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緊湊型正置寬場光致發光顯微鏡
- 品牌:德國PicoQuant
- 型號: FluoMic
- 產地:歐洲 德國
- 供應商報價:面議
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武漢東隆科技有限公司
更新時間:2025-08-04 13:52:00
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銷售范圍售全國
入駐年限第6年
營業執照已審核
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產品特點
- 在許多情況下,要對半導體或太陽能電池等材料進行表征,需要以空間分辨率測量它們在各個點的光物理特性。根據樣品的不同,除了在不同點進行測量外,在大面積樣品區域進行掃描通常也很有意義。
詳細介紹
在許多情況下,要對半導體或太陽能電池等材料進行表征,需要以空間分辨率測量它們在各個點的光物理特性。根據樣品的不同,除了在不同點進行測量外,在大面積樣品區域進行掃描通常也很有意義。FluoMic 提供了一種快速、簡便、可靠的方法來測量穩態(從紫外到近紅外)和時間分辨(從 ps 到 ms)發光,空間分辨率低至2 μm。
由于采用了預對準光纖,脈沖和連續波激光光源可用于激發顯微鏡下的樣品。結合 FlexWave 波長選擇單元和 SymPhoTime 64 軟件,FluoMic 可以從小面積測量穩態光致發光光譜以及波長選擇衰減,甚至時間分辨發射光譜 (TRES)。
它可與各種顯微鏡(如奧林巴斯 BX43、BX53(-P)、BX63 甚至 BXFM)配合使用,因此在樣品和測量條件方面具有很高的靈活性。
特點:
寬場時間分辨光致發光顯微鏡
基于時間相關單光子計數 (TCSPC)技術
壽命檢測范圍從幾個ps 到幾個ms,時間分辨率為ps
激發波長可選范圍從375 nm至1060 nm
探測范圍為400 nm至1700 nm
使用EasyTau 2和SymPhoTime 64 軟件,數據采集簡單,分析功能強大
應用:
半導體晶圓測試與分析
研究太陽能電池材料和鈣鈦礦
表征LED材料和顯示器
礦物和晶體研究
分析聚合物和復合材料
參數:
顯微鏡支架a)
Olympus
BX43
BX53-P
BX63
BXFM
類型
正置,手動
正置,手動
正置,自動化
正置,手動
照明
透射
側面
落射熒光透射
側面
落射熒光透射
落射熒光落射熒光
相機a)
CMOS, 1280x1060 Pixel, vis-NIR
CMOS, 1280x1060 Pixel, vis-NIR
CMOS, 1280x1060 Pixel, vis-NIR
CMOS, 1280x1060 Pixel, vis-NIR
尺寸(基本單位) (w×d×h) b)
400 x 600 x 600 mm
400 x 600 x 600 mm
400 x 600 x 600 mm
400 x 600 x 600 mm
重量(基本單位) b)
15 kg
20 kg
25 kg
20 kg
奧林巴斯物鏡 a)
放大倍數
10x
20x
40x
100x
數值孔徑
0,40
0,40
0,65
0,90
工作距離
3.1 mm
1.2 mm
0.6 mm
1.0 mm
光斑大小(激發)
120 μm
60 μm
30 μm
12 μm
光斑大小(發射)
20 μm
10 μm
5 μm
2 μm
激發源
光源
半導體激光頭 (LDH Series)
ps激光模塊(Prima/Unico)
波長范圍
375–1060 nm
405, 450, 488, 515, 640 nm
脈沖寬度范圍
< 40–200 ps, 6000 ps@MB系列激光頭
< 80–200 ps
重復頻率
1 Hz–100 MHz
1 kHz–200 MHz
操作模式
Pulsed, CW,和burst模式
Pulsed, CW,和fast switched CW模式
探測器 a)
PMT系列
PMA-C 175
PMA-C 192
