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布魯克 Dimension Icon 原子力顯微鏡

品牌：德國(guó)布魯克
型號(hào)： Dimension Icon
產(chǎn)地：歐洲德國(guó)
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：￥3000000

上海愛(ài)儀通網(wǎng)絡(luò)科技有限公司更新時(shí)間：2025-06-05 13:52:58

銷(xiāo)售范圍售全國(guó)

入駐年限第4年

營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核

同類(lèi)產(chǎn)品SPM/AFM 掃描探針原子力顯(14件)

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詳細(xì)介紹

原子力顯微鏡

Dimension Icon 原子力顯微鏡

性能優(yōu)異的大樣品臺(tái)AFM

Dimension Icon 原子力顯微鏡

Bruker Dimension? Icon? 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來(lái)了全新的應(yīng)用體驗(yàn)，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測(cè)試功能強(qiáng)大，操作簡(jiǎn)便易行。齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，廣大客戶(hù)反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求， Dimension Icon進(jìn)行了全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了前所未有的低漂移和低噪音水平。現(xiàn)在，用戶(hù)只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。

優(yōu)異性能

探針掃描式掃描器

獨(dú)特的傳感器設(shè)計(jì)，在閉環(huán)條件下，也能實(shí)現(xiàn)開(kāi)環(huán)噪聲級(jí)別的大樣品高分辨率掃描成像，熱漂移速率低于200 pm

操作簡(jiǎn)單易用

超高效率

提供簡(jiǎn)單、直觀的操作流程，以快速實(shí)現(xiàn)發(fā)表級(jí)數(shù)據(jù)的獲取。

優(yōu)秀的多功能性

多功能的配件選擇

適合廣泛的實(shí)驗(yàn)、模式、技術(shù)和半自動(dòng)測(cè)量。

特征

高性能和高分辨率

Dimension? Icon?優(yōu)秀的分辨率，與 Bruker 特有的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測(cè)量速度與質(zhì)量。Dimension? Icon?是針尖掃描技術(shù)的zui新革新，一直處于領(lǐng)先地位。該系統(tǒng)配置溫度補(bǔ)償位置傳感器，實(shí)現(xiàn)了 Z 軸亞埃級(jí)和 XY 軸埃級(jí)的低噪音水平，將這個(gè)性能應(yīng)用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺(tái)系統(tǒng)上，效果甚至超過(guò)高分辨率原子力顯微鏡的開(kāi)環(huán)噪音水平。XYZ 閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計(jì)使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，圖像質(zhì)量也不會(huì)被損壞，實(shí)現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。配置Bruker 的PeakForce?技術(shù)，Dimension Icon可實(shí)現(xiàn)智能獲取高分辨圖像。

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卓越表現(xiàn)

Dimension Icon原子力顯微鏡已成為研究領(lǐng)域受歡迎的原子力顯微鏡型號(hào)之一，使用Dimension Icon發(fā)表文章的數(shù)目遠(yuǎn)比其他大樣品臺(tái)AFM要多。Dimension Icon 在原有的操作平臺(tái)上引入zui新技術(shù)，展現(xiàn)出更高的性能和更快的測(cè)量速度。其軟件直觀的工作流程，使其操作過(guò)程比以往先進(jìn)的AFM 技術(shù)更加簡(jiǎn)便。Dimension Icon用戶(hù)無(wú)需像以前一樣，通常需要幾小時(shí)的專(zhuān)業(yè)參數(shù)調(diào)整，即可立即獲得高質(zhì)量的測(cè)量結(jié)果。Dimension Icon 的每個(gè)方面，從完全開(kāi)放式針尖樣品空間，到軟件參數(shù)預(yù)設(shè)置，都經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)以求達(dá)到無(wú)障礙操作和驚人的AFM 易用性。

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靈活的AFM平臺(tái)

Dimension Icon 展現(xiàn)出了的卓越的性能，穩(wěn)定性和靈活性，幾乎可以實(shí)現(xiàn)以前只有在特制系統(tǒng)中才能完成的所有測(cè)量。利用開(kāi)放式平臺(tái)，大型或多元樣品支架和許多簡(jiǎn)單易用的性能，把AFM 的強(qiáng)大功能完全展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM成像和納米操作設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。

Dimension Icon 提供對(duì)性能沒(méi)有任何影響的靈活性平臺(tái)，一個(gè)平臺(tái)，無(wú)限可能：

開(kāi)放的平臺(tái)，能整合其他技術(shù)
開(kāi)放的軟件和硬件，能輕松定制您的研究應(yīng)用 - "如果它不存在，就發(fā)明它"
電池、有機(jī)太陽(yáng)能等研究的完整解決方案

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AFM 模式

用AFM拓展您的應(yīng)用

憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項(xiàng)研究提供適用的 AFM 技術(shù)。

基于核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套 AFM測(cè)試模式，允許用戶(hù)探測(cè)樣品的電學(xué)、磁性等豐富性能。布魯克的全新的峰值力輕敲技術(shù)作為一種新的核心成像模式，已被應(yīng)用到多種測(cè)量模式中，能同時(shí)提供形貌、電學(xué)和力學(xué)性能數(shù)據(jù)。