產品功能介紹
微型拉伸臺是一種動態觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學前沿研究中發揮了重要作用。在掃描電鏡上進行材料試驗,可以充分利用掃描電鏡的景深、高空間分辨和分析功能,在微觀層面上對材料的力學性能進行動態研究。
馳希科技MTS系列微型拉伸臺可以為很多材料做拉伸測試,如金屬材料,高分子材料,陶瓷材料等。通過掃描電鏡對微觀結構的形態變化進行原位成像,從而深入理解形態變化的原因并對變化時刻進行成像。結合對動態實驗的信息可以克服對傳統的應力/應變數據解釋的不確定因素。針對拉伸、擠壓和彎曲、蠕變和疲勞測試,我們提供很多款裝置,負載范圍從0.5N到45000N。
品牌介紹
馳希科技公司是一家從事科學儀器、自動化設備、檢測設備及其相關計算機軟硬件的研發、生產、銷售和服務的綜合型企業,致力于為客戶提供全面完整的產品解決方案,并可為客戶提供產品訂制服務。公司具有“MTS系列微型拉伸臺”、“CRS系列接觸電阻自動測試分析系統”、“CES系列觸點材料電性能模擬試驗系統”、“開關繼電器綜合參數測試系統”、“材料微動磨損特性試驗系統”、“高校教學儀器”等多種類型的實用產品。產品相繼應用于材料科學、生命科學、電子學、能源科學等領域, 客戶范圍涵蓋科研院所、高校、各類檢測機構及大型工業企業實驗室,贏得了較為廣泛的認同。
產品主要應用領域
1、金屬及鍍層:用于研究晶粒變化、鍍層結合情況、高溫形變及松弛機理、晶粒旋轉及織構變化。
2、復合材料:用于研究材料韌性及強度。
3、纖維:研究材料強度。
4、聚合物:用于研究塑性流動及失效機制。
5、脆性材料:研究微小裂縫的起源及鈍化現象。
6、地質學:研究巖石的熱壓縮實驗及冰巖芯的冷變形機制。
產品主要技術特點
1、載荷范圍max:450N、4500N、9000N和45000N;
2、 可更換的稱量傳感器量程小到0.5N;
3、 每個脈沖分辨率范圍從1.22nm~5um可調;
4、 拉伸速率min可達1um/s;
5、 動態測試臺,在掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡、光學顯微鏡系統的內外都能操作;
6、 可選3點和4點水平彎曲附件;
7、 EBSD樣品專用附件;
8、 加熱和水冷臺上配備的定制鉗口;
9、 簡單的軟件用戶界面提供了實時應力應變曲線,結合靈活的閥值可以進行復雜的實驗,包括循環負載;
10、支持同步圖像和數據采集,可以通過應力應變對樣品變化過程進行細節分析。
產品的主要技術指標
型號 | MTS 450 | MTS 4500 | MTS 4500 EBSD | MTS 9000 | MTS 9000 EBSD |
載荷max(N) | 450 | 4500 | 4500 | 9000 | 9000 |
外形尺寸L×W×H(mm) | 169×114×38 | 173×120×49 | 165×125×59 | 204×130×72 | 207×130×72 |
重量(kg) | 1 | 1.5 | 1.5 | 2.2 | 2.2 |
樣品尺寸maxL×W×H(mm) | 71.5×10×1 | 73×10×2.5 | 53×10×2.5 | 88×10×3 | 64×10×2.5 |
樣品尺寸minL×W×H(mm) | 44.5×10 | 44.5×10 | 43×10 | 54×10 | 54×10 |
行程max(mm) | 27 | 28.5 | 10 | 34 | 10 |
載荷傳感器精度 | 滿量程的±0.2% | ||||
線性測量精度 | 分辨率±20nm | ||||
電源要求 | 220Vac,50Hz | ||||
試樣加熱 | 在真空中從環境溫度到750℃ | ||||
使用環境要求 | 10-43℃無冷凝 | ||||
數據采集頻率 | 可達1KHz | ||||
文件輸出格式 | .xls , .jpg | ||||
電腦配置要求 | Win XP,Vista,Win 7, Win 10,2Gb內存或更好的配置 |
報價:¥1
已咨詢1615次電鏡配件
報價:面議
已咨詢160次掃描電鏡配件
報價:¥600000
已咨詢81次掃描電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢51次In-SEM微納米力學
報價:面議
已咨詢1081次電鏡配件
報價:面議
已咨詢196次鎢燈絲掃描電鏡
報價:面議
已咨詢1694次表面成像
報價:¥600000
已咨詢68次掃描電子顯微鏡
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統SEM產品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過簡單的操作即可實現數據采集。可用于鋼鐵等工業材料,汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外,SE系列包括4種型號(兩種類型,兩個等級),滿足眾多領域的測試需求。用戶可以根據實際用途(如微觀結構控制:用于改善電子元件、半導體等材料的功能和性能;異物、缺陷分析:用于提高產品品質)選擇適合的產品。
1波長范圍:400 - 1000 nm 2每一像素同時檢測時間(ToA)和強度(ToT)3時間分辨率1.6 ns,有效幀速率> 500 MHz 4無損、數據驅動讀出速度高達80 Mhits / s
高性能電子光學系統 二次電子分辨率: 頂位二次電子探測器(2.0 nm at 1kV)* 高靈敏度: 高效PD-BSD, 超強的低加速電壓性能,低至100 V成像 大束流(>200 nA): 便于高效微區分析 性能優異 壓力可變: 具有優異的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配備高靈敏度低真空探測器(UVD)* 開倉室快速簡單換樣(Z大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH) 微區分析: EDS, WDS, EBSD等等
ParticleX TC 全自動汽車清潔度分析系統 取代傳統顆粒物清潔度檢測方法,允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學成分,從而判斷出污染源。