高分辨率X-ray無損檢測(cè)設(shè)備

高分辨率X-ray無損檢測(cè)設(shè)備 360°旋轉(zhuǎn)檢測(cè)平臺(tái) Max傾斜70°觀測(cè) 高分辨高灰階數(shù)字平板相機(jī) 成像清晰 強(qiáng)大的軟件功能 安全防護(hù) 產(chǎn)品廣泛用于半導(dǎo)體集成電路、3C電子制造、新能源電池、汽車零配件、光伏等行業(yè)領(lǐng)域。 更多具體設(shè)備參數(shù)資料，歡迎來電索取！

日本 Nikon 尼康 正置研究級(jí)顯微鏡 Eclipse Ni-E/U

日本尼康ECLIPSE NI-E/U正置研究級(jí)顯微鏡賦予尼康新一代ECLIPSE NI-E正置研究顯微鏡革命性的模塊化設(shè)計(jì)，功能擴(kuò)展變得如此簡單也可極ng準(zhǔn)的搭配出各類定制系統(tǒng)。全新CFI平場(chǎng)復(fù)消色差LAMBDA物鏡，尼康ZL的納米晶體鍍層技術(shù)保證了更高的透過率呈現(xiàn)更加明亮更高分辨率的圖像。增加更為出色的寬場(chǎng)與具備電動(dòng)模塊的點(diǎn)狀激光照明裝置。尼康新一代研究級(jí)顯微鏡使您的研究沒有局限！

日本 Nikon 尼康 臺(tái)式電子掃描顯微鏡 JCM 6000

日本尼康JCM 6000臺(tái)式電子掃描顯微鏡可以簡單轉(zhuǎn)換高真空/低真空兩種模式;使用傾斜旋轉(zhuǎn)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)；可以從多角度觀察樣品。,簡單易懂的操作畫面和觸摸屏的使用，操作更加直觀。

日本 Nikon 尼康 LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L200N

日本NIKON ECLIPSE L200N/ L200ND 顯微鏡用于反射照明觀察，除可進(jìn)行明場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分干涉觀察之外，更可進(jìn)行UV（365NM)激發(fā)的反射熒光觀察。光源采用了預(yù)定心電動(dòng)水銀光纖光源。更換燈泡時(shí)不用進(jìn)行燈絲調(diào)心和對(duì)焦。超高的基本性能之外，更大大提升了觀察性、操作性、耐久性。可以觀察的zuida硅片直徑為200MM

NIKON X-TEK XTV160 X射線檢查

現(xiàn)在歸屬于Nikon的X-TEK，是1980年代就開始生產(chǎn)X-RAY 產(chǎn)品的老牌廠商。具備過硬的核心技術(shù)和行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。 高分辨率微焦點(diǎn) X-TEK旗下的X-RAY和CT可達(dá)到微米級(jí)的焦點(diǎn)尺寸， 分辨率可高達(dá)1微米。 低成本維護(hù)開放管技術(shù) 連續(xù)泵浦全金屬X射線管消除了密封玻璃管故障成本高 和更換時(shí)間長等問題。客戶維護(hù)成本低，通常只需更 換燈絲，只需花費(fèi)15分鐘的更換時(shí)間。

管板焊縫數(shù)字成像系統(tǒng)

美國Source1進(jìn)口一體化X射線源

美國Source1進(jìn)口一體化X射線源