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賽默飛世爾透射電子顯微鏡 Talos F200X G2 TEM

品牌：賽默飛世爾
型號： Talos F200X G2 TEM
產(chǎn)地：美洲美國
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議

賽默飛電子顯微鏡更新時(shí)間：2025-05-26 10:01:35

銷售范圍售全國

入駐年限第8年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品TEM透射電鏡(13件)

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產(chǎn)品特點(diǎn)

適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準(zhǔn)確化學(xué)定量的 TEM 顯微鏡。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹：

Talos F200X G2 透射電子顯微鏡

Thermo Scientific Talos F200X STEM 是一款掃描透射電子顯微鏡，其將出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像與業(yè)界領(lǐng)先的能量色散 X 射線光譜 (EDS) 信號檢測相結(jié)合。采用構(gòu)合映射的 2D/3D 化學(xué)表征由具有獨(dú)特清潔度的 4 個(gè)柱內(nèi) SDD Super-X 探頭執(zhí)行。Talos F200X 掃描透射電子顯微鏡在所有維度下均可實(shí)現(xiàn)極快速精準(zhǔn)的 EDS 分析，以及在進(jìn)行動態(tài)顯微鏡檢查時(shí)實(shí)現(xiàn)導(dǎo)航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。Talos F200X 掃描透射電子顯微鏡還具有較低的環(huán)境敏感度；儀器外殼可調(diào)節(jié) TEM 室中空氣壓力波、氣流和細(xì)微溫度變化的影響。

STEM 成像與化學(xué)分析

Talos F200X (S)TEM 可在多維度下對納米材料進(jìn)行快速、精確的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的創(chuàng)新功能，Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半導(dǎo)體以及工業(yè)環(huán)境高級研究和分析的理想選擇。

最近對在高分辨率下進(jìn)行大面積相關(guān)性成像的需求有所增加，因?yàn)檫@使研究人員在獲得統(tǒng)計(jì)學(xué)上穩(wěn)定的數(shù)據(jù)的同時(shí)也能保留其觀測結(jié)果的背景。Thermo Scientific Maps 軟件（由 Thermo Scientific Velox 軟件啟用）自動采集樣品的一系列圖像，并將它們拼接在一起以形成一幅大尺寸最終圖像。甚至可以在無人值守的情況下進(jìn)行圖像采集。 APW（自動化顆粒工作流程）包具有本節(jié)所述的所有優(yōu)點(diǎn)，并利用 Thermo Scientific Avizo2D軟件在專用處理 PC 上添加了獨(dú)特的處理功能。您可以自動獲取大小、面積、周長、形狀、因子、接觸點(diǎn)等納米顆粒參數(shù)。全自動且無人值守軟件包可使您全天候使用 Talos F200X (S)TEM ，獲得更好的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)并顯著改善可重復(fù)性（因?yàn)椴淮嬖诓僮鲉T偏差）。

Align Genie 自動化軟件減輕了新手操作員的學(xué)習(xí)負(fù)擔(dān)，減少了多用戶環(huán)境中的緊張氣氛，并為經(jīng)驗(yàn)豐富的操作員縮短了數(shù)據(jù)獲得周期。

Talos F200X G2 透射電子顯微鏡功能

可搭配眾多高分辨率場發(fā)射槍 (FEG)

選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發(fā)射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將極佳 (S)/TEM 成像及極佳能量分辨率相結(jié)合。

直觀的軟件

Thermo Scientific Velox 軟件可實(shí)現(xiàn)對多模式數(shù)據(jù)的快速、輕松的采集和分析。

更短的化學(xué)成分獲得周期

快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細(xì)節(jié)，同時(shí)保持高潔凈度。

更好的圖像數(shù)據(jù)

高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測，可為高質(zhì)量圖像提供更高的對比度。

更多空間

為動態(tài)實(shí)驗(yàn)添加特定用途的原位樣品桿。

高質(zhì)量 (S)TEM 圖像和準(zhǔn)確的 EDS

通過創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中獨(dú)特的 EDS 吸收校正功能可實(shí)現(xiàn)極準(zhǔn)確的定量。

高度可重復(fù)的數(shù)據(jù)采集

所有日常 TEM 調(diào)整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點(diǎn)和旋轉(zhuǎn)中心都是自動進(jìn)行的，確保您始終從最佳成像條件開始工作。實(shí)驗(yàn)可以能夠再現(xiàn)的方式重復(fù)進(jìn)行，從而使您能夠?qū)Ｗ⒂谘芯慷莾x器操作。

提高了生產(chǎn)率

超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠(yuǎn)程操作和恒定功率物鏡，可進(jìn)行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環(huán)境的快速輕松切換。

性能數(shù)據(jù)

HRTEM 線分辨率	≤0.10 nm
STEM 分辨率	≤0.16 nm (X-FEG) ≤0.14 nm ，100 pA (X-CFEG)
Super-X EDS 系統(tǒng)	4 SDD 對稱設(shè)計(jì)、無窗、遮光板保護(hù)
電子能量損失光譜 (EELS) 能量分辨率	≤0.8 eV (X-FEG) ≤0.3 eV (X-CFEG
200 kV 下的槍亮度	1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG) 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)