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2025-02-11 13:10:10掃描熱顯微鏡: 掃描熱顯微鏡是一種基于熱效應原理的高分辨率成像技術。它利用微小熱源對樣品表面進行局部加熱，并通過檢測熱擴散引起的溫度變化來繪制樣品表面的熱特性分布圖。該技術具有高靈敏度、非接觸式測量和三維成像能力等優點，適用于材料科學、生物醫學、微電子學等領域。通過掃描熱顯微鏡，可以研究樣品的熱導率、熱容、熱擴散系數等熱學性質，為材料的熱學性能評估和微納結構分析提供有力工具。

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預算155萬元華北電力大學采購掃描熱顯微鏡

華北電力大學掃描熱顯微鏡采購項目招標項目的潛在投標人應在北京明德致信咨詢有限公司官網（http://www.zbbmcc.com）獲取招標文件，并于2025年03月03日 09點30分（北京時間）前

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2025-02-11
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掃描熱顯微鏡問答

2025-01-02 12:15:11聲學掃描顯微鏡探頭怎么用: 聲學掃描顯微鏡探頭怎么用聲學掃描顯微鏡（AFM）作為一項先進的成像技術，廣泛應用于材料科學、生物醫學、半導體等領域。而其中，探頭的使用是實現精細成像的關鍵步驟之一。本文將詳細介紹聲學掃描顯微鏡探頭的使用方法，幫助科研人員更好地理解如何通過合適的操作，優化顯微鏡的性能，獲得高質量的樣品圖像與數據。 1. 聲學掃描顯微鏡探頭的基本構造聲學掃描顯微鏡的探頭通常由一個極其敏感的微小探針、彈性支架和一個電子系統組成。其主要作用是利用超聲波或其他聲學信號與樣品表面相互作用，從而捕捉物質表面的微小變化。探頭的極為細小，可以觸及單個分子級別的細節，因此精確的操作至關重要。 2. 如何正確使用聲學掃描顯微鏡探頭 2.1 設置探頭在使用聲學掃描顯微鏡之前，首先需要正確安裝探頭。根據不同的顯微鏡型號，探頭的安裝方式有所不同，通常需要根據廠商提供的操作手冊進行安裝。安裝時要確保探頭方向與樣品表面平行，并且探頭與樣品之間的距離要適中。探頭與樣品的接觸力通常較小，以避免損傷探針或樣品。 2.2 調整掃描參數在安裝好探頭之后，需要根據樣品的特點調整合適的掃描參數。包括掃描速度、分辨率、探針的振幅等。掃描速度過快可能導致圖像模糊，過慢則可能增加數據采集時間，影響實驗效率。根據樣品的硬度和表面狀態，適當調整掃描的探頭力度，以保證得到高精度的成像結果。 2.3 進行樣品掃描當探頭正確安裝并且掃描參數設置好之后，便可以開始對樣品進行掃描。在此過程中，操作人員需要保持穩定的工作環境，避免外界震動或溫度波動影響探頭的精度。探頭通過其振動與樣品的相互作用，將表面信息轉化為電信號并反饋到顯微鏡系統中，進而生成高分辨率的圖像。 2.4 數據分析與處理掃描完成后，所獲得的數據可以通過專用軟件進行處理和分析。根據圖像的需要，可能需要對數據進行去噪、增強對比度等后處理操作，以提高圖像質量并進行進一步的科學分析。此時，操作人員要特別注意軟件中各類參數的設置，確保分析結果的準確性。 3. 聲學掃描顯微鏡探頭的常見問題與解決方法在使用過程中，聲學掃描顯微鏡探頭可能會遇到一些問題，比如探頭損傷、圖像噪點過多等。常見的解決方法包括：探頭損傷：探頭尖端容易受損，尤其是在操作過程中與樣品表面發生碰撞時。避免過度施加壓力或選擇硬度較高的樣品進行掃描，可以有效延長探頭的使用壽命。圖像噪點問題：噪點過多可能是由于探頭不穩定或掃描參數設置不當導致的。可以通過調整掃描速度或使用更高質量的探頭來改善圖像質量。 4. 結語聲學掃描顯微鏡探頭的正確使用對實驗結果至關重要。只有在安裝、參數調整和掃描操作中細心把控，才能確保獲得高分辨率的成像數據，進而推動科研工作的發展。掌握這些基本操作方法，將有助于在材料科學、生物醫學等多個領域實現精確的微觀探測，為科研創新提供有力支持。

