INSTEC 顯微鏡冷熱臺 HCS621GXY
INSTEC 顯微鏡高溫熱臺 HS1500G
INSTEC 半導體冷熱臺 無耗材 TS102GXY TS102VXY
INSTEC 微型探針冷熱臺 HCP421V-PM
INSTEC 微型線軌探針冷熱臺 HCP421V-MP
迷你溫控探針臺，可用于 顯微鏡/光譜儀
-190℃~400℃ 可編程控溫（負溫需配液氮制冷系統）
直徑26 mm加熱區
可抽真空的腔體，亦可充入保護氣體使用
模塊化設計，可自由組合
可從溫控器或電腦軟件控制，可提供軟件SDK
SMA接頭轉BNC四探針，手動點針
獨立的四個探針，可從設備外部移動探針進行點針
| 溫度范圍 | -190℃ ~ 400℃（負溫需配液氮制冷系統） |
| 傳感器/溫控方式 | 100Ω鉑RTD / PID控制（含LVDC降噪電源） |
| 最大加熱/制冷速度 | 30℃/min |
| 最小加熱/制冷速度 | ±0.01℃/min |
| 溫度分辨率 | 0.01℃ |
| 溫度穩定性 | ±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃） |
| 軟件功能 | 可設溫控速率，可設溫控程序，可記錄溫控曲線 |
| 探針 | 默認為錸鎢材質的彎針探針 *可選其他種類探針 |
| 探針座 | 線性導軌底座結合杠桿式探針支架，移動靈活，點針力度更大，電接觸性更好 |
| 點針 | 手動點針，每個探針座都可點到樣品區上任意位置 |
| 探針接口 | 默認為SMA接頭轉BNC *可增設腔內接線柱（樣品接電引線） |
| 樣品臺面電位 | 默認為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口 |
| 非磁性改造 | 臺體可改用非磁性材質制造，用于變溫霍爾效應探針測試 |
| 適用光路 | 反射光路 *另有透射光路型號 | |
| 窗片 | 可拆卸與更替的窗片 | |
| 最小物鏡工作距離 | 8 mm *截面圖中WD | |
| 透光孔 | 臺面默認無通光孔，可增設通光孔以支持透射光路 | |
| 上蓋窗片觀察 | 窗片范圍φ27mm，最大視角±45° *截面圖中θ1 | |
| 負溫下窗片除霜 | 吹氣除霜管路 |
| 加熱區/樣品區 | 直徑26 mm |
| 樣品腔高 | 5.4 mm *樣品最大厚度由探針決定 |
| 放樣 | 打開上蓋后置入樣品再點針，關上蓋后無法移動探針 |
| 氣氛控制 | 可抽真空的腔體，亦可充入保護氣體使用 |
| 外殼冷卻 | 可通循環水，以維持外殼溫度在常溫附近 |
| 安裝方式 | 水平安裝 或 垂直安裝 |
| 臺體尺寸/重量 | 250 mm x 180 mm x 55 mm / 2400g |
配置列表
基本配置 HCP421V-MP溫控探針臺、mK2000B溫控器
可選配件 液氮制冷泵、循環水機、安裝支架、測試源表、真空系統、電化學工作站、臺面電懸空、樣品接電引線
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在日常的顯微鏡操作中體驗到更高的效率和舒適度。Visoria M材料顯微鏡適用于金屬、電子和聚合物行業以及材料科學實驗室。 使用編碼的功能、優化的光強設置及其他顯微鏡功能可以提高您的工作流程效率。此外，顯微鏡的人體工學設計讓您能更加舒適地工作，最大限度減少勞損。
在日常的顯微鏡操作中體驗到更高的效率和舒適度。Visoria P偏光顯微鏡使用偏光來研究材料和地質樣品的光學特性。 使用編碼的功能、優化的光強設置及其他顯微鏡功能可以提高您的工作流程效率。此外，顯微鏡的人體工學設計讓您能更加舒適地工作，最大限度減少勞損。
HCS621GXY專為顯微鏡/光譜儀設計。此款冷熱臺可在 -190℃ ~ 600℃ 范圍內控溫，同時允許光學觀察和樣品氣體環境控制。熱臺上蓋與底殼構成一個氣密腔，可往內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。此外冷熱臺帶有可從密封腔外移動樣品的XY樣品微分移動尺。此外另有真空腔型號HCS421VXY提供。
HS1500G高溫熱臺專為顯微鏡/光譜儀上的超高溫應用設計，可用于陶瓷、冶金、地質、高溫材料等領域?？杉友b樣品接電引線，可定制樣品區。此款高溫熱臺可在 30℃ ~ 1500℃ 范圍內控溫，同時允許光學觀察和樣品氣體環境控制。熱臺窗蓋與臺體構成一個氣密腔，且樣品區偏離視窗中心，這樣即可以充入氮氣等保護氣體，來防止樣品高溫下反應，又可以通過旋轉窗片來移開窗片上的揮發物。
TS102GXY / TS102VXY可用于顯微鏡等光學設備。冷熱臺的溫控基于帕爾貼半導體溫控片（TEC），無需液氮制冷耗材即可達到 -40℃，適合長時間實驗。冷熱臺使用25 mm x 75 mm標準載玻片，并可進行顯微鏡下樣品精密移動。 TS102GXY的熱臺上蓋與臺體構成一個氣密腔，TS102VXY的則是真空腔，腔內可以充入保護氣體或抽真空（依據不同型號），來防止樣品在負溫下結霜。
HCP421V-PM可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -190℃ ~ 400℃ 范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔，亦可內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。
HCP421V-MP可單獨使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -190℃ ~ 400℃ 范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔，亦可內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。
HCP421V-MPS Instec的真空型mini臺式探針臺系列是可從外部移動探針進行點針的桌上型探針臺，涵蓋多型號、多溫度范圍。同時允許溫控、探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個可抽真空的密封腔，亦可內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。
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滬公網安備 31011502008050號