粒度分布在粉體物理性質中是最基本的特性之一，它不僅左右著粉體本身的性質和活動，而且也影響著以粉體為原料的制品的質量，是一個重要的物理性質。因此，在處理粉體時，粒度分布的測量就變得極其重要。

　 　尤其是在前沿科學領域，諸如納米技術、生命科學以及環境科學領域，粒徑多在納米數量級，對于儀器的檢測下限要求很高。島津激光衍射式粒度分布測量儀SALD-7101，可以在短時間內，通過簡單的操作完成粒度分布的測定，并且分辨率高、精度高、重復性好。

　 　另外，通過安裝在Windows操作系統下的軟件，可以實現統計處理、時間系統處理、實時監控、三維顯示等多種的數據處理功能。

　　測定范圍：0.010~300um。目前世界上所有激光粒度儀廠家產品中檢測下限zuidi！

特點：

• 主機（測量部）
  
  >>使用單一光學系統無斷點覆蓋0.010-300μm 粒徑范圍
  符合JIS規格的單一光源覆蓋了0.010-300μm的寬廣的粒子徑范圍。因此在全程測量范圍內，不存在粒度分布數據的不連貫和不匹配，實現完全無斷點的寬廣范圍。

  >>采用紫色半導體激光
  由于采用了的紫色半導體激光，可測量的粒子范圍可達數十納米領域。另外，以往使用紅色激光作為光源的粒度分布測量裝置，由于光吸收導致的藍色系粒子很難正確測量的問題，也迎刃而解。

  >>采用適應藍紫色激光的高靈敏度受光元素
  光傳感器應用最高水準的半導體制造技術制成。除76元素的前方散射光傳感器（Wing傳感器）外，附加1元素的側方散射光傳感器和4元素的后方散射光傳感器。通過這81元素的光傳感器可以準確地捕捉光強度分布模式，從而對范圍寬廣的粒子徑實現高分辨率高精度地粒度分布測量。全部這些元素，均采用了zuixin工藝制造的、適應藍紫色激光的高靈敏度受光元素。

  >>采用SLIT光學系統，用單一檢出面可連續捕捉最大達60度寬角度前方散射光
  采用了SLIT（Scattered Light Intensity Trace,散射光強度追蹤）光學系統。以往的SALD系列或其他公司的制品，可連續檢出前方散射光的范圍最大只可到35度左右。SALD-7101采用了基于高度散射光強度追蹤技術的SLIT光學系統，打破了一般常識，可用單一檢出面連續捕捉最大達60度寬角度的前方散射光，實現了微粒子領域的高分辨率。

  >>能夠連續測定反應過程中粒子的粒度大小和分布的變化，時間間隔最短可以做到1s
  市場上其他的產品都需要至少10s以上。

  >>適用于超微粒子的濕法測量專用機
  是適合于涂料、顏料，食品，飲料，醫藥品，化妝品，乳劑，精制陶瓷等微粒子、超微粒子測量的濕法專用機。

  >>力求光學系統的穩定性
  采用全方位沖擊吸收裝置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔離光學系統，使其各個部件免受外來沖擊和震動的干擾。因此幾乎不需要對光軸進行調整。

  >>樣品池摘取簡單
  采用推拉式樣品池座，方便樣品池的更換和清洗。

  >>使用壽命長且輸出功率穩定的半導體激光源
  光源采用形狀小壽命長的半導體激光。并且附加穩定輸出回路，實現激光輸出功率的穩定化。

  >>配備激光光束安全系統
  雙重激光保護對策：測量室打開時，快門自動關閉及手動關閉激光光束。

• 多功能進樣器
  
  >>內置供水泵
  多功能進樣器內置供水泵，因此可使用市場上銷售的塑料桶等直接供水。解決了供水繁瑣的問題。

  >>裝載CPU
  多功能進樣器配置了超音波分散機、攪拌器、水位傳感器和控制這些裝置的ＣＰＵ。因此，通過電腦連接控制，可進行半自動測量。

• 軟件
  
  >>具有多種功能測量/數據處理的軟件
  名為WingSALD的操作軟件適用于Windows所有操作系統,并具有統計處理，時間系統處理，三維顯示等多種數據處理功能，操作簡便。
  多種統計方法：數目、體積、表面積和長度。

  >>應用AI自動范圍判斷功能對粒度分布進行計算
  所謂AI自動范圍判斷功能是指，應用檢測出的衍射光/散射光的光強度分布數據，先進行大致的粒度分布范圍判斷，再根據所得范圍選擇最適合的計算條件，進行精密的粒度分布計算。這樣，即使事前無任何樣品相關信息，也可準確地捕捉到從窄到寬的粒度分布形態。

  >>附加自我診斷功能、保養容易
  編入了強大的自我診斷功能。可以檢查裝置的動作狀況，使維護變得容易。

  >>裝備操作日志（Operation Log）功能
  操作日志（Operation Log）功能，使所有的測量數據中包含了裝置的使用狀況、樣品池的污染狀況等細節信息，因此可以向前追溯，驗證以往測量數據的正確性。通常狀態下不顯示，但電源打開時刻、空白測量完成時刻、空白測量數據及該時間下光軸的位置等這些與裝置的操作和使用狀態有關的數據都將被作為文本數據添加到所有的測量數據中。