產品介紹:
日立發布的200kV球差校正透射電鏡HF5000,具有高穩定冷場發射電子槍,自動球差校正器,可一鍵操作實現自動球差校正,HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃;可配置EDS雙探頭,固體角zui大可達2.0sr;具備TEM、STEM,SEM和電子衍射等多種圖像觀測模式;鏡筒和樣品臺經過了重新設計,顯著提升了儀器的性能和穩定性......HF5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
特點:
1、高度自動化球差校正,盡量減少人員介入,適用于繁忙的分析測試zhong心或設備平臺;
2、三位一體呈現(TEM、STEM、SEM),內部結構成像和表面結構成像可同時進行同時獲取;
3、EDS超大球面角,無窗口探頭。可實現快速,高靈敏度化學成分分析;
4、前瞻性平臺總體設計,為性能擴增預留選項,例如可擴增為氣體環境電鏡。
參數配置:
報價:面議
已咨詢2251次透射電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢371次透射電鏡( TEM )
報價:面議
已咨詢907次透射電子顯微鏡
報價:¥5000000
已咨詢429次TEM 透射電子顯微鏡
報價:¥9990000
已咨詢119次TEM 透射電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢1736次透射電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢3684次透射電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢1082次電子顯微鏡
TEM顯微鏡用于高生產率、高分辨率的TEM和具有化學定量的STEM表征。
適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡。
用于光束敏感材料的高對比度成像的TEM和STEM分析。
The Talos L120C TEM 的平臺式設計具備了模塊多功能化,ZG的穩定性及操作的便捷性,從而提供可靠的ZJ成像性能。
專用掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國CEOS GmbH公司(總經理Max Haider先生)共同開發的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級納米技術研究。由于球差校正系統校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標準型號顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時,探針電流提高了10倍。