高分辨熱場發射掃描電鏡 SU3900/SU3800 SE Series

SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產品，配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統SEM產品受安裝樣品尺寸與重量的限制，通過簡單的操作即可實現數據采集。可用于鋼鐵等工業材料，汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外，SE系列包括4種型號（兩種類型，兩個等級），滿足眾多領域的測試需求。用戶可以根據實際用途（如微觀結構控制：用于改善電子元件、半導體等材料的功能和性能；異物、缺陷分析：用于提高產品品質）選擇適合的產品。

國儀量子 HEM6000高速掃描電子顯微鏡 SEM

國儀量子 SEM3300 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM

國儀量子 SEM5000 PRO 熱場發射掃描電子顯微鏡 SEM

TPX3Cam用于納秒光子時間戳的高速光學相機

1波長范圍：400 - 1000 nm 2每一像素同時檢測時間（ToA）和強度（ToT）3時間分辨率1.6 ns，有效幀速率> 500 MHz 4無損、數據驅動讀出速度高達80 Mhits / s

日立 掃描電子顯微鏡 SU5000

高性能電子光學系統 二次電子分辨率: 頂位二次電子探測器(2.0 nm at 1kV)＊ 高靈敏度: 高效PD-BSD, 超強的低加速電壓性能，低至100 V成像 大束流(>200 nA): 便于高效微區分析 性能優異 壓力可變: 具有優異的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配備高靈敏度低真空探測器(UVD)＊ 開倉室快速簡單換樣(Z大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH) 微區分析: EDS, WDS, EBSD等等

賽默飛 Phenom? ProX 臺式掃描電子顯微鏡 SEM

全自動汽車清潔度分析系統

ParticleX TC 全自動汽車清潔度分析系統 取代傳統顆粒物清潔度檢測方法，允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學成分，從而判斷出污染源。