塑料介質損耗檢測儀特點：優化的測試電路設計使殘值更小◆ 高頻信號采用數碼調諧器和頻率鎖定技術◆ LED 數字讀出品質因數，手動/自動量程切換◆ 自動掃描被測件諧振點，標頻單鍵設置和鎖定，大大提高測試速度作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內160MHz。1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。3 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。6 DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。7 計算機自動修正技術和測試回路優化 —使測試回路 殘余電感減至低， Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

標準配置：高配Q表 一只  試驗電極  一只 （c類）電感      一套（9只）電源線    一條說明書    一份合格證    一份保修卡    一份

塑料介質損耗檢測儀技術參數：

1.Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
頻率范圍（100kHz～10MHz）： 頻率范圍（10MHz～160MHz）：
固有誤差：≤5％±滿度值的2% 固有誤差：≤6％±滿度值的2%
工作誤差：≤7％±滿度值的2% 工作誤差：≤8％±滿度值的2%
2．電感測量范圍：4.5nH~7.9mH
3．電容測量：1~205
主電容調節范圍：18～220pF
準確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%
注：大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明
4.  信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,
CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,
5．Q合格指示預置功能:      預置范圍：5～1000。
6．B-測試儀正常工作條件
a.  環境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

介電常數測試儀關鍵詞分析

一、?核心參數?

?介電常數（ε）?
表征材料存儲電荷能力的關鍵指標，通過對比真空與介質電容器的電容值測定?。

?介質損耗（tanδ）?
反映材料在交變電場中的能量損耗程度，常與介電常數同步測量。

?Q值（品質因數）?
衡量高頻電路中能量損耗的指標，直接影響測試儀器的精度?。

?電容（C）與電感（L）?
基礎電學參數，測試儀需覆蓋寬范圍測量（如1pF~30μF電容、0.1μH~8H電感）?。

?頻率范圍?
測試頻率從10kHz到160MHz不等，高頻應用需更高頻率兼容性?。

二、?測試技術?

?高頻諧振法?
通過諧振回路測量Q值、電容及電感，適用于高頻場景（如10kHz~50MHz）?。

?Q表法?
基于串聯諧振原理，直接測量介質損耗和介電常數，符合國標GB/T 1409-2006要求?。

?微測量裝置?
采用LCD數字顯示，一鍵清零功能，提升厚度和電容測量的精度?。

?自動校準技術?
自動扣除殘余電感和測試引線誤差，減少人為干擾?。

三、?應用領域?

?電瓷、陶瓷及復合材料?
評估絕緣性能和高頻介電特性?。

?液體介質?
專用儀器支持液體材料（如油類、溶液）的介電常數測試?。

?高溫/低溫材料?
兼容高低溫環境（如介電溫譜儀），用于研究溫度對材料性能的影響?。

?壓電材料?
測定壓電元件的固有電容（CP）以計算介電常數?。

四、?儀器類型?

?阻抗分析儀?
多功能設備，支持介電常數、介質損耗、電感/電容等復合參數測量?。

?高頻Q表?
專用于高頻場景，配備數字合成信號源，頻率精度達1×10???。

?專用液體測試儀?
針對液體介質設計，量程覆蓋1~200，誤差≤2%?。

五、?關鍵功能?

?多量程測試?
支持寬范圍電容量程（如3pF~30μF）和電感測量?。

?數據直讀與處理?
液晶屏顯示Q值、頻率等參數，無需復雜計算?。

?高溫兼容性?
部分設備可適配高溫環境（如介電溫譜儀），滿足特殊材料需求?。

?高重復性與線性?
重復性誤差≤0.2%，確保測試結果穩定性?。

總結

介電常數測試儀的關鍵詞涵蓋?核心參數?（ε、tanδ、Q值）、?測試技術?（高頻諧振法、Q表法）、?應用場景?（陶瓷、液體、高溫材料）及?功能特性?（多量程、自動校準）。不同儀器（如阻抗分析儀、高頻Q表）根據需求側重不同性能指標，需結合頻率范圍、精度和材料類型綜合選擇?。

