布魯克D8 ADVANCE XRD 的主要功能包括：

• 物相分析：對(duì)材料進(jìn)行定性和定量分析，確定物相組成和含量。?

  
  

• 結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修：確定材料的晶體結(jié)構(gòu)，并進(jìn)行精細(xì)結(jié)構(gòu)分析。?

  
  

• 定量相分析：精確測(cè)量樣品中各物相的含量。?

  
  

• 微觀結(jié)構(gòu)分析：研究材料的晶粒大小、晶格畸變等微觀結(jié)構(gòu)特征。?

  
  

• 織構(gòu)分析：研究材料內(nèi)部晶粒的取向分布，了解材料的各向異性。?

  
  

• 殘余應(yīng)力分析：測(cè)量材料內(nèi)部的殘余應(yīng)力，評(píng)估材料的性能和穩(wěn)定性。?

  
  

• 掠入射衍射(GID)：用于薄膜材料的結(jié)構(gòu)分析，特別適用于表面和界面研究。?

  
  

• X射線反射分析(XRR)：用于薄膜材料的厚度、密度等參數(shù)的測(cè)量。?

  
  

• 原位測(cè)試：可以在高溫、低溫、充放電、特殊氣氛等條件下進(jìn)行原位測(cè)試，研究材料在不同條件下的結(jié)構(gòu)變化。?