液氮制冷
-190℃~600℃
±0.1℃
0.1℃
一、產品簡介
適合電極在樣品背面的情況,探針可耐受高低溫環境重復使用。
上部觀察窗口離樣品距離較遠,不需要進行氣體吹掃來防止窗口表面結露。
提供外部接線盒,用于信號切換,結合外部的濕度控制模塊,適用于鈣鈦礦、太陽能電池、OLED發光等的變溫測試和分析。
二、產品參數
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已咨詢12次高低溫冷熱臺
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已咨詢1361次功能材料電學綜合測試系統
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已咨詢24次INSTEC 冷熱臺
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已咨詢589次科學儀器產品信息
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已咨詢27次INSTEC 冷熱臺
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已咨詢128次冷熱臺
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已咨詢561次科學儀器產品信息
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已咨詢45次液氮高低溫探針臺
TC308型號特點: ◎ 整體不銹鋼外殼,更易清潔且結實耐用,適合半導體高凈間內使用; ◎ 采用大尺寸數字液晶顯示和壓力按鍵,使用體驗和人機交互性能更優秀; ◎ 具有降溫蜂鳴器報警功能,可使用結束時及時提醒使用者; ◎ 采用白色高溫陶瓷漆噴涂加熱面板,具有出色的溫度均勻性的同時,更容易識別樣品變化和保持清潔。
此型號冷臺采用懸空隔振設計,樣品臺震動小于100nm。冷臺體積小巧,方便與顯微鏡、拉曼光譜儀等設備集成。附件豐富,包括低溫壓電位移臺、光前組件、電學接頭、不同材質窗片等可供搭配。可以廣泛用于半導體工業、MEMS、超導、電子學、貼電子學、物理學和材料學等領域。
1. 高精度電流輸出,范圍0.1uA~200mA。 2. 快速測量,塞貝克測試<10s,zT值測量<40s。 3. 儀器體積小巧,方便攜帶,可選配續航電池。 4. 功能豐富,具備Seebeck系數測量、器件ZT值、電阻測試和恒流源輸出功能。 5. 軟件界面簡潔,操作簡單,結果顯示明確,便于觀測。 6. 具備數據存儲功能,便于歷史數據對比。 7. 具備可靠的數據重復性和穩定性。
1. 高精度電流源,輸出精度可達0.1μA,可測量大部分半導體材料; 2. 高精度電壓源,24位ADC采集,精度可達μV級; 3. 可靠的重復性,軟硬件設計多重濾波,使測量數據更穩定,確保每個實驗數值均為多次測試的平均值; 4. 簡約大氣的外觀設計,儀器連接操作簡單,完成樣品信息設置后
1. 變溫范圍廣,從-190℃到1000℃全覆蓋,且變溫過程中升降溫速率可控; 2. 兼容多種阻抗表,測試頻率可根據測試需求選擇不同的測量儀表; 3. 測試數據量大且完整,變溫過程中持續采集,采集時間可自由選擇; 4. 一次變溫,可同時采集多個頻率,測試效率高。
1. 變溫范圍廣,-196℃到1200℃全覆蓋,且變溫過程中升降溫速率可控; 2. 測試精度高范圍廣,電阻測量范圍0.01uΩ到1200MΩ; 3. 測試數據量大且完整,變溫過程中持續采集,電阻率數據每秒采集2次 。
1.可與壓痕儀結合使用,用于分析材料的硬度、彈性模量等力學性能隨溫度的變化規律。 2.可用于半導體材料和航空材料等需要進行材料力學和溫度測試的場景。
可與掃描電鏡結合使用,在觀察樣品形貌的同時,分析不同溫度下樣品的成分、晶體結構等信息,從而更全面地研究材料的性能和行為。