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OLED 殘影測試系統(tǒng)
- 品牌：北京卓立漢光
- 貨號： ZL-ISS
- 產(chǎn)地：北京 通州區(qū)
- 供應(yīng)商報價：面議
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北京先鋒泰坦科技有限公司
更新時間：2025-06-05 13:54:53 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品顯示屏光學(xué)測試系統(tǒng)(9件)
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為您推薦
產(chǎn)品特點
- ZL-ISS 是一套卓立漢光專門針對OLED 屏幕短期殘影的表征系統(tǒng)，采用高靈敏度的快速亮度計，實現(xiàn)高效表征屏幕的殘影現(xiàn)象
詳細(xì)介紹
- 目前市面主流的OLED 屏幕手機普遍存在燒屏現(xiàn)象，眾所周知，燒屏現(xiàn)象是一個長期累積的過程，所以終端廠商普遍要求屏廠提供短期的殘影測試報告，以便能夠管控OLED 屏幕的品質(zhì)，降低燒屏現(xiàn)象；ZL-ISS 是一套卓立漢光專門針對OLED 屏幕短期殘影的表征系統(tǒng)，采用高靈敏度的快速亮度計，實現(xiàn)高效表征屏幕的殘影現(xiàn)象；主要功能? 短期殘影測試；? 亮度均勻性測試；? 屏幕長期穩(wěn)定性測試軟件界面
技術(shù)規(guī)格參數(shù)
亮度范圍
0.0001 to 100000cd/m2
亮度精度
±3%*1
像素
1900*1200
采樣速率
≥1fps*2
鏡頭
24mm,28mm,35mm,50mm
可選
工作距離
＞ 350mm
空間分辨率
0.12mm*3
PG
可支持市面主流廠商 PG
樣品ZD尺寸
190mmX110mm*3
樣品類型
手機屏 \ 模組
穩(wěn)定性
<0.5%
Pattern
客戶可自定義
Pattern
*1:A 光源條件下測試精度；*2: 曝光時間<200ms; *3: 測試條件為28mm 鏡頭，工作距離為500mm探頭穩(wěn)定性曲線
某國產(chǎn)手機屏幕短期殘影曲線
技術(shù)資料
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號