這款薄膜厚度測量系統平臺是一種模塊化設計的薄膜厚度測量儀，可靈活擴展成精密的薄膜測量儀器，可在此基礎上衍生出多種基于白光反射光譜技術的薄膜厚度測試儀，比如標準吸收/透過率，反射率的測量，薄膜的測量，薄膜溫度和厚度的測量。

這個薄膜厚度測量系統由如下5個模塊組成：
核心模塊----光譜儀；
外殼模塊----各種精密精美的儀器外殼；
工作面積模塊----測量工作區域；
光纖模塊----根據不同測量任務配備各種光纖附件；
測量室-/環境罩---給測量帶去超凈工作區域。
薄膜厚度測量儀核心模塊---光譜儀
我們提供多種光譜儀類型，不同光譜范圍和光源，薄膜厚度測量儀滿足各種測量應用