安捷倫Agilent4287A LCR測(cè)試儀

Agilent 4287A射頻LCR測(cè)試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。

與反射測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。

Agilent 4287A射頻LCR測(cè)試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè),

主要技術(shù)資料·儀器指標(biāo):1MHz～3GHz，以100KHz分檔,阻抗測(cè)量范圍寬，從200mΩ到3KΩ

在低測(cè)度信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性,基本精度為1%高速測(cè)量9ms,Agilent4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供，

可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行測(cè)量。

生產(chǎn)、質(zhì)量可靠,安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量速度非常快。此外，在小測(cè)試電流(100mA)處優(yōu)良的

測(cè)試重復(fù)性還可以提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程非常短。系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單

測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比,

試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行測(cè)量.

技術(shù)指標(biāo)測(cè)量參數(shù) Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ測(cè)量電路形式：串聯(lián)和并聯(lián)工作頻率：1 MHz～3 GHz頻率分辨率：10 kHz

信號(hào)源特性：振蕩器電平：5mVrms～0.25Vrms(輸出端開(kāi)路)電平顯示單位：V，I，dBm,

生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠,4287A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非?？?。此外，

在小測(cè)試電流(100μA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程非常短。

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