符合標準
GB1408.1-2016《絕緣材料電氣強度試驗方法 第1部分;工頻下試驗、第2部分》
GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》
GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》
GB/T 1 2656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測定法》
ASTM D149 - 09 《固體電絕緣材料在商用電源頻率下的介電/擊穿電壓和介電強度的標準試驗方法》 DL/T 3 76-2010 復合絕緣子用硅橡膠絕緣材料通用技術(shù)條件
產(chǎn)品介紹
HCDJC系列耐壓試驗臺采用計算機控制,通過人機對話方式,完成對絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿,工頻耐壓試驗。電壓擊穿試驗儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料、薄膜復合制品、陶瓷和玻璃等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷簳r間的測試;電壓擊穿試驗儀采用計算機控制,可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速、準確的采集、處理,并可存取、顯示、打印。試耐壓試驗臺嚴格按照GB/T32192耐壓試驗儀、GB26861高壓試驗室部分國家要求生產(chǎn)制作。
原理及名詞介紹
擊穿電壓:高分子材料在一定電壓范圍內(nèi)是絕緣體,當在材料上施加的電壓逐漸增加,致使材料至薄弱點失去絕緣能力而產(chǎn)生電弧,材料的絕緣性能被破壞。此時的至大電壓值稱為該絕緣材料的擊穿電壓。絕緣材料的厚度影響擊穿電壓值。材料越厚擊穿電壓越高,但一般不成正比。
介電強度:我們把絕緣材料擊穿電壓和此時材料的厚度比稱為介電強度。即試樣擊穿時,單位厚度承受的擊穿電壓值,單位為kv/mm或Mv/m。有時也稱為電氣強度或擊穿強度。通常介電強度越高,材料的絕緣質(zhì)量越好。介電強度是表征了材料所能承受的至大電場強度,是高聚物絕緣材料的一項重要指標。
耐壓電壓:在規(guī)定的試驗條件下,對試樣施加規(guī)定的電壓及時間,試樣不被擊穿所能承受的至高電壓。
塑料的電擊穿機理:介電擊穿機理可分為電擊穿、熱擊穿、化學擊穿、放電擊穿等,往往是多種機理綜合發(fā)生。通常把不隨溫度變化的擊穿稱為電擊穿,把隨溫度變化的擊穿稱為熱擊穿。熱擊穿的外部表現(xiàn)是介電強度隨溫度升高而迅速下降,與施加電壓作用的長短有關(guān);與電場畸變及周圍介質(zhì)的電性能關(guān)系不大;擊穿點多發(fā)生在電極內(nèi)部。介質(zhì)在電場中產(chǎn)生的熱量大于它能散發(fā)的熱量.使其內(nèi)部溫度不斷升高。溫度升高導致其電阻下降,流經(jīng)試樣電流增大.產(chǎn)生的熱量更多,如此循環(huán)不已,致使介質(zhì)轉(zhuǎn)變?yōu)榱硪环N聚集態(tài),失去耐電壓能力,材料被破壞。電擊穿的特點是介電強度與周圍介質(zhì)的電性能有關(guān);擊穿點常常出現(xiàn)在電極邊緣其至電極以外。
介電強度測試的影響因素:電壓波形及電壓作用時間影響。材料在電場作用下,初始時單位時間內(nèi)材料內(nèi)部產(chǎn)生的熱量大于介質(zhì)散發(fā)出去的熱量,進而介質(zhì)溫度升高,溫度的升高是一個由快轉(zhuǎn)慢的,若升壓速度較慢末后發(fā)生材料擊穿熱擊穿的成分較大。作用時間的影響多因熱量積累而使擊穿電壓值隨電壓作用時間增加而下降,處于熱擊穿形式的試樣,基本上隨升壓速度的提高擊穿強度也增大。因此,一般規(guī)定試樣擊穿電壓低于20kv時升壓速度為1.0kv/s;大于或等于20kv時升壓速度為2.0kv/s。
溫度的影響:溫度的增加普遍介電強度降低。
試樣厚度對介電強度的影響:試樣厚度與介電強度不成線性關(guān)系,通常同種材料在不同厚度下測得的介電強度是不同的,較厚的試樣測得的介電強度略低些。
濕度影響:因水分浸入材料而導致其電阻降低,必然降低擊穿電壓值。
電極倒角的影響:電極邊緣處電場強度遠遠高于內(nèi)部,但邊緣效應極難消除。為避免電極邊緣成一直角,需采用一定倒角r 。國家標準中規(guī)定r=2.50mm。
媒質(zhì)電性能影響:高壓擊穿試驗往往把樣品放在一定媒質(zhì)(如變壓器油)中.其目的為縮小試樣尺寸防止飛弧。但媒質(zhì)本身的電性能對屬于電擊穿為主的材料有明顯影響,而以熱擊穿為主的材料影響極小.故標準中對要求油的擊穿電壓 VB>=25kv/2.5mm。
儀器配置
1、高壓變壓器:主機控制柜、試驗變壓器
3、試驗電極
4、聯(lián)想商用電腦
5、測試線
6、惠普打印機
7、接地線
8、試驗油盒
9、說明書\保修卡
10、放電裝置 絕緣腳墊
11、安全標識