2025-05-19 11:15:18掃描探針顯微鏡用哪些激光: 掃描探針顯微鏡用哪些激光掃描探針顯微鏡（SPM）是一種高精度的表面成像與分析工具，廣泛應用于材料科學、生物學、納米技術等多個領域。為了實現高分辨率的表面成像與測量，掃描探針顯微鏡通常需要結合激光技術。不同類型的激光在掃描探針顯微鏡中的應用，可以提高圖像分辨率、增強信號強度、或者實現特定的實驗功能。本文將深入探討掃描探針顯微鏡中常用的激光類型，以及它們各自的特點和應用場景。激光在掃描探針顯微鏡中的作用掃描探針顯微鏡的工作原理是通過探針與樣品表面之間的相互作用來獲取表面信息。激光在這一過程中，通常用于提供激發信號或是增強探針的反饋信號。通過激光激發，掃描探針顯微鏡能夠高效地獲取表面形貌、物質分布等信息。在使用不同波長的激光時，顯微鏡的解析度和靈敏度可以得到相應的提升，因此選擇合適的激光源是實驗成功的關鍵之一。常用激光類型氦氖激光（HeNe激光）氦氖激光是一種常見的單色激光，具有較長的波長（通常為632.8納米），適用于表面成像及拉曼光譜等技術。其優點在于穩定性強、成本相對較低，是早期掃描探針顯微鏡的常用激光。氬離子激光（Ar+激光）氬離子激光通常具有較短的波長（如488納米和514納米），能夠提供更高的光強，適用于熒光成像、光散射等高分辨率成像應用。在掃描探針顯微鏡中，氬離子激光常用于納米尺度的表面特性分析。二氧化碳激光（CO2激光）二氧化碳激光的波長較長（約10.6微米），常用于熱力學性質的研究。在一些需要加熱或表面化學反應的掃描探針顯微鏡實驗中，CO2激光能夠提供有效的能量源，促進樣品的熱響應。半導體激光（Diode激光）半導體激光因其調節性強、體積小、成本較低而廣泛應用于掃描探針顯微鏡中。根據波長的不同，半導體激光可以為不同的實驗提供所需的光源。它們常用于光譜分析、近場光學顯微成像等高精度實驗中。激光的選擇與應用選擇合適的激光源通常取決于實驗的具體需求。波長的選擇直接影響到激發信號的效率與樣品的響應，因此不同的激光類型適用于不同的研究場景。例如，在進行生物樣品的熒光成像時，氬離子激光由于其較短的波長和高強度光源，經常被用于激發熒光信號。而在進行納米尺度的材料分析時，氦氖激光由于其穩定性和較低的功率常常被選用。激光的光束質量和功率穩定性也至關重要。掃描探針顯微鏡中的激光源需要具有良好的光束質量，以保證高精度的表面成像。穩定的功率輸出能確保實驗結果的可重復性。總結掃描探針顯微鏡作為一種高精度的納米級分析工具，其性能在很大程度上依賴于激光源的選擇。不同波長和特性的激光能夠為各種實驗提供理想的激發源，從而提高成像分辨率、增強信號強度，或實現特定的實驗目標。隨著技術的發展，激光技術在掃描探針顯微鏡中的應用將更加廣泛和多樣化，這對于推動納米技術和表面科學的研究具有重要意義。

