-
-
DLI-500日光積分測量儀(全光譜)
- 品牌:美國Apogee
- 型號: DLI-500
- 產地:美洲 美國
- 供應商報價:面議
-
云生科技(北京)有限公司
更新時間:2023-04-14 16:23:22
-
銷售范圍售全國
入駐年限第4年
營業執照已審核
- 同類產品光照輻射測量儀(6件)
立即掃碼咨詢
聯系方式:400-822-6768
聯系我們時請說明在儀器網(m.oupniq.cn)上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
詳細介紹
用途:Apogee 的新型 DLI-500 日光積分測量儀設計用于測量 400-700 nm 的光合有效輻射 (PAR),并且在所有光源下都是準確的。如果您正在尋找在陽光和某些寬帶光源下準確的低成本選項,請參閱我們的DLI-400 型號。除了測量 PAR,DLI-500 儀還計算日光積分 (DLI) 和光周期。
DLI-500 儀有兩種不同的屏幕模式:存儲數據和實時取景數據。
在存儲數據屏幕中,它會顯示 DLI 測量值、光周期以及收集數據的日期(最多 99 天前)。實時取景數據屏幕顯示過去 2.5 秒的 PPFD 運行平均值。
技術參數:
測量重復性
小于 0.5 %
測量范圍
0 至 4000 μmol mˉ2 sˉ1
長期漂移
每年少于 2%
視野
180°
光譜測量范圍
(± 5 nm) 389 至 692
余弦響應
± 5 % 在 75? 天頂角
響應時間
2.5 秒
測量頻率
3分鐘
數據記錄容量
99 天(DLI 和光周期),10 天(30 分鐘 PPFD/ePPFD 平均值)
非線性
小于 1 %(最高 4000 μmol mˉ2 sˉ1)
存儲數據分辨率 (PPFD)
0.1 μmol mˉ2 sˉ1(≥1000時屏幕不顯示小數)
存儲數據分辨率 (DLI)
0.1 mol mˉ2 天ˉ1
存儲數據分辨率(光周期)
0.1小時
連接性
Type--C 數據傳輸的 CSV 文件
ADC 分辨率
24 位
操作環境
-40 至 70 ℃;0 至 100 % 相對濕度
電池壽命
6個月
重量
67g