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SEM掃描電鏡樣品臺
- 品牌：Agar Scientific
- 型號： EBSD專用樣品臺、JEOL截面樣品臺
- 產地：歐洲 英國
- 供應商報價：￥1
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武漢邁可諾科技有限公司
更新時間：2025-05-14 15:37:40 -
銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業執照已審核
- 同類產品電鏡耗材(5件)
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產品特點
- 【產品詳情】
SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，適用于Zeiss，FEI和TESCAN掃描電鏡。
樣品臺直徑為12.5mm、25mm和32mm，腿長均為8mm，材質為鋁和黃銅。
詳細介紹
- 70°截面釘形樣品臺，EBSD專用樣品臺、JEOL直徑25mm, 高16mm,45/90°截面樣品臺、M4樣品臺適用于Hitachi 日立掃描電鏡、SEM-TEM載網樣品臺適用于Zeiss,FEI和TESCAN掃描電鏡、凹槽釘型樣品臺Zeiss蔡司，FEI和TESCAN掃描電鏡、可夾持觀察樣品截面樣品臺、雙夾片45°/90°截面可觀察截面釘形樣品臺、圓柱形樣品臺適用于JEOL日本電子掃描電鏡
各類SEM掃描電鏡樣品臺，詳情請詢問客服！
滬公網安備 31011502008050號