >120 μm |
分子量測試
分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
測試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/td> |
趨勢測試
模式 | 時間和溫度 |
濃度檢測
檢測方法 | LEDLS |
測試能力 | 體積分數(shù)和數(shù)量濃度 |
折光率測試
檢測方法 | 楔形池樣品折射(無需示蹤粒子) |
檢測角度 | 0° |
RI范圍 | 1.2-1.6 |
精度 | 優(yōu)于0.1% |
最小樣品量 | 380 μL |
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍 | -15°C - 120°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
相關(guān)器 | 50 mW 高性能固體激光器, 671 nm |
電泳遷移率范圍 | 快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍 |
檢測器 | APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS |
光強控制 | 0.0001% - 100%,手動或者自動 |
檢測參數(shù)
動態(tài)光散射
●流體力學(xué)尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布
●計算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
透射
●透射濁度
● 顆粒物濃度
●液體折射率
●沉降法粒度和粒度分布測試
趨勢測試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試
靜態(tài)光散射
● 分子量Mn、Mw、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數(shù)A2
選配件
●動靜態(tài)流動模式
BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離,依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
●BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險。
●BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
報價:面議
已咨詢588次納米粒度儀/Zeta電位儀
報價:面議
已咨詢3195次納米粒度儀/Zeta電位儀
報價:面議
已咨詢2950次納米粒度儀/Zeta電位儀
報價:面議
已咨詢6006次激光粒度分析儀
報價:¥318000
已咨詢384次Zeta電位分析儀
報價:面議
已咨詢2827次Zeta電位納米粒度
報價:面議
已咨詢6617次顆粒/粉末分析儀器
報價:¥999999
已咨詢481次APS-100 高濃度納米粒度儀
BeScan Lab穩(wěn)定性分析儀是丹東百特公司研制的基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備。
背向 +90°散射粒度?+Zeta 電位 +0°光電模塊四合一型
BetterPyc 380 多功能真密度儀由丹東百特儀器有限公司研制,并配套電腦端操作軟件 EasyPyc,用于測試樣品的體積、密度、固含量及開孔率,具有多功能性、自動化程度高、操作便捷、速度快、精度
BT-Online2在線粒度監(jiān)測與控制系統(tǒng)由測試主機、電腦、取樣系統(tǒng)、回收系統(tǒng)、電路與氣路控制系統(tǒng)、機柜等部分組成。系統(tǒng)可在電腦控制下自動取樣、自動測試、自動回收、遠程傳輸測試結(jié)果等。通過設(shè)定 SOP 流程系統(tǒng)可在無人值守狀態(tài)下自動運行。它在數(shù)據(jù)異常時系統(tǒng)會自動報警提示,在研磨設(shè)備具有信息化控制終端時,本系統(tǒng)還可對研磨系統(tǒng)實施控制,實現(xiàn)粒度監(jiān)測與控制同步,保證產(chǎn)品粒度穩(wěn)定。
BT-Online1A在線粒度監(jiān)測與控制系統(tǒng)由測試主機、電腦、取樣系統(tǒng)、回收系統(tǒng)、電路與氣路控制系統(tǒng)、機柜等部分組成。系統(tǒng)可在電腦控制下自動取樣、自動測試、自動回收、遠程傳輸測試結(jié)果等。通過設(shè)定 SOP 流程系統(tǒng)可在無人值守狀態(tài)下自動運行。它在數(shù)據(jù)異常時系統(tǒng)會自動報警提示,在研磨設(shè)備具有信息化控制終端時,本系統(tǒng)還可對研磨系統(tǒng)實施控制,實現(xiàn)粒度監(jiān)測與控制同步,保證產(chǎn)品粒度穩(wěn)定。
BT-Online1是一種安裝在生產(chǎn)現(xiàn)場、與粉體生產(chǎn)設(shè)備直接相連、實時進行粒度監(jiān)測與控制的在線粒度監(jiān)測與控制系統(tǒng)。常規(guī)系統(tǒng)由主機、自動取樣器、鏡頭防護系統(tǒng)、樣品回收系統(tǒng)、控制系統(tǒng)和軟件組成。特殊系統(tǒng)有防爆型、一拖二型、一拖三型和一拖四型等。
BeNano 180 Zeta Pro 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。 該系統(tǒng)中集成了背向 +90°動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分 布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可 廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的 基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
BeNano 180 Zeta 納 米 粒 度 及 Zeta 電 位 儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。