介質損耗因數（dielectric loss factor）指的是衡量介質損耗程度的參數。【依據標準】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M

功能介紹

1.自動停機：試樣破壞后，移動橫梁自動停止移動（或自動返回初始位置、

2.自動換檔：根據試驗力大小自動切換到適當的量程，以確保測量數據的準確性

3.條件模塊：試驗條件和試樣原始數據可以建立自己的標準模塊的形式存儲；方便用戶的調用和查看，節省試驗時間

4.自動變速：試驗過程的位移速度或加載速度可按預先編制、設定的程序自動完成也可手動改變

5.自動程制：根據試驗要求，用戶可方便的建立自己的試驗模板（方法、，便于二次調用，可實現試驗加載速度、應力、應變的閉環試驗控制

6.自動保存：試驗結束，試驗數據和曲線計算機自動保存，杜絕因忘記存盤而引起的數據丟失

7.測試過程：試驗過程及測量、顯示、分析等均由微機完成

8.批量試驗：對相同參數的試樣，一次設定后可順次完成一批試驗

9.試驗軟件：中文Windows用戶界面，操作簡便

10.顯示方式：數據與曲線隨試驗過程動態顯示

11.曲線遍歷：試驗完成后，可對曲線進行放大再分析，用鼠標查到試驗曲線上各點對應的數據

12.試驗報告：可根據用戶要求進行編輯打印

13.限位保護：具有程控和機械兩級限位保護

14.過載保護：當負荷超過額定值3～5%時，自動停機

15.報告顯示：自動和人工兩種模式求取各種試驗結果，自動形成報表，使數據分析過程變的簡單，便于用戶

16.添加試驗方法：用戶可跟據試驗要求，添加試驗方法

軟件說明

a.軟件系統：中英文Windows2000/XP/Win7平臺下軟件包

b.自動儲存：試驗條件、試驗結果、計算參數、標距位置自動儲存。

c.自動返回：試驗結束后，試驗機橫梁會自動返回到試驗初始位置。

d.連續試驗：一批試驗參數設定完成后，可連續進行測試。

e.多種曲線：同一圖形上可顯示多種不同的曲線：荷重--位移、荷重-時間、位移--時間、應力—應變、荷重—兩點延伸等到多種曲線。

f.曲線對比：同組試樣的曲線可在同一張圖上疊加對比。

g.報告編輯：可按用戶要求輸出不同的報告形式。

h.動態顯示：測試過程中，負荷、伸長、位移及選中的試驗曲線隨著測試的進行，實時動態顯示在主控屏幕上。

本測試裝置是由精密機械構件組成的測微設備，所以在使用和保存時要避免振動和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環境中使用和保存，不能自行拆裝，否則其工作性能就不能保證，如測試夾具受到碰撞，或者作為定期檢查，要檢測以下幾個指標：

1.    平板電容器二極片平行度不超過0.02mm。

2.    園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。

3.    保證二個測微桿0.01mm分辨率。

4.    用精密電容測量儀（±0.01pF分辨率）測量園筒電容器，電容呈線性率，從0~20mm，每隔1mm測試一點，要求符合工作特性要求。

介電常數與介質損耗的關系

一、基本定義

?介電常數（ε）?
表征材料在電場中存儲電荷的能力，數值上等于以該材料為介質的電容器電容量與真空電容器的比值?45。介電常數越大，材料的極化能力越強，存儲電荷效率越高?。

?介質損耗（tanδ）?
描述材料在交變電場中因電導損耗和極化滯后效應導致的能量損耗，通常用損耗角正切（tanδ）表示。其值越大，材料發熱越顯著?。

二、直接關系

?一般趨勢?
低介電常數的材料通常具有較小的介質損耗。因為極化程度較低的材料在電場中響應較弱，能量損耗較少?。需結合頻率、溫度等因素綜合判斷?。

?損耗機制?

