產(chǎn)品概述

HCYD高溫壓電系數(shù)測試儀采用FPGA數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率，配合聲學(xué)與振動公司B&K生產(chǎn)的激振器作為振源，基于華測公司在弱信號采集技術(shù)的優(yōu)勢，設(shè)計的一款用于高溫環(huán)境下的壓電系數(shù)測試儀器，相對傳統(tǒng)的d33測量儀測量精度更高，測量量程更寬，可靠性更高，操作更簡單。該儀器可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試。

產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 采用進(jìn)口B&K進(jìn)口激振器，更準(zhǔn)確的振動頻率；

2. 采用ADA4870 驅(qū)動技術(shù)與B&K激振器匹配，閉環(huán)實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)定的加載力；

3. 采用主流FPGA設(shè)計，實(shí)現(xiàn)30Hz-140Hz寬范圍測量；

4. 采用高阻放電荷放大器，減小測量過程中的損耗，準(zhǔn)確測量；

5. 采用直流線性加熱，減少渦流加熱噪聲；

6. 采用真空電極避免絕緣支架帶來的熱釋電電荷，引入測量系統(tǒng)。

產(chǎn)品參數(shù)

電性能參數(shù)

1. 范圍：100到10,000 pC/N,

精度Accuracy±2%±1 pC/N；負(fù)載：1.0uF

2. 高范圍：10到1000 pC/N，

精度：±2%±1 pC/N，負(fù)載：1.0uF；

3. 低范圍：1到100 pC/N,

精度：±2%±0.1 pC/N，負(fù)載: 1.0uF；

4. 范圍：d33 0到10 pC/N，

精度:±2%±0.01 pC/N，負(fù)載: 0.1uF；

儀器參數(shù)

1. 測試頻率：調(diào)節(jié)范圍30Hz到140Hz，精度：±0.1Hz

2. 測試載荷：靜態(tài)力10N，振蕩測試載荷：0.05N到0.5N可調(diào)

3. 電容測量范圍：10 pF到0.1 μF，精度：±2%±1 pF

4. 溫度范圍：RT-650℃

5. 加熱方式：PID控制（含LVDC降噪電源）

6. 溫度穩(wěn)定度：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）

7. 軟件功能：可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線

8. 試驗電壓：DC 50V- 6KV

9. 試驗電壓精度：≤2%

10. 快速放電功能：測試結(jié)束后自動放電（DCW）

11. 電壓上升時間：0.1s — 999.9s

12. 測試時間設(shè)定(DC) ：0.2s — 999.9s

13. 測試電流：DC 0-5mA

14. 電流精度：≤2%

15. 保護(hù)：過流保護(hù)（超過設(shè)置電流值10nA設(shè)備停止輸出）、過壓保護(hù)（超過設(shè)備設(shè)置輸出電壓50V后設(shè)備停止輸出）、短路保護(hù)（未放置樣品設(shè)備發(fā)生短路設(shè)備停止輸出）

16. 電流靈敏度：10nA

17. 擊穿斷電響應(yīng)：1ms

18. 電壓顯示精度：0.05KV

19. 電流顯示精度：10nA

20. 50點(diǎn)電極法測試工裝：上電極直徑25mm，倒角2.5mm，高度120mm，黃銅材料。下電極退火鋁箔下平鋪3mm厚度，邵氏硬度60-70的橡皮/硅膠。要求電極表面光滑，無劃痕。

21. 工裝尺寸：500mm*350mm*80mm

22. 設(shè)備尺寸：120 mm *280 mm *100mm

應(yīng)用領(lǐng)域

在高溫測試過程中能夠除去熱釋電的影響，廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試。