NIR-PMT 1400
光譜范圍
230–700 nm
230–920 nm
900–1400 nm
暗計數(在20°C)
< 50 cps
< 1100 cps
< 10 000 cps
TTS (FWHM)
< 180 ps
< 180 ps
< 370 ps
建議最大計數率
< 5.0 MHz
< 5.0 MHz
< 1.5 MHz
PMA Hybrid
PMA Hybrid-07
PMA Hybrid-40
PMA Hybrid-50
光譜范圍
220–850 nm
300–720 nm
< 370–920 nm
暗計數(在20°C)
< 150 cps
< 150 cps
< 600 cps
TTS (FWHM)
< 50 ps
< 120 ps
< 160 ps
建議最大計數率
< 80 MHz d)
SPAD系列
MPD
Excelitas
InGaAs MPD
光譜范圍
< 400–1000 nm
< 400–1060 nm
< 850–1700 nm
暗計數(在20°C)
< 100 cps
< 100 cps
< 400 cps
TTS (FWHM)
< 50 ps (典型值< 35 ps)
< 250 ps (典型值)
< 50 ps (典型值< 35 ps)
建議最大計數率
< 10 MHz
< 35 MHz
< 10 MHz
TCSPC電子元件
TCSPC設備
PicoHarp 330
MultiHarp 150 4P
MultiHarp 150 4N
TimeHarp 260 Pico
通道數
1 + 4 e)
1 + 4
1 + 4
1 + 2
最小時間通道寬度(分辨率)
1 ps
5 ps
80 ps
25 ps / 2.50 ns (MCS)
最大時間通道數
65 536
65 536
65 536
32 768
滿量程時間范圍
65 536 ps - 550 ms
327 ns–2.74 s
5.24 μs–22.00 s
819 ns - 170 s (MCS)
接口
USB 3.0
USB 3.0
USB 3.0
PCIe 2.0 x1
掃描儀選項(可選)
掃描器
寬范圍掃描儀
寬范圍掃描儀
物鏡掃描儀
類型
XY壓電寬范圍
XY壓電寬范圍
XYZ壓電物鏡
范圍
75 x 75 mm
25 x 25 mm
80 x 80 x 80 μm
最小步長
100 nm
75 nm
1 nm
定位精度
600 nm
300 nm
10 nm
耦合選項(可選)
類型
FlexWave
FluoTime 250
FluoTime 300
運行條件
PC要求
四核CPU > 3 GHz,RAM >= 4 GB
操作系統
Windows?10/11
電源要求
220/240 or 110/120 VAC, 50/60 Hz
顯微鏡機架
BX43:常規
BX53:常規
BX63:常規
BXFM:可選面包板
外殼
應要求提供
a) 根據要求提供
b) 不帶面包板和外殼
c) 該數據由濱松提供
d) 采用 CW 激發
e) 可升級
據我們所知,此處提供的所有信息都是可靠的。但是,我們對可能存在的不準確或遺漏不承擔任何責任。規格和外觀如有變更,恕不另行通知。
其他組件:
附加組件: 用于寬場顯微鏡的 FlexWave 波長選擇裝置
功能亮點:
從400 nm到1000 nm的光譜掃描透射率> 80%,從而實現最高靈敏度
通過光學衍射光柵實現無脈沖展寬的高時間分辨率
適用于各種應用:
材料科學:太陽能電池和光伏、LED和OLED、納米顆粒和2D材料的時間分辨和光譜分辨微觀表征
測量樣品中感興趣點的光致發光光譜
TRES成像:在定義的發射波長下測量TRPL圖像
測量波長相關反聚束
數據表中包含詳細規格。
規格:
光譜范圍:400 - 1000 nm
透射率:> 80 % 在整個光譜范圍內
最小帶寬: 1 nm
最大帶寬:80 nm
最小步長:0.1 nm
探測:直接安裝單個探測器或光纖耦合多通道探測單元
探測器類型:PMA Hybrid系列或SPAD
軟件:SymPhoTime 64
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