?電導損耗?：由材料電導率引起，與介電常數無直接關聯?。

?極化損耗?：介電常數高的材料通常極化程度高，極化松弛可能加劇能量損耗?

三、影響因素

?電場頻率?

?低頻區?：介電常數達到峰值，極化充分，但損耗較低（極化損耗小）?。

?高頻區?：介電常數下降，極化響應滯后導化損耗顯著增加?。

?溫度?

溫時分子運動受限，極化損耗和電導損耗均較小?。

高溫下材料電導率上升（電導損耗增加），且極化松弛效應增強（極化損耗加劇）?.

四、工程應用中的影響

?高頻電路設計?
高介電常數材料會增加信號傳輸延遲，同時高頻下介質損耗可能引發信號衰減（如PCB板材需選擇低Dk和低Df材料）?。

?絕緣材料選擇?
高壓設備需兼顧介電常數和損耗：高介電常數可減小體積，但介質損耗過大會導致熱擊穿

總結

介電常數與介質損耗的關系受材料極化特性、頻率和溫度共同影響，需根據具體應用場景平衡兩者的數值。低介電常數材料通常損耗較小，但高極化材料可能因松弛效應導致損耗增加?

介電常數測試儀關鍵詞分析

一、?核心參數?

?介電常數（ε）?
表征材料存儲電荷能力的關鍵指標，通過對比真空與介質電容器的電容值測定?。

?介質損耗（tanδ）?
反映材料在交變電場中的能量損耗程度，常與介電常數同步測量。

?Q值（品質因數）?
衡量高頻電路中能量損耗的指標，直接影響測試儀器的精度?。

?電容（C）與電感（L）?
基礎電學參數，測試儀需覆蓋寬范圍測量（如1pF~30μF電容、0.1μH~8H電感）?。

?頻率范圍?
測試頻率從10kHz到160MHz不等，高頻應用需更高頻率兼容性?。

二、?測試技術?

?高頻諧振法?
通過諧振回路測量Q值、電容及電感，適用于高頻場景（如10kHz~50MHz）?。

?Q表法?
基于串聯諧振原理，直接測量介質損耗和介電常數，符合國標GB/T 1409-2006要求?。

?微測量裝置?
采用LCD數字顯示，一鍵清零功能，提升厚度和電容測量的精度?。

?自動校準技術?
自動扣除殘余電感和測試引線誤差，減少人為干擾?。

三、?應用領域?

?電瓷、陶瓷及復合材料?
評估絕緣性能和高頻介電特性?。

?液體介質?
專用儀器支持液體材料（如油類、溶液）的介電常數測試?。

?高溫/低溫材料?
兼容高低溫環境（如介電溫譜儀），用于研究溫度對材料性能的影響?。

?壓電材料?
測定壓電元件的固有電容（CP）以計算介電常數?。

四、?儀器類型?

?阻抗分析儀?
多功能設備，支持介電常數、介質損耗、電感/電容等復合參數測量?。

?高頻Q表?
專用于高頻場景，配備數字合成信號源，頻率精度達1×10???。

?專用液體測試儀?
針對液體介質設計，量程覆蓋1~200，誤差≤2%?。

五、?關鍵功能?

