產品簡介
采用FBRM 技術的 ParticleTrack G600B 是直接插入到實驗室反應器和某些生產過程中的多用途探頭式儀器,以便在全工藝過程濃度下實時追蹤顆粒和液滴粒徑及粒數變化。 隨著實驗條件的變化,持續監測顆粒、顆粒結構和液滴為科學家提供足夠證據以獲得具有所需屬性的一致顆粒。
顆粒粒徑與粒數直接影響多相工藝中的性能,包括結晶、乳化和絮凝。 通過實時監測顆粒粒徑與粒數,科學家能夠使用基于證據的方法自信地了解、優化和放大實驗過程。
在為離線分析進行采樣和制備時,顆粒可能發生變化。 通過追蹤過程中自然存在的顆粒的粒徑與粒數的變化,科學家能夠安全且無延遲地了解工藝過程 – 甚至是在極端溫度與壓力條件下。
隨著實驗參數的變化,通過連續監測顆粒,能夠zui后確定**操作條件。 在實驗室和工廠中獲得的證據可用于確保通過高質量的過程提供適合用途的顆粒。
技術參數
測量范圍 | 0.5 – 2000μm |
溫度范圍(主機/現場裝置) | 0 至 45°C |
主機說明 | 不銹鋼 316, 防水防塵4X, IP66級 |
主機尺寸(高x寬x長) | 500 mm x 419 mm x 206 mm |
認證 | CE 認證, 1 類激光, NRTL 認證, CB Scheme 認證 |
電源要求 | 100-240VAC, 50/60Hz, 0.5A |
適用于 | 實驗室或生產 |
軟件 | iC FBRM (標準); 用于 FBRM 的 iC Process (可選) |
掃描系統 | 氣動 |
掃描速度 | 2m/s |
弦長選擇方法(CSM) | Primary(精細)和 Macro(粗糙) |
探頭直徑 | 19mm探頭 |
探頭浸濕長度 | 400mm |
探頭浸濕合金 | C22 |
窗口(W) | 藍寶石 |
標準窗口封條 | Kalrez? |
探頭/窗口選件 | 不適用 |
額定壓力(探頭) | 10 barg |
額定溫度(探頭) | -10至120°C |
導管長度 | 15m [49.2ft] |
空氣要求 | 掃描儀要求: 最小壓力: 4barg [60psig]; 流量: 28.3 NL/min [1.0SCFM] |
ParticleTrack型號 | ParticleTrack G600B |
物料號 (s) | 14000036 |
主要特點
實時研究顆粒粒徑與粒數
科學家將 ParticleTrack 探頭直接插入到過程流體中,以長時間連續監測顆粒粒徑與粒數,而無需采樣。 這種獨特的信息成為有效了解涉及晶體、顆粒和液滴的過程的基礎。
將過程與顆粒系統相關聯
借助 ParticleTrack,科學家可以定期確定過程參數如何影響顆粒系統。 可以確定過程參數對生長、結塊、破損和形狀變化等機制的影響,從而可以使用基于證據的方法對過程進行優化和改進。
創建符合目的的顆粒系統
科學家使用 ParticleTrack 來確定如何穩定得到所需粒徑和粒數的顆粒產品。 在研發、中試到投入生產的過程中,通過選擇**的過程參數,科學家可以以較低的總成本快速向市場提供高品質的顆粒產品。
監測并糾正過程偏差
ParticleTrack 用于對生產中的既定過程進行監測、故障排除和改進。 可以安全地監測難以采樣的復雜過程,確保一致地生產質量盡可能最高的顆粒。
上傳人:梅特勒托利多科技(中國)有限公司
大小:0 B
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每次均得有效結果. XPR分析天平、220 g量程、0.1 mg可讀性、7''電容彩色觸摸屏、用戶管理、靜電檢測、自動內部校正且配有LabX 一次即準的結果 集成的StatusLight?、LevelControl和GWP Approved協同作用,確保各項條件處于**狀態,獲得正確的稱量結果。 StaticDetect 由于具備StaticDetectZL功能,XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電放電。 隨時可進行審核 將XPR分析天平連接至LabX軟件,為法規遵從和數據完整性提供全面支持。
每次均得有效結果. XPR分析天平、320 g量程、0.05 mg可讀性、7''電容彩色觸摸屏、用戶管理、靜電檢測、自動內部校正且配有LabX 一次即準的結果 集成的StatusLight?、LevelControl和GWP Approved協同作用,確保各項條件處于**狀態,獲得正確的稱量結果。 StaticDetect 由于具備StaticDetectZL功能,XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電放電。 隨時可進行審核 將XPR分析天平連接至LabX軟件,為法規遵從和數據完整性提供全面支持。
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