塞貝克系數/電阻分析系統CTA-4 （超低溫版）

測試參數：電導率/電阻率、熱電勢率/塞貝克系數
溫度范圍：4K-300K（-269℃室溫）
低溫技術：低溫制冷機作冷源，無需消耗液氮/液氦

概 述:

本系統采用低溫制冷機作冷源，無需使用液氮/液氦，實現固體材料低溫區（4K-300K; -269℃室溫）的電學性能（電導率/電阻率，熱電勢率/塞貝克Seebeck系數）和可選熱學性能(熱導率、熱膨脹系數、比熱等)測量單元。

系統設計思想

在一個以單臺或多臺制冷機為冷源的低溫平臺上，集成全自動的電學和熱學物性測量手段。使得整個系統的低溫環境得到充分利用、極大減少了客戶購買儀器的成本、避免實驗的繁瑣和誤差。低溫平臺與測量平臺分離設計，測試樣品更換過程變得快捷、方便。

基本系統

硬件結構包括：樣品架組件、插入管組件、真空絕熱系統、制冷機、減震傳熱部件、控溫部件、干式泵、氦氣罐、測控儀表和數據采集處理系統等。基本系統平臺提供低溫環境，以及測量相關的軟硬件控制中心。

樣品室

樣品室連接在樣品架組件上，通過可拆卸方式安裝不同物性測量樣品臺。測量時樣品室處于密封的真空狀態，樣品冷卻過程是通過減震傳熱部件把制冷機冷量傳遞給樣品架組件，再通過測試平臺把冷量傳遞給樣品，使樣品降溫。樣品測量采用樣品托的方式。

溫度控制

采 用制冷機直接冷卻樣品的方式，通過減震傳熱部件既減少制冷機的輕微震動可能帶來的影響，又保證了樣品能夠快速冷卻。通過獨特的設計能夠實現連續快速jing準溫 度控制。溫控范圍：4.0K-300K連續控溫；溫度穩定性：±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K)。

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CTA系統硬件組成：

美國吉時利 Keithley（數據采集系統）

德國 W.HALDENWANGER （高溫陶瓷系統）

英國摩根Morgan（高溫特種材料）

美國通用電氣GE（光波加熱元件）

瑞典康泰爾 Kanthal （加熱元件）

美國精量電子 MEAS（傳感器）

日本IKO （精密軸承）

日本住友Sumitomo （低溫制冷機系統）

塞貝克系數測量單元

電阻率測量單元

技術參數

電阻率測量單元

塞貝克系數測量單元