法國Phasics 公司的產品基于其波前測量專利技術,即4 波橫向剪切干涉技術。(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在增強型改進型哈特曼掩模的基礎之上,這種獨特技術將高分辨率和大動態范圍較好結合在了一起。任何應用下,其都能實現全面、簡便、快速的測量。具有如下獨特技術優勢:
高分辨率的相位圖,高分辨率可達400x300。
具有直接測量高發散光束的能力
消色差,匹配CCD整個探測范圍,用于不同波長光而無需額外校準。
應用方向:
激光束質量分析
自適應光學
光學系統測量
生物成像
熱成像,等離子體表面物理
型號 | SID4 | SID4-HR | SID4-DWIR | SID4-SWIR | SID4-NIR | SID4-UV | SID4 UV-HR |
孔徑 | 3.6 × 4.8 mm2 | 8.9 × 11.8 mm2 | 13.44 × 10.08 mm2 | 9.6 × 7.68 mm2 | 3.6 × 4.8 mm2 | 7.4 × 7.4 mm2 | 8.0 × 8.0 mm2 |
空間分辨率 | 29.6 μm | 29.6 μm | 68 μm | 120 μm | 29.6 μm | 29.6 μm | 32 μm |
采樣點/測量點 | 160 × 120 | 400 × 300 | 160 × 120 | 80 × 64 | 160 × 120 | 250 × 250 | 250 × 250 |
波長 | 400 nm ~ 1100 nm | 400 nm ~ 1100 nm | 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm | 0.9 ~ 1.7 μm | 1.5 ~ 1.6 μm | 250 ~ 450 nm | 190 ~ 400 nm |
動態范圍 | > 100 μm | > 500 μm | N/A | ~ 100 μm | > 100 μm | > 200 μm | > 200 μm |
精度 | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 10 nm RMS | > 15 nm RMS | 20 nm RMS | 10 nm |
靈敏度 | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | < 25 nm RMS | 3 nm RMS (高增益) | < 11 nm RMS | 2 nm RMS | 0.5 nm |
采樣頻率 | > 100 fps | > 30 fps | > 50 fps | 25/30/50/60 fps | 60 fps | 30 fps | 30 fps |
處理頻率 | 10 Hz (高分辨率) | 3 Hz (高分辨率) | 20 Hz | > 10 Hz (高分辨率) | 10 Hz | > 2 Hz (高分辨率) | 1 Hz |
尺寸 | 54 × 46 × 75.3 mm | 54 × 46 × 79 mm | 85 × 116 × 179 mm | 50 × 50 × 90 mm | 44 × 33 × 57.5 mm | 53 × 63 × 83 mm | 95 × 105 × 84 mm |
重量 | 250 g | 250 g | 1.6 kg | 300 g | 250 g | 450 g | 900 g |
報價:面議
已咨詢389次質譜儀
報價:面議
已咨詢596次波前分析儀
報價:面議
已咨詢296次波前分析儀
報價:面議
已咨詢349次波前分析儀
報價:面議
已咨詢534次?光學儀器組件
報價:面議
已咨詢278次波前分析儀
報價:面議
已咨詢341次波前分析儀
報價:面議
已咨詢303次波前分析儀
產品概述 Oriel Sol3A 太陽光模擬器采用單燈設計,滿足全部 3A 級性能標準,而不影響其 1 個太陽光強輸出功率。按照慣例,AAA 級的第一個字母代表光譜匹配度,第二個字母代表輻照均勻性,第三個字母代表時間穩定性。Sol3A 太陽光模擬器符合以下三個標準的 AAA 級認證:IEC 60904-9 版本 2 (2007)、JIS C 8912 和 ASTM E 927-05。 產品規格 模擬器等級 Class AAA 燈類型 Xenon 光束均勻性 ≤2% 光譜匹配等級 A (IEC 60904-9 2007) A (JIS 8904-9 2017) A (ASTM E927 - 10 2015) 時間不穩定性 ≤0.5% STI≤2.0% LTI 時間不穩定性等級 A (IEC 60904-9 2007) A (JIS 8904-9 2017) A (ASTM E927 - 10 2015) 均勻性 ≤2% 均勻性等級 A (IEC 60904-9 2007) A (JIS 8904-9 2017) A (ASTM E927 - 10 2015) 電源調整率
