NPFLEX 三維表面測量系統

針對大樣品設計的非接觸測試分析系統
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節
快速獲取測量數據，測試過程迅速高效

• 創新性的空間設計使得可測零件（樣品）更大、形狀更多
• 開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位

高效的三維表面信息測量

• 每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的
• 更容易獲得更多的測量數據來幫助分析

垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節

• 干涉技術實現每一個測量象素點上的亞納米級別垂直分辨率
• 工業界使用多年業已驗證的干涉技術提供具有統計意義的數據，為日漸苛刻的加工工藝提供保障

測量數據的快速獲取保證了測試的迅速和高效

• 最少的樣品準備時間和測量準備時間
• 比接觸法測量（一條線）更大的視場（一個面）獲得表面更多的數據

為客戶量身訂做最合適的儀器配置

NPFLEX在基本配置的基礎上，還有很多備選的配件和配置方案，
滿足不同客戶的測量需求：
    可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位，測量樣品的側壁、傾斜表面以及斜面邊緣，重復性好。
  獲得研發大獎的透過透明介質測量模塊(Through Transmissive Media，TTM)模塊,，結合環境測試腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可對樣品進行加熱或者冷卻，進行原位測量。
  可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側壁和底部孔洞。

納米級分辨率的三維表面信息測量
大家對很多樣品的表面性質感興趣，但是要獲得這些品性質，需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應用在航空航
天，汽車，醫療植入產業的大尺寸樣品，往往只能借助于二維接觸式檢測工具進行表征，獲得的只是一條線測量數據。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓，但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細節信息。NPFLEX測試系統采用白光干涉原理，在每一個測量點可以實現表面形貌的三維信息收集，且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數據不受探針曲率半徑的局限，高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結果，更多的測量數據來幫助分析樣品性質。
 
快速獲取數據，保證測試迅速高效
NPFLEX三維測量系統，能夠靈活高效的獲取大量測試數據。大大縮短了樣品制備時間和測量方案設置時間，操作者可以快速更換樣品，而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下，對樣品的不同表面進行測量。僅需要不到15秒的時間，就可以出色地完成一個測量點的數據采集和分析工作。自動對焦，光強調節以及其他配套軟件功能，大大節約了測試分析時間，而且可以根據操作者的實驗需求，量身定做zuiyou化的實驗方案，而不影響數據的精度和質量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準確地獲得大型零部件的高精度測量結果，提供一站式的測量解決方案。


布魯克納米表面儀器部開通優酷視頻專輯
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