儀器優(yōu)勢
1、TVS瞬間YZ防護技術(shù)
電壓擊穿試驗儀大都采用的光耦隔離方式,但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護起不到任何作用。華測獨立開發(fā)的TVS瞬間YZ防護技術(shù),將起到對控制系統(tǒng)的穩(wěn)定防護。
2、多級循環(huán)電壓采集技術(shù)
材料擊穿后,瞬間放電速度約為光速的1/5~1/3,國際通用的方法為壓降法進行采集擊穿電壓。即變壓器的次級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。
3、雙系統(tǒng)技術(shù)及隔離技術(shù)
采用雙系統(tǒng)技術(shù)應用于電/擊穿儀器,華測生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過壓、過流保護系統(tǒng),它的雙系統(tǒng)互鎖機制,當任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷高壓。將起到對設(shè)備及試驗人員的系統(tǒng)防護。
軟件功能
●操作系統(tǒng):支持XP,win7,win8系統(tǒng),操作人性化;
●實時監(jiān)測:在實驗過程中可以動態(tài)顯示試驗曲線;
●數(shù)據(jù)導出:試驗結(jié)果方便導出。
●實驗報告:自定義報告名稱,并對實驗報告進行打印;
●試驗方式:直流試驗和交流試驗、進行選擇;
●試驗方法:擊穿電壓、耐壓試驗、階梯升壓等多種選擇;
●參數(shù)設(shè)置:可以根據(jù)不同的試驗方式及試驗方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值;
●校準功能:可針對設(shè)備進行校準設(shè)置;
●支持標準:支持國標及美國標準;
●報警功能:軟件具備電壓、電流報警功能。
報價:面議
已咨詢1005次耐電弧試驗儀
報價:面議
已咨詢723次PCB\ 三防漆電子材料測試設(shè)備
報價:面議
已咨詢1214次電壓擊穿試驗儀
報價:¥9878
已咨詢1098次電壓擊穿試驗儀
報價:¥32000
已咨詢1066次50Kv-電壓擊穿測試儀
報價:面議
已咨詢1610次電壓擊穿試驗儀
報價:¥16000
已咨詢1300次100Kv-電壓擊穿測試儀
報價:¥38000
已咨詢46次介電擊穿強度測定儀
報價:面議
已咨詢1467次電壓擊穿試驗儀
報價:¥38000
已咨詢39次介電擊穿強度測定儀
表面電位衰減測試系統(tǒng)(評估介質(zhì)材料表面電荷動態(tài)衰減行為及陷阱能級分布) 表面電位衰減測試系統(tǒng)是一款面向材料電學特性研究的高精度、多功能分析設(shè)備,專為評估介質(zhì)材料表面電荷動態(tài)衰減行為及陷阱能級分布而設(shè)計
織物摩擦帶電電荷量測試儀,主要用于測試防靜電服的帶電電荷量,設(shè)備主要由法拉第筒、靜電電位計和滾筒摩擦機組成。備注:靜電電位計通常也被稱為靜電電量表主要用于顯示防靜電服及防靜電面料等紡織品的電荷量。
將防靜電服放入滾筒摩擦機后,經(jīng)過滾簡摩擦機摩擦 15min 后的防靜電服投入法拉第筒內(nèi),通過靜電電位計測量防靜電服的帶電電荷量。
HCHV-2000 是一款風冷高壓脈沖發(fā)生器。該設(shè)備針對高阻抗容性負載進行了優(yōu)化,非常適合用于驅(qū)動提取柵極和偏轉(zhuǎn)板,以實現(xiàn)飛行時間質(zhì)譜儀和加速器中粒子束的靜電調(diào)制。
測量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)(如電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)等參數(shù)值),從而評估其溫度特性。該系統(tǒng)通常具有高精度、高穩(wěn)定性和高可靠性的特點,能夠適用于各種類。
絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)是一種試驗設(shè)備,它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓,并經(jīng)過長時間的測試(1~1000小時可按需定制),觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生,并記錄電阻值的變化狀況。
絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng),評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象.
半導體封裝材料R-T測試,測試類型: R-T ,C-V, I-V,R-I,Cp-D,ε測試,搭配儀器:源表、高阻計、直流低電阻測試儀、阻抗分析儀、半導體參數(shù)分析儀。