導讀：電鏡掃描，通常指的是掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）的工作原理和過程。SEM是一種高分辨率的顯微鏡技術，通過使用聚焦的高能電子束在樣品表面進行掃描，從而獲取樣品表面的形貌、成分等信息。具體來說，SEM的工作原理是利用電子槍發射出的電子束，經過透鏡系統聚焦后，以光柵狀的方式在樣品表面進行掃描。當電子束與樣品相互作用時，會激發各種物理信號，如二次電子和背散射電子等。這些信號被檢測器收集并放大，最終形成電子圖像。通過分析這些圖像，可以觀察和分析樣品表面的組成、形態和結構。