?多量程測試?
支持寬范圍電容量程（如3pF~30μF）和電感測量?。

?數據直讀與處理?
液晶屏顯示Q值、頻率等參數，無需復雜計算?。

?高溫兼容性?
部分設備可適配高溫環境（如介電溫譜儀），滿足特殊材料需求?。

?高重復性與線性?
重復性誤差≤0.2%，確保測試結果穩定性?。

總結

介電常數測試儀的關鍵詞涵蓋?核心參數?（ε、tanδ、Q值）、?測試技術?（高頻諧振法、Q表法）、?應用場景?（陶瓷、液體、高溫材料）及?功能特性?（多量程、自動校準）。不同儀器（如阻抗分析儀、高頻Q表）根據需求側重不同性能指標，需結合頻率范圍、精度和材料類型綜合選擇?。

介電常數測試儀高頻測試步驟如下：

測試前準備

儀器預熱：打開介電常數測試儀電源，預熱30分鐘，確保儀器穩定工作。

連接夾具與電感：把測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上，在主機電感端子上插上與測試頻率相適應的高Q值電感線圈。

樣品準備：選取圓形樣品，直徑為50.4-52mm或38.4-40mm，厚度在1-5mm之間，當材料介電常數大于6時建議材料厚度大于等于2mm，樣品應盡可能平整。

測試參數設置

清零操作：調節測試夾具的測微桿，使測試夾具的平板電容極片相接，按“ZERO”清零按鍵，將初始值設置為0。

放入樣品并測厚度：松開兩片極片，把被測樣品夾入平板電容上下極片之間，調節測微桿，直到平板電容極片夾住樣品，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值，即樣品的厚度D?。

調節電容至諧振：改變主機上的主調電容容量，旋轉主調電容旋鈕，使主機處于諧振點，即Q值達到值。

測量與數據記錄

取出樣品再調諧振：取出測試夾具中的樣品，主機失去諧振，此時調節測試夾具的測微桿，使主機再次回到諧振點，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D?。

計算介電常數：根據公式Σ＝D?/D?，計算被測樣品的介電常數。

測試后處理

關閉電源：測試完成后，關閉介電常數測試儀電源。

整理樣品和儀器：取下測試夾具中的樣品，整理好測試夾具和其他相關儀器設備，保持實驗臺整潔。

電容器紙介電常數檢測儀綜合說明

一、核心功能與技術參數

?功能特性?

可測量電容器紙的介電常數（ε）和介質損耗角正切值（tanδ），用于評估材料在高頻或工頻下的絕緣性能。

支持自動調諧、數據記錄及多頻段測量（覆蓋工頻至高頻，如10kHz-160MHz），滿足不同測試場景需求。

配備平板/圓柱形電極裝置，適應薄膜、紙張等薄型材料的精密測試。

二、應用場景

?電容器制造?

評估電容器紙的絕緣性能及高頻損耗特性，優化生產工藝。

?新能源領域?

測試鋰電池隔膜、光伏組件封裝材料的介電性能。

?科研與質檢?

高校和實驗室分析復合材料、陶瓷等新型材料的電學響應。

三、測試原理與標準

?原理?采用高頻諧振法或電容比較法，通過測量樣品放入電極前后的電容變化計算介電常數，結合Q值變化確定介質損耗。

?標準?符合 ?GB/T 1409-2006? 對絕緣材料介電性能的測量要求38。

四、選購建議

?精度與量程?優先選擇支持自動校準、多量程切換

?兼容性?需匹配電極系統（如真空加壓裝置）以適應薄層材料的穩定測試。

?智能化需求?帶自動升壓、數據導出（Excel/PDF）及抗干擾功能的儀器可提升效率

電容器紙介電常數檢測儀的定義

電容器紙介電常數檢測儀是專用于測量電容器紙等薄型絕緣材料介電常數（ε）和介質損耗角正切值（tanδ）的精密儀器，其核心功能是通過分析材料在高頻或工頻電場下的極化特性及能量損耗，評估其作為電介質時的儲能效率與絕緣性能。

核心定義與技術要點

?功能特性?

以高頻諧振法或電容比較法為基本原理，通過測量電容器紙在電極系統中的電容變化及Q值衰減，直接計算介電常數和損耗值。

支持寬頻段測試（如10kHz-160MHz），適配電容器紙在高頻電路中的應用需求。

?關鍵組件?

