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SAM 301 超聲波掃描顯微鏡
- 品牌：德國PVA TePla
- 產地：歐洲 德國
- 供應商報價：面議
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
更新時間：2025-05-27 09:34:48 -
銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業執照已審核
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產品特點
- 德國PVA TePla 超聲波掃描顯微鏡 SAM 301, 利用材料內部組織因密度不同而對超聲波聲阻抗、超聲波吸收與反射程度產生差異的特點，從而實現對材料內部缺陷的定性分析，在半導體封裝及材料等行業中得到廣泛應用。可分辨出材料、元器件內部的裂紋、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質等；廣泛用于測試各種元器件、SMT焊接器件、IGBT器件、MEMS器件、晶圓鍵合等內部缺陷的無損檢測，是提供高分辨率且無損檢測的
詳細介紹
SAM 301
Scanning Acoustic Microscope
超聲波掃描顯微鏡
利用材料內部組織因密度不同而對超聲波聲阻抗、超聲波吸收與反射程度產生差異的特點，從而實現對材料內部缺陷的定性分析，在半導體封裝及材料等行業中得到廣泛應用。可分辨出材料、元器件內部的裂紋、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質等；廣泛用于測試各種元器件、SMT焊接器件、IGBT器件、MEMS器件、晶圓鍵合等內部缺陷的無損檢測，是提供高分辨率且無損檢測的重要手段，和X-Ray, 電鏡等為互補檢測手段。
德國 PVA TePla– SAM 301 主要技術規格
滬公網安備 31011502008050號