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是德科技G200納米壓痕測試系統(tǒng)
- 品牌:美國是德科技
- 型號: G200
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應(yīng)商報價:面議
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天津市奧辛博科技有限責(zé)任公司
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照
- 同類產(chǎn)品
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詳細(xì)介紹
經(jīng)過多年的研究與進(jìn)步,是德納米壓痕儀已經(jīng)發(fā)展成為一種測量精確、用途靈活、界面友好的測試工具,廣泛應(yīng)用于納米力學(xué)測試研究中。配有電磁驅(qū)動裝置的儀器系統(tǒng),在力學(xué)和位移操作上,可以達(dá)到的動態(tài)測量范圍。
Nano Indenter G200是一套完整的納米力學(xué)顯微探針系統(tǒng),其功能包括了納米壓痕、納米劃痕以及納米力學(xué)顯微鏡等。整個測試流程都是全自動的,這樣就提高了測試數(shù)據(jù)的可靠性和可重復(fù)性。
G200主要特性與技術(shù)指標(biāo)
符合 ISO 14577 標(biāo)準(zhǔn)的測量結(jié)果
具有動態(tài)范圍的電磁驅(qū)動器
具有靈活性,以及針對可重復(fù)使用或全新應(yīng)用的可升級能力
通過壓痕深度處的連續(xù)剛度測量,實(shí)現(xiàn)動態(tài)特性表征
實(shí)時控制、簡便的協(xié)議開發(fā)和漂移補(bǔ)償
優(yōu)勢
精確的測量結(jié)果,高度的再現(xiàn)性,完全符合IS014577國際標(biāo)準(zhǔn),GB/T 22458-2008國家標(biāo)準(zhǔn)。
載荷和位移的動態(tài)測量范圍在同類產(chǎn)品中首屈yi指
利用連續(xù)剛度測量技術(shù)對壓入深度方向的動態(tài)力學(xué)性能進(jìn)行精確的表征
應(yīng)用
半導(dǎo)體材料
薄膜材料
微機(jī)電系統(tǒng)
硬質(zhì)涂層
DLC膜
生物材料
若需要大的樣品臺,請查看G300納米壓痕測試系統(tǒng)相關(guān)信息。
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