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干涉測量實驗裝置
- 品牌:天津拓普
- 型號: WSY-2 型
- 產地:天津 津南區
- 供應商報價:面議
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天津市拓普儀器有限公司
更新時間:2024-01-11 08:44:46
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
- 同類產品光學導軌及光具座(6件)
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詳細介紹
儀器簡介:
該儀器主要利用導軌、支架及光學組件、如雙棱鏡分成兩束光,將兩束光相遇產生的明暗相間的干涉條紋用讀數顯微鏡測出條紋間距,再用二次成像繪測出一大、一小兩個縫像(即虛光源S1、S2)之間的距離代入公式即可。
技術參數:成套性:
導軌、二維調整架、干板架、白屏、單面可調狹縫、低壓鈉燈、雙棱鏡、牛頓環、透鏡、讀數顯微鏡、雙縫