內置平板或圓柱形電極裝置，配備真空加壓系統（壓力0~1.0MPa），確保薄層紙張的均勻接觸與穩定測量。

?應用目標?

優化電容器紙生產工藝，驗證其在高電壓、高頻環境下的介電穩定性及絕緣可靠性。

技術原理

通過將電容器紙樣品置于電極間，對比填充介質前后的電容差異，結合振蕩電路頻率變化或Q值響應，推導出介電常數值。例如，高頻諧振法通過諧振頻率偏移量化介電性能，而電容比較法直接對比標準電容與樣品電容的差值。

標準與規范

測量過程需符合 ?GB/T 1409-2006? 標準，確保數據準確性與行業可比性

GB/T 1409-2006標準的核心內容

1. ?適用范圍?

規定了電氣絕緣材料在20Hz至1MHz頻率范圍?內（涵蓋工頻、音頻、高頻及米波波長）的電容率（介電常數）和介質損耗因數的測試方法。

適用于液體、易熔材料及固體絕緣材料（如聚四氟乙烯、電容器紙等）的介電性能檢測。

2. ?核心測試原理與方法?

?電容法?：通過測量材料的電容值，結合真空電容率（ε?）計算其相對電容率（ε?=ε/ε?）。

?介質損耗因數（tanδ）測試?：基于Q值（品質因數）衰減或諧振頻率偏移，量化材料在高頻電場中的能量損耗特性。

高頻段測試需采用?諧振法?或?電容比較法?，低頻段則通過阻抗分析實現。

3. ?技術要求與參數?

?測試設備規范?：

需使用符合標準要求的電極系統（如平板/圓柱電極），支持真空加壓（0~1.0MPa）以適配薄層材料。

儀器需滿足Q值測量范圍2~1023，頻率覆蓋1kHz~60MHz，固有誤差≤6%±滿度值的2%。

?樣品制備?：

樣品需表面平整、無污染，尺寸需適配電極裝置（如聚四氟乙烯需加工為特定厚度及形狀）。

4. ?標準沿革與關聯?

?替代關系?：替代舊版GB/T 1409-1988，引入更嚴格的測試要求和現代技術參數。

?國際對標?：修改采用IEC 60250:1969標準，確保與國際測試方法兼容。

5. ?應用領域?

用于電容器、變壓器、高頻電子元件等絕緣材料的研發與質量控制。

支持新能源材料（如鋰電池隔膜、光伏封裝材料）的介電性能評估。

GB/T 1409-2006 電容法測量電容率原理說明

一、基本原理

電容法通過測量被測材料填充電極前后的電容變化，結合真空電容率（ε?）計算材料的相對電容率（ε?=ε/ε?）。其核心步驟如下：

?電極系統構建?：使用平行板或同軸圓柱形電極裝置，確保電極接觸面無雜質且可施加均勻電場。

?真空基準測量?：在真空環境中測量電極系統的初始電容（C?），作為無介質時的參考值。

?材料填充測試?：將樣品置于電極間，測量加載材料后的電容值（C），計算電容率 ε? = C/C?。

二、關鍵步驟與技術要點

?樣品制備?

樣品需厚度均勻（如聚四氟乙烯加工為特定尺寸薄片），表面平整且無氣泡、雜質，以避免電場畸變。

對于薄層材料（如電容器紙），需通過真空加壓裝置（0~1.0MPa）確保電極與樣品緊密貼合。

?電極系統校準?

采用標準介質（如空氣或真空）進行初始電容校準，消除電極邊緣效應和寄生電容干擾。

高頻測試時使用屏蔽電極系統，減少外部電磁場干擾。

三、計算公式與誤差修正

C為樣品電容實測值，C?為真空電容基準值。

?誤差修正方法?

