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基恩士 形狀測量激光顯微系統 VK-X3000 系列
- 品牌：日本基恩士
- 型號： VK-X3000
- 產地：亞洲 日本
- 供應商報價：面議
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基恩士（中國）有限公司
更新時間：2024-05-29 18:25:08 -
銷售范圍售全國
入駐年限第3年
營業執照已審核
- 同類產品粗糙度測量 / 激光顯微鏡(18件)
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產品特點
- 一臺即可測量納米/ 微米/ 毫米
一臺即可了解希望獲取的信息
Z高分辨率0.01 nm 詳細介紹
產品介紹：
搭載白光干涉功能
納米/微米/毫米一臺即可完成測量超越激光顯微鏡的限制，以三重掃描方式應對
一臺即可測量納米/ 微米/ 毫米
一臺即可了解希望獲取的信息
最 高分辨率0.01 nm
采用了三重掃描方式，運用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，高倍率和低倍率，平面、凹凸表面的細微粗糙度，以及鏡面體，透明體等。VK擁有應對多種樣品的測量能力（從 1 nm 到 50 mm），納米/微米/毫米一臺完成測量。
產品特性
Basic Characteristics
觀察
從光學顯微鏡到SEM領域一臺設備涵蓋
42 至 28800 倍
無需對焦
適用于多種樣品
測量
非接觸瞬間掃描形狀
不會損傷目標物
納米級別也可準確測量
透明體和坡度大的目標物也可測量
分析
希望了解的表面“差異”一目了然
定量化微小形狀
輕松比較多個樣品
粗糙度分析
三重掃描方式
解決“難以測量”的難題
可根據樣品工件的材料、形狀和測量范圍，選擇激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，進行高精度測量。
最高分辨率0.01 nm
即使是納米級的微小形狀變化也能準確測量。
此外，如鏡面體、透明體等測量難度高的材料也能實現高速、高精度、大范圍的測量。連高度差較大的凹凸處
和大范圍區域也能測量
最 大掃描區域50 mm見方。
凹凸不平或手掌大小的物體也能整體掃描。
只需一臺設備，即可同時掌握整體形狀和局部形狀。精確測量高倍率和低倍率。平面和凹凸面。
適用于各種目標物的測量能力
滬公網安備 31011502008050號