SPA系列可以提供精確的、非接觸、無損膜厚度測量，適用于薄膜厚度在2-100μm的聚合物材料、硅基氧化膜、硅基玻璃膜，在干涉條紋產生的基礎上通過改變角度產生干涉條紋（VAMFO-變角度單色條紋觀測）的方法。對于厚膜折射率的測量，單色光被直接照射到被測樣品上，這樣，從薄膜表面反射回來的光的干涉小值就會發生變化，光的入射角也會發生變化。在這種技術中，薄膜厚度是由兩個干涉小值的角的位置計算出來的。對于這種測量條件——薄膜具有兩個或兩個以上的干擾小值——薄膜厚度必須大于低脫粒率，通常為2微米。樣品夾持機采用真空從背面支撐樣品，安裝方便簡單。可測量薄膜/基底的類型，硅襯底上幾乎多種透明或半透明材料的氧化物、氮化物、介質、聚合物或薄膜。可測量的薄膜/襯底類型：氧化物、氮化物、介電材料、聚合物、或硅襯底上幾乎多種透明或半透明材料的薄膜。

采用帶溫控臺的SPA-4000雙棱鏡對材料薄膜的光熱學系數進行了測量，材料的光熱系數被定義為折射率隨溫度變化的函數，可以被用作光學數字開關，Mach-Zehnder間距式和交叉式光學開關，這些光器件通過改變溫度來控制光路，在網絡通信中起著關鍵作用。該材料中廣泛引用的光學效應理論Prod’homme理論

產品特性：

1. 薄膜及波導折射率/厚度/光損測量

2. 折射率和薄膜厚度的高分辨率測量

3. 準確測量散裝或基材材料

4. 雙層薄膜測量（甚至在波長1310 nm或1550 nm處有幾個~?厚度）

5. 不相關的薄膜/基板組合

6. 無需預先知識，操作簡單。

7. 批量或基板材料的準確測量

8. 各向異性/雙折射測量（TE和TM能力）

9. 快速表征

10. 可用于波長范圍內的許多激光器（632.8nm~1550nm）

技術指標：

三、應用

光通信系統的光學元件

     - 光學開關

     - 用于WDM的可變光衰減器（VOA）（波分復用）

     - 低光傳播損耗

塑料光纖（POF）

     - 用于光通信的塑料光纖放大器（POFA）

     - 用于波導的高溫聚合物

溫度依賴性

聚合物的性質

     - 研究聚合物的鉻性質

     - 信息顯示和處理

     - 存儲材料

納米器件：MEMS，微電子

應用領域：

使用SPA系列棱鏡耦合儀可以測量所有類型的薄膜/基材。具體請參看下面表格。

這些散裝和立式膠片是可測量的。