引入電極邊緣效應補償公式，修正因電場分布不均勻導致的測量偏差。

高頻段需考慮介質損耗（tanδ）對電容值的頻率依賴性，通過Q值測量進行動態修正。

四、適用性分析

?頻率范圍適配?電容法適用于工頻（50/60Hz）至高頻（60MHz）的寬頻段測量，但高頻段需結合諧振法提升精度。

?材料類型兼容性?可測量固體（如電容器紙、聚四氟乙烯）、液體及易熔材料，需根據材料特性選擇電極類型（如三電極系統適配低阻抗材料）。

五、標準要求與設備規范

設備需滿足頻率覆蓋1kHz~60MHz，Q值測量范圍2~1023，固有誤差≤6%±滿度值的2%。

測試報告需包含環境溫濕度、樣品厚度及測試頻率等參數，確保數據可追溯性

選擇塑料薄膜材料的介電常數和介質損耗測試儀時，需綜合考慮材料特性、測試需求、儀器性能及預算等因素。以下是關鍵選型要點：

      1. 明確測試需求  

    頻率范圍  ：  

  塑料薄膜的介電性能通常與頻率相關，需根據應用場景選擇：  

      低頻  （50Hz 1MHz）：適用于電力電子、絕緣材料。  

      高頻  （1MHz 10GHz+）：適用于高頻電路、射頻通信（如5G材料）。  

   示例 ：BOPP薄膜電容需測試1kHz 1MHz，而高頻基材可能需要GHz級測試。

    薄膜厚度  ：  

  超薄薄膜（如＜10μm）需高靈敏度電極系統，避免空氣間隙誤差。

    測試標準  ：  

  遵循ASTM D150、IEC 60250等標準，確保儀器兼容性。   

      2. 核心儀器類型  

    阻抗分析儀  （GDAT-S）：  

      優勢  ：寬頻（20Hz 120MHz）、高精度，支持多參數（εr、tanδ、Z）。  

      適用  ：研發級高頻薄膜材料分析。

    LCR表  （GDAT系列）：  

      優勢  ：低成本，適合固定頻率（如1kHz/1MHz）的產線快速檢測。  

      注意  ：需搭配專用薄膜夾具。

    諧振法儀器  （如GDAT-G諧振器）：  

      優勢  ：GHz頻段高精度，適合微波介質材料。  

      局限  ：需樣品尺寸匹配諧振器。

      3. 關鍵選型參數  

    介電常數范圍  ：  

  塑料薄膜εr通常為2 5（如PET≈3.3），但填充材料可能更高，確保儀器量程覆蓋。

    損耗因數分辨率  ：  

  低損耗薄膜（tanδ＜0.001）需儀器分辨率≤0.0001。

    電極系統  ：  

      接觸式  ：采用三明治結構（薄膜夾于平行板電極），需確保無氣泡（如ASTM D150推薦）。  

      非接觸式  ：電容邊緣場法，適合超薄或柔性薄膜。

    溫濕度控制  ：  

  若需測試環境依賴性，選配溫箱（ 40℃~150℃）和濕度模塊。

      4. 品牌與預算  

    研發  ：BQS-13（寬頻介電譜儀）。  

    工業級  :GDAT-S的LCR表。  

    性價比  ：國產儀器（北廣精儀），但需驗證高頻性能。

      5. 驗證與支持  

    校準證書  ：要求廠商提供NIST可溯源的校準報告。  

    樣品測試  ：提供薄膜樣品進行實測，驗證重復性（如±1% εr誤差）。  

    售后服務  ：關注探頭/夾具的更換成本和技術支持響應速度。

      推薦流程  

1. 確定頻率范圍（如1MHz以下選LCR表，以上選阻抗儀）。  

2. 選擇適配薄膜的夾具（如直徑≥50mm的平行板避免邊緣效應）。  

3. 對比儀器在典型薄膜（如PP、PTFE）上的測試重復性。  

4. 評估擴展功能（如多頻掃描、溫控模塊）。

通過以上步驟，匹配需求，避免因儀器過配或功能不足導致的測試偏差。