儀器簡(jiǎn)介：

CS系列電化學(xué)工作站由高速M(fèi)CU、高精度FET集成電路組成，內(nèi)置DDS數(shù)字信號(hào)合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以完成恒電流（位）極化、動(dòng)電位（流）掃描、任意恒電流（位）方波，多恒電流（位）階躍、零電阻電流計(jì)、電化學(xué)噪聲（電偶電流）、電化學(xué)阻抗（EIS）等電化學(xué)測(cè)試等功能，所有測(cè)量功能均可定時(shí)自動(dòng)進(jìn)行，用于無(wú)人值守下的自動(dòng)測(cè)量。
CS系列包括多種型號(hào)，可用于較大電流和較高槽壓的電化學(xué)測(cè)量和應(yīng)用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±2A，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電流控制范圍：±2.0A；電流測(cè)量下限為10pA。
CorrTest測(cè)試軟件是CS電化學(xué)工作站的控制平臺(tái)，軟件基于Windows98/ 2000/ XP操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件設(shè)計(jì)規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實(shí)驗(yàn)方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學(xué)術(shù)語(yǔ)保持一致，全中文菜單和界面，方便用戶的教學(xué)和科研工作。
CorrTest測(cè)試軟件還具有特別針對(duì)材料和腐蝕電化學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法，包括鈍化曲線自動(dòng)或人工反掃，電化學(xué)再活化法，溶液電阻（IR降）測(cè)量和補(bǔ)償法。Corrtest分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能，可對(duì)伏安曲線進(jìn)行數(shù)字平滑、積分、微分運(yùn)算，能對(duì)極化曲線進(jìn)行電化學(xué)參數(shù)解析，包括極化電阻Rp，Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，腐蝕速率計(jì)算等，還可計(jì)算噪聲電阻Rn和功率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
CS系列電化學(xué)工作站全部采用USB2.0接口與計(jì)算機(jī)通訊，設(shè)備安裝簡(jiǎn)單，即插即用。
外形尺寸：36.5cm(寬)x30.5cm(深)x16cm(高) 儀器重量：6.5Kg

應(yīng)用領(lǐng)域:
1）研究電化學(xué)機(jī)理；物質(zhì)的定性定量分析；
2）常規(guī)電化學(xué)測(cè)試，包括電合成、電鍍和電池性能評(píng)價(jià);
3）功能和能源材料的機(jī)理和制備研究；
4）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率快速評(píng)價(jià)以及氫滲測(cè)試等；
5）金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)（包括水/混凝土等環(huán)境）中的腐蝕電化學(xué)測(cè)試。

系統(tǒng)配置:
每套工作站包括：
1) 儀器主機(jī)1臺(tái)；
2) CorrTest測(cè)試與分析軟件1套；
3) 鉑金電極、參比電極、工作電極及專用電解池各1支（套）；
4) 模擬電解池1個(gè)；
5）USB數(shù)據(jù)線1條；
6) 電極電纜線/噪聲測(cè)量專用電纜線1組；
7）電極架（選配*）
8）屏蔽箱（選配*）

技術(shù)參數(shù)：

CS350電化學(xué)工作站技術(shù)指標(biāo)
1、硬件參數(shù)指標(biāo)：
恒電位儀電位控制范圍：±10V
電流控制范圍：±2.0A
電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV
電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)
電位分辨率：10uV(>100Hz), 2uV(<10Hz)
電流分辨率：<10pA
電位上升時(shí)間：1uS(<10mA), <10uS(<2A)
輔助數(shù)據(jù)采集16位@1MHz ,20bit@1KHz
參比電極輸入阻抗：10¹² 歐姆||20pF
電流量程 2A～200nA, 共8檔
槽壓：±21V
CV 和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s
CA和CC脈沖寬度：0.0001～1000s
電位掃描時(shí)電位增量：0.1mV@1V/mS
SWV頻率：0.001～100KHz
DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s
AD數(shù)據(jù)采集：16位@1MHz，24bit @100Hz
CV的最小電位增量：0.075mV
電位和電流測(cè)量低通濾波器:8段可編程
電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置

2、電化學(xué)阻抗測(cè)量指標(biāo)：
信號(hào)發(fā)生器
頻率響應(yīng)：10uHz～1MHz
交流信號(hào)幅值：1mV~2500mV
直流偏壓：-10~+10V
DDS輸出阻抗：50歐姆
波形：正弦波，三角波，方波
正弦波失真：<1%
掃描方式：對(duì)數(shù)/線性，增加/下降
最大負(fù)載電容：1nF；最大負(fù)載電感：10uH
信號(hào)分析器
積分時(shí)間：最小值：10mS 或者一個(gè)循環(huán)的最長(zhǎng)時(shí)間
最大值：10⁶個(gè)循環(huán)或者10⁵S
測(cè)量時(shí)間延遲：0~10⁵秒
直流偏置補(bǔ)償
電位自動(dòng)補(bǔ)償范圍：-10V~+10V
電流補(bǔ)償范圍：-1A~+1A
帶寬調(diào)整(Bandwidth)：自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置，共8級(jí)可調(diào)

CorrTest測(cè)量與控制軟件主要功能
穩(wěn)態(tài)極化
開(kāi)路電位測(cè)量（OCP）
恒電位極化
恒電流極化
動(dòng)電位掃描（DPP）
動(dòng)電流掃描（DGP）
暫態(tài)極化
任意恒電位方波
任意恒電流方波
多電位階躍（VSTEP）
多電流階躍（ISTEP
計(jì)時(shí)分析
計(jì)時(shí)電位法（CP）
計(jì)時(shí)電流法（CA）
計(jì)時(shí)電量法（CC）
伏安分析
線性掃描伏安法（LSV）
循環(huán)伏安法（CV）
階梯伏安法（SCV）
差分脈沖伏安法（DPV）
常規(guī)脈沖伏安法（NPV）
方波伏安法（SWV）
交流伏安法（ACV）
常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）
二次諧波交流伏安（SHACV）
溶出伏安法
恒電位溶出伏安
線性溶出伏安
階梯溶出伏安
方波溶出伏安
交流溶出伏安
交流阻抗
電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描
電化學(xué)阻抗（EIS）～時(shí)間掃描
電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描
腐蝕測(cè)量
循環(huán)極化曲線（CPP）
線性極化曲線（LPR）

動(dòng)電位再活化法（EPR)
電化學(xué)噪聲（EN）
電偶腐蝕測(cè)量（ZRA）
氫擴(kuò)散測(cè)試（HDT）
電池測(cè)試
電池充放電測(cè)試
恒電流充放電
恒電流間歇充放電
擴(kuò)展測(cè)量
盤環(huán)電極測(cè)試
數(shù)字記錄儀
波形發(fā)生器
圓盤電機(jī)控制

主要特點(diǎn)：
1）輸出電流大，槽壓高，可用于高阻（涂料）體系的電化學(xué)測(cè)量；
2）具有較強(qiáng)的腐蝕電化學(xué)測(cè)量分析能力；
3）交流阻抗測(cè)量具有頻率掃描和時(shí)間掃描兩種模式。