2025-05-19 11:15:19掃描探針顯微鏡有哪幾類: 掃描探針顯微鏡（SPM）是一種在納米尺度上觀察和研究物質表面的先進儀器。通過利用探針與樣品表面相互作用，掃描探針顯微鏡可以提供極高的空間分辨率，使其在物理、化學、生命科學等多個領域都得到廣泛應用。本文將探討掃描探針顯微鏡的幾種主要類型，分析它們的工作原理、應用領域以及各自的優勢與局限。了解這些不同類型的掃描探針顯微鏡，有助于選擇適合特定研究需求的工具。一、原子力顯微鏡（AFM）原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）是掃描探針顯微鏡中為常見的一種。其工作原理是通過一根微小的探針掃描樣品表面，并測量探針與表面之間的相互作用力。這種顯微鏡能夠實現高分辨率的表面形貌成像，特別適用于樣品表面形態、機械性能以及納米尺度的力學特性分析。 AFM不僅可以在真空、空氣以及液體環境中操作，而且它的分辨率能夠達到亞納米級，廣泛應用于材料科學、納米技術以及生物學領域。在生物醫學中，AFM被用于觀察細胞表面、蛋白質及DNA分子的形態與結構。二、掃描隧道顯微鏡（STM）掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope, STM）是由物理學家吉爾伯特·諾思（Gerd Binnig）和海因茨·羅斯（Heinz Rohrer）于1981年發明的，它能夠對導電材料的表面進行原子級的成像。STM通過探針與樣品表面之間的量子隧道效應來實現表面成像。當探針接近樣品表面時，電流會發生變化，探測到的電流變化與表面原子排列密切相關，從而實現高分辨率成像。 STM的主要優點是其超高的空間分辨率，能夠達到單個原子的水平，適用于研究導電材料的電子結構、表面缺陷以及原子尺度的自組裝現象。STM只能用于導電材料的成像，對于絕緣體的研究則存在一定的限制。三、掃描近場光學顯微鏡（SNOM）掃描近場光學顯微鏡（Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM）是一種結合了光學和掃描探針顯微鏡技術的設備。與傳統的光學顯微鏡不同，SNOM能夠突破光的衍射極限，實現納米級的光學分辨率。它通過將光纖探針放置在樣品表面附近，利用近場光學效應進行成像。 SNOM具有獨特的優勢，可以在納米尺度下探測光學信息，廣泛應用于生物分子、納米光子學和表面等離子體研究。由于其能夠在不破壞樣品的前提下獲得光學信息，SNOM對于材料科學和生物醫學領域有著重要的應用價值。四、掃描熱針顯微鏡（SThM）掃描熱針顯微鏡（Scanning Thermal Probe Microscopy, SThM）是一種測量樣品表面溫度分布的掃描探針顯微鏡。它利用熱探針與樣品表面之間的溫差，來測量熱導率、局部溫度以及熱性能等信息。SThM在研究納米尺度下的熱傳導和熱管理方面具有重要的應用價值，尤其在半導體和微電子設備的熱分析中發揮著重要作用。 SThM的優勢在于其能夠以納米級別的空間分辨率研究材料的熱性質，能夠提供更為細致的熱動態分析，適用于電子、光學和材料領域。五、掃描電化學顯微鏡（SECM）掃描電化學顯微鏡（Scanning Electrochemical Microscope, SECM）結合了掃描探針顯微鏡和電化學技術，可以在納米尺度上進行電化學測量。通過探針與樣品表面間的電化學反應，SECM能夠實時監測表面電位、反應速率以及電流變化等。它在研究電極反應、傳質過程以及腐蝕行為等方面具有獨特的優勢。 SECM被廣泛應用于能源、環境和材料科學領域，尤其在電池研究和傳感器開發中，起到了重要的作用。總結掃描探針顯微鏡是一類高度精密的工具，各種類型的掃描探針顯微鏡在不同的研究領域中都有著獨特的優勢。無論是原子力顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、掃描近場光學顯微鏡，還是掃描熱針顯微鏡和掃描電化學顯微鏡，它們都提供了不同的研究角度和技術手段，為科學家們探索納米世界的奧秘提供了強大的支持。在實際應用中，選擇合適的掃描探針顯微鏡類型，能夠更加地滿足研究需求，推動科技創新的不斷發展。

