最重要的特性：

1.通過高水平的SEM和EDX硬件集成實現了快速、完全自動化的數據采集；

2. 基于MIRA SEM平臺；

3. 新設計的樣品臺集成了BSE/EDX校正標準和法拉第杯；

4. 根據客戶的需求更改樣品的尺寸；

5.最多集成4個EDX探測器確保系統的性能*高；

6.新的Peltier冷卻型EDX探測器確保熱穩定性；

7. 改進的方法使數據分析既快又可靠；

8. 根據樣品的每個部分可調整掃描和EDX分析的時間；

9. 離線數據處理；

10.各種各樣的數據分析模塊；

11. 可自定義的分類規則；

12.可定制的解決方案。

TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。

TIMA的應用范圍很寬，包括礦石性質、工藝優化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨特技術是基于一個完全集成的EDX系統執行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術提供了前所未有的數據采集速度，進而得到快速、準確和可靠的結果。

TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發射的穩定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統提供高真空模式為標準，低真空模式為選配。

大樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時容納7塊直徑最大為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒（BSE信號校準）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統性能檢查）。標準校準的元素可以根據客戶要求定制。

配件：

二次電子探頭

背散射電子探頭

探針電流測量

壓差式防碰撞報警裝置

可觀察樣品室內部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