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徠卡多功能離子減薄儀-Leica EM RES102

品牌：徠卡
型號(hào)： Leica EM RES102
產(chǎn)地：歐洲德國
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議

鏈能金相實(shí)驗(yàn)設(shè)備南京有限公司更新時(shí)間：2025-07-16 08:51:57

銷售范圍售全國

入駐年限第6年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品Leica電鏡制樣設(shè)備(12件)

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產(chǎn)品特點(diǎn)

徠卡多功能例子減薄儀Leica EM RES102，通過離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟擊，以清除樣品表面原子，從而實(shí)現(xiàn)對樣品的離子束加工。
突出特點(diǎn)：
? 對無機(jī)薄片樣品進(jìn)行離子減薄，適宜TEM透射電子顯微鏡觀察
? 對無機(jī)塊狀樣品進(jìn)行離子束拋光、離子束刻蝕，離子清洗及斜坡切割，便于SEM掃描電鏡觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息

詳細(xì)介紹

徠卡多功能離子減薄儀-Leica EM RES102概述

Leica EM RES102 通過離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對樣品進(jìn)行轟擊，以清除樣品表面原子，從而實(shí)現(xiàn)對樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為：對無機(jī)薄片樣品進(jìn)行離子減薄，使得薄片樣品可被透射電子穿過，從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察；對無機(jī)塊狀樣品進(jìn)行離子束拋光、離子束刻蝕，樣品表面離子清洗及斜坡切割，便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。

徠卡三離子減薄儀-Leica EM RES102.jpg ?

徠卡多功能離子減薄儀-Leica EM RES102性能

? 優(yōu)異性價(jià)比：一臺(tái)設(shè)備即可為TEM、SEM、LM電鏡檢測提供試樣，多種應(yīng)用功能集于一體，gao效并節(jié)約成本
? 安全：所有機(jī)械控制、樣品移動(dòng)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化，可獲得重復(fù)性制樣結(jié)果
? 分段冷卻：對溫度敏感樣品得到充分保護(hù)，在優(yōu)化條件下進(jìn)行離子研磨，保持樣品的真實(shí)樣貌
? 操作簡便：內(nèi)置應(yīng)用參數(shù)庫，幫助文件，無論是初學(xué)者還是后期維護(hù)都十分簡單

徠卡多功能離子減薄儀-Leica EM RES102技術(shù)參數(shù)

具有2把離子槍，離子束能量為0.8keV-10keV，相對位置，可分別±45°傾斜，樣品臺(tái)傾斜角度-120°至 210°，離子束加工角度0°至90°，樣品平面擺動(dòng)角度＜360°，垂直擺動(dòng)距離±5mm。實(shí)際操作參數(shù)根據(jù)具體應(yīng)用需要選擇（系統(tǒng)備有參考參數(shù)，也可自行設(shè)置參數(shù)并存儲(chǔ)）
可選配樣品臺(tái)：TEM樣品臺(tái)（Φ3.0mm或Φ2.3mm），F(xiàn)IB樣品清洗臺(tái)，SEM樣品臺(tái)，斜坡切割樣品臺(tái)（對樣品35°或90°斜坡切割）等
SEM樣品臺(tái)可容納樣品尺寸：直徑25mm，高度12mm
全無油真空系統(tǒng)，樣品室?guī)в蓄A(yù)抽室，保證樣品交換時(shí)間＜1分鐘
全電腦控制，觸摸屏操作界面，內(nèi)置視頻觀察系統(tǒng)，可實(shí)時(shí)觀察樣品處理過程