XJCM-11半自動太陽電池測試儀采用獨特的下打光模式,利用氙燈模擬太陽光進行測試. 此款設備可兼容測試多主柵線電池片.設備不均勻度、光譜匹配度、光強穩定度三大核心性能指標均高于國際標準2倍(IEC 60904-9 2007 ).光譜范圍從400-1100nm拓展至300-1200nm,更寬光譜的能量輸出,真實反映了組件紫外、紅外波段的響應能力.實現高效晶硅電池的全光譜測試,測試準確性大幅提高。測試脈沖寬度由10ms拓展至150ms,可解決大電容效應帶來的測試偏差,可準確測試普通晶硅、PERC、N型、HIT、CIGS等技術電池片 測試對象:適用于普通太陽晶硅組件、高效組件電性能參數的測試和結果記錄。
GIV-20A系列太陽電池組件測試儀為直射光結構,模擬真實太陽光照射條件,可根據現場環境實現側打光/上打光安裝模式,A+A+A+級光源配置;滿足300-1200nm全光譜,脈沖寬度10ms至100ms可調。 測試對象:適用于普通太陽晶硅組件(PERC、N型、IBC以及HIT等)電性能參數的測試,同時兼容MBB、半片、疊片等組件的測試。
GTS-40A太陽電池自動測試分選機,全面優于IEC60904-9的3A+指標。動態重復性Eff極值差<0.04%;支持計量級溯源對標。Z大產能4000PCS/H;碎片率<0.05%.深度集成IV-EL同工位一體測試模塊,支持大數據智能識別功能。自主開發GHW測試算法,兼顧節拍與光源壽命問題的HJT電池量產測試全面解決方案。 測試對象:適用 PERC、HJT、Topcon等多種類型高效電池,兼容156-230全尺寸規格。
全自動定量毛細管電泳儀----全新的解決方案 全自動定量毛細管電泳系統為傳統毛細管電泳技術帶來突破性變革! 自主研發自動進樣系統和液冷控制系統實現毛細管電泳技術從進樣到分離分析的全自動化,結合國外先進的閥進樣技術為傳統毛細管電泳技術的準確定量問題找到新的解決方案,使毛細管電泳技術的定性準確度和定量重復性進入新境界。 專利: 1、 閻超.全自動高精度毛細管電泳儀,PCT申請號:PCT/CN2014/000473.(已受理) 2、 閻超,姚冬,張琳.全自動高精度毛細管電泳儀,中國發明專利申請號:201410108667.3.(已受理) 3、 閻超.全自動毛細管電泳儀的液體輸送系統,中國實用新型專利申請號:ZL201420538174.9.(已授權)
儀器簡介: 安東帕Lovis 2000 M黏度計基于落球法原理 依據 DIN 53015 ISO/IS0 12058, 符合FDA CFR21 Part11的規定,符合MEBAK測量啤酒和麥汁黏度的要求。 內置高精度的帕爾貼控溫系統;不同黏度范圍的樣品,可選擇合適的測試毛細管傾角(剪切力和剪切率可變)。先進科學的設計有效提高了該黏度計的檢測精度,減少了樣品用量并節約了實驗室空間。 質量控制應用 ﹡ 食品行業 (啤酒, 麥汁, 奶液, 糖溶液) ﹡ 化工產品 (聚合溶液, 溶劑) ﹡ 制藥及化妝品行業 (浸提物, 萃出物) ﹡ 生化制品 ﹡ 清潔劑 (液體媒介,表面活性劑) ﹡ 墨水 ﹡ 血漿及制品 ﹡ 液晶
完整的高光譜成像系統 Specim IQ是一款完整的、便攜的、手持式高光譜相機,集高光譜數據采集、分析處理、結果可視化等功能特點于一體。其所需的全部組件均集成在緊湊、輕量級機身上,具備IP等級防護和全自動運行,系統自帶可充電電池和可替換的標準存儲卡。
RISE電鏡-拉曼一體化系統 SEM-Raman (RISE Microscopy) RISE電鏡-拉曼一體化系統是一款新穎的顯微鏡技術,在一個集成的顯微鏡系統中結合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術,這種獨特的組合為顯微鏡用戶對樣品進行綜合表征,提供了明顯的優勢。 掃描電子顯微鏡是一個很好的表征納米范圍內樣品表面結構的可視化技術,而共焦拉曼成像是表征樣品化學和分子組成的成熟光譜方法。RISE電鏡-拉曼一體化系統還可以同時得到樣品的2D、3D圖像,以及樣品中分子化合物組成的可視化分布結果。 引領變革 全方位拓展分析 RISE Microscopy是一款創新性的產品,是世界上第一臺真正實用化的掃描電鏡-拉曼光譜儀聯用系統。通過實現原位、快速、方便和高性能的拉曼分析,可以極大的拓展分析應用,在有機結構解析、碳結構解析、無機相鑒定、同分異構分析、結晶度分析等領域作出重大突破。 目前,RISE電鏡-拉曼一體化系統在地質、礦物晶體、高分子聚合物、醫學、生命醫藥、寶玉石鑒定等領域均有了非常豐富的應用。