產品概述：

ScopeX PILOT臺式鍍層測厚儀采用下照式設計，搭載先進的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術，以及高敏變焦測距裝置， 對不均勻、不規則，甚至微小件等形態的樣品，都能夠快速、精準、無損檢測，可輕松應對鍍層領域的表面處理的過程控制、產  品質量檢驗等環節中的檢測和篩檢難題，被廣泛應用于珠寶首飾、電鍍行業、汽車行業、五金衛浴、航空航天、電子半導體等  多種領域。

產品原理：

用X射線轟擊樣品，樣品受激發后產生X射線熒光。X射線通常把元素原子K層和L層的內層電子打岀原子，產生的空xue被高能量的 外層電子填補。補充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射岀來。這些輻射岀來的譜線中含有各種元素的 特征。像指紋一樣，并且獨立于原子的化學價態。輻射的強度與樣品中該元素的濃度成正比。

儀器工作原理

ScopeX  PILOT臺式鍍層測厚儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置， 從而獲得良好的空間分辨率及很強的熒光信號，通過能譜探頭及后續的數據處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產  生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實現更復雜應用的快速測量和精準分析，是對不均勻或形狀不規則的未知樣  品以及微觀物體進行元素分析的理想方法。

性能優勢：

微焦X射線裝置：測試各類極微小的樣品，即使檢測面積微 小的樣品也可輕松、精準檢測。

無損檢測：X射線熒光是無損分析過程，不留任何痕 跡，即使是對敏感性材料，其測量也是非 常安全的。

多準直器濾光片：多濾光片和多準直器可選或軟件自動切 換組合，使得儀器的多功能性得以顯著提 升，以靈活應對不同尺寸的零件。

變焦裝置：可對各種異形凹槽樣品進行檢測，凹槽深 度測量范圍可達0~30 mm。

下照式設計：從下往上測量，無需額外對焦，可輕松實 現對鍍層樣品的高效測量。

高精度手調：搭載高精度手調X-Y平臺，最gao精度可達 25μm，使微區測量更便捷。

規格參數：

元素范圍：Al(13)-Fm(100)

分析層數：5層（4層+基材）每層可分析10種元素，成分分析最多可分析25種元素

X射線管：50 W（50kV，1mA）微聚焦鎢鈀射線管（靶材可選配）

探測器：Si-Pin探測器，(可選配高靈敏度SDD探測器)

準直器：φ0.1-φ3可選，多準可選

相機：高分辨率CMOS彩色攝像頭，500萬像素

放大倍數：40x-160x

手動樣品：XY平臺移動范圍：50x50 mm

濾光片：固定初級濾光片，多濾光可選形尺寸

樣品倉尺寸：320×480×130mm（W×D×H）

外形尺寸：330×580×360mm（W×D×H）

重量：40KG

電源：AC 220V±5V 50Hz(各地區配置稍有不同)

額定功率：150W

應用領域：

緊固件、五金小零件、珠寶首飾、汽車零部件