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HORIBA ICP OES Ultima Expert 電感耦合等離子體發射光譜儀
- 品牌:日本HORIBA
- 型號: Ultima Expert
- 產地:歐洲 法國
- 供應商報價:¥500000
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上海愛儀通網絡科技有限公司
更新時間:2025-08-06 09:17:41
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銷售范圍售全國
入駐年限第4年
營業執照已審核
- 同類產品等離子體質譜儀(ICP MS)(20件)
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詳細介紹
高分辨率,高靈敏度和高穩定性的電感耦合等離子體發射光譜儀
HORIBA科學儀器部擁有超過35年的高性能ICP-OES開發及生產歷史。
新款Ultima Expert擁有卓越的性能,結合各種輔助工具,可以簡化及優化分析方法。
Ultima Expert整合了Jobin Yvon高性能光學系統的優勢,在分析各類樣品和基體時均具有不凡的表現。
Ultima Expert由強大的分析軟件驅動,具有大量的分析功能,可以進行一些定制化的控制和分析。
高穩健性使Ultima Expert可以輕松地應用于:礦物、化學制造、高鹽、潤滑油(磨損金屬)、石化、冶金制造及貴金屬提煉等分析。
Ultima Expert能夠滿足您的所有應用需求!
高分辨率、高靈敏度、高穩定性ICP-OES
Ultima Expert 是目前市場上性能優良的ICP-OES,除了可用于常規樣品分析,還特別適用于高難樣品的分析
采用了高刻線全息光柵、1m焦距的高質量光學設計、特色的全等離子觀測,可提供高分辨率。即便面對一些富有挑戰性的樣品,依然具有高靈敏度及高穩定性
采用側向觀測、全等離子觀測的方式,可提供低檢測下限
采用特色的護套氣裝置,對于高固含量樣品具有高穩定性,能夠直接分析濃度30%樣品
在120~800nm范圍內提供恒定分辨率,加配遠紫外裝置,能夠提高鹵素元素的靈敏度
高光學分辨率可降低光譜干擾,在120~320nm內,分辨率< 5pm
對于一些譜線比較復雜的應用,例如稀土、地質及貴重金屬樣品,可選擇雙光柵配件,在120~450nm內,分辨率< 6pm
采用特有的高穩定裝置,即使是一些特殊應用,也能擁有好的穩定性
HDD?檢測,在一次分析中提供亞ppb到常量的分析
使用Image,動態范圍高達10個數量級
選配的0.5m或1m多道,可進行同時式分析
Image 導航軟件
Image 導航軟件由于能夠采集全譜,所以可進行半定量分析
可在全譜范圍內呈現多條譜線
通過多條譜線疊加查看,進行比較分析
自動進行定性、半定量分析
Master 軟件,優化譜線篩選
Master軟件可以優化方法建立,在提供每個元素的濃度范圍以及基體的情況下,可自動篩選出合適的譜線。S3-base數據庫由采集到的ICP實際光譜所建立,而Master集合S3-base,內含了50000條以上譜線。
自動譜線篩選
合成譜線呈現
按照靈敏度、動態范圍及干擾情況調整譜線篩選
S3-base viewer
S3-base viewer 顯示整個S3-base 數據庫,幫助識別未知樣品的發射線
提供完整的S3-base數據庫
顯示分析物的波長及其相對強度和檢測限
顯示選定波長附近的潛在發射線列表,包括等離子體固有發射線,以及它們的相對強度和檢測限。
圖形顯示被分析物的發射線和潛在的發射線,便于識別
發生器
固態,水冷式發生器,頻率為40.68MHz
矩管
可拆卸式,3mm內徑氧化鋁內管,玻璃中管以及外管
樣品導入系統
玻璃同心霧化器,玻璃旋流霧化室,3通道蠕動泵,護套氣裝置
光學系統
恒溫系統,1m焦距,2400刻線/mm光柵,使用第一級次和第二級次光;在120~320nm,分辨率< 5pm;在320~800nm,分辨率<11pm
選配件雙光柵系統
采用4320刻線/mm和2400刻線/mm雙面光柵,使用一級光。在120~450nm,分辨率<6pm;在450~800nm,分辨率<11pm
選配件
0.5m或1m的多道
檢測器
HDD系統
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