2023-02-24 15:07:13什么是差示掃描量熱法（DSC）？: 差示掃描量熱法（DSC）差示掃描量熱法（DSC）是一種熱分析技術，在該技術中，在樣本和參比物接受相同的溫度控制程序時，測量流入樣本和參比物的熱流速率之間的差異作為溫度或時間的函數。例如，在加熱過程中樣本熔融時，DSC信號表現出吸熱峰。可以根據峰值確定熔融的特征溫度和焓。有兩種不同的DSC測量方法：熱流 DSC由樣品和參比物形成的樣品單元的溫度在特定程序中變化，且測量樣品和參比物之間的溫差作為溫度的函數。功率補償 DSC測量每單位時間內施加到樣品和參比物上的熱能差作為溫度的函數，以使它們的溫度相等，同時由樣品和參比物形成的樣品單元的溫度在特定程序中變化。DSC的工作方式？由于最流行的DSC是熱流DSC，我們將重點解釋熱流DSC如何工作。將待分析的樣品和參比物置于DSC加熱爐中，并在受控條件下改變加熱爐的溫度。樣本與參比材料之間的溫差與所用溫度成函數關系。樣品和熱穩定參比物之間的溫度差表明樣品內的狀態變化。以上輸出溫度熱圖說明了DSC分析運行的典型信息，是溫度差（熱流：y軸（mW/mg））與上升的應用溫度（x軸）的關系圖。基線偏移顯示了玻璃化轉變發生的溫度以及發生玻璃化轉變所需的能量。放熱峰的位置和分布情況給出了冷結晶溫度及其釋放能量的信息，吸熱峰與熔融溫度和通過該熱轉變所需的能量有關。這些信息可以確認聚合物ID、質量、結晶度和純度等，非常適用于檢查原材料質量。熱流DSC由樣品和參比物支架、熱阻、散熱器和加熱器組成。加熱器的熱量通過散熱器和熱阻提供給樣品和參比物。熱流與散熱器和支架的溫差成正比。與樣品相比，散熱器具有足夠的熱容量。如果樣品經歷了如轉變和反應等吸熱或放熱現象。這種吸熱或放熱現象會暫時使樣品溫度不同于程序溫度。因此，樣品溫度將不同于熱惰性的參比溫度。樣品和參比溫度的差異與經歷熱事件所需或釋放的能量成正比。通過使用標準物校準儀器，可以精確測量經歷熱事件所需的溫度和能量。DSC提供了哪些熱特性信息？DSC支持如玻璃化轉變、熔化和結晶等測量轉變。此外，還可以測量如熱固化和UV固化、熱歷史、比熱容（Cp）和純度分析等化學反應。最近，隨著高功能高分子材料的發展，對熱特性細微變化的分析急劇增加。這里列出了可以用DSC測量的現象和獲得的信息。決定材料是否適用給定應用的兩個主要基本材料特性是玻璃化轉變和熔融。玻璃化轉變（Tg）表示在一定溫度下，物質從玻璃態（硬）轉變為橡膠態（軟），反之亦然。玻璃化轉變將出現在含有缺乏有序性的非晶相的材料中。可以通過工藝或添加添加劑來控制溫度和材料非晶的程度，這將給予所需的材料機械特性。確定玻璃化轉變為材料的生產參數優化、質量控制和失效分析提供了溫度上下限。熔點（Tm）表示發現第一可檢測液相的溫度點，此時未遺留固體材料。可以檢測結晶和半結晶材料的熔點，且其熔化焓可用于確定材料的純度和結晶度。如何解釋特定于ASTM方法的DSC結果我們選擇了ASTM E794-06（2018）熱分析熔融和結晶溫度的標準試驗方法作為例子，通過解釋結果加以討論。本試驗方法描述了通過差示掃描量熱法（DSC）和差示熱分析法（DTA）測定純材料的熔融（和結晶）溫度。以下DSC曲線顯示了這種技術如何區分不同類型的聚合物。聚合物因類型和組成不同而具有不同的熔融溫度（添加劑的類型或濃度）。以下例子顯示了兩種類型的聚乙烯（高密度和低密度），它們的熔點不同。聚合物的熔融溫度取熔融過程的峰值。該測量結果可用于確認進料的原材料標識、檢測微量雜質（如聚乙烯中的聚丙烯）以及最終產品規格。它適用于粉末、薄膜或顆粒。使用DSC的優勢？DSC可能是四種熱分析技術中最流行的一種，溫度范圍較寬使其能夠檢測到大范圍的轉變。測量材料的轉變也很容易，尤其是對于玻璃化轉變很重要的聚合物。日立DSC分析儀系列可實現明顯更好的熱分析DSC儀器具有世界一流的靈敏度和基線重現性，能夠提供更精確的試驗，甚至能夠評價最小的熱事件。創新型Real View 相機系統在測量過程中提供實時觀察結果，從而進行顏色分析、測量尺寸變化以及了解非預期結果。在測量過程中查看樣品圖像也有助于與同事和可能不了解這項技術的客戶分享結果。DSC200為常規應用提供了領先的技術，無任何限制，是各種應用場景的理想選擇。DSC600專門設計用于滿足最先進的材料開發和失效分析，這要歸功于其靈敏度和分辨率，尤其是用于應用研究領域中。

2022-02-09 11:34:47熱場發射掃描電子顯微鏡JSM-7610FPlus: 二次電子像分辨率 0.8 nm（加速電壓 15 kV），1.0 nm（加速電壓 1 kV ）分析時 3.0 nm (加速電壓 15 kV, WD 8 mm, 探針電流 5 nA ) 倍率 Direct magnification: x25 to 1,000,000（120 x 90 mm）Display magnification: x75 to 3,000,000（1,280 x 960 pixels）加速電壓 0.1 ～ 30 kV 探針電流數 pA ～ 200 nA 電子槍浸沒式肖特基場發射電子槍透鏡系統聚光鏡（CL）、最佳光闌角控制鏡（ACL）、半浸沒式物鏡（OL）樣品臺全對中測角樣品臺、5軸馬達驅動電子檢測器系列高位檢測器、　r‐過濾器　內置、低位檢測器自動功能自動聚焦、自動消象散、自動亮度/襯度調節圖像觀察用液晶顯示器屏幕尺寸 23英寸寬屏分辨率　1,920 × 1,080像素抽真空系統電子槍室／中間室　SIP 離子泵樣品室　TMP 分子泵