尚豐科技向用戶提供高精度的電鏡3D圖像標準樣品,幫助電鏡用戶確保電鏡3D測量的準確度。
3D calibration 電鏡3D圖像標準樣品應用廣泛,可用于掃描電鏡SEM, 激光共聚焦顯微鏡CLSM,及原子力顯微鏡AFM/掃描隧道顯微鏡SPM
3D Calibration
為了保證電鏡3D圖像測量的準確性,我們需要用到德國生產、做工精良的3D圖像標準樣品。
一步完成樣品平面和高度的校準
已經完成精確測量的樣品及其數據庫
能夠準確測算所有計量和切面數據的軟件系統
能夠對測量數據進行校準的數據接口
快速而準確:自動校準
使用數字圖像處理系統,自動處理基于精密標準樣品的探測和測量數據
確保數據處理結果的準確性和可靠性
應用廣泛: 掃描電鏡SEM,激光共聚焦顯微鏡CLSM,掃描隧道顯微鏡SPM/原子力顯微鏡AFM
適用于所有圖像表面測量系統
多種規格( 20x20μm2 至 160x160μm2 )
提供特定規格標樣(如為背反射電子探測器進行校準用的圓球形樣品)
基于經過數據校準和校正的軟件系統
對參照標記進行自動探測和子像素測量
對多達12條直線參數進行計算和數據分析
對側面和垂直的非線性進行自動分析
自動生成工作報告(PDF), 具備數據校正模式接口
集成數據采集和分析軟件
鼠標一鍵點擊進行圖像數據測量
3D數據實時校正并輸出
應用案例1
掃描隧道顯微鏡
側面未校正圖像
校正后圖像顯示
應用案例2
激光共聚焦顯微鏡校正CLSM
未校正圖像
校正后圖像
可見,3D電鏡圖像標準樣品能夠極大地改善電鏡狀態,保證圖像質量。
尚豐科技致力于引進推廣先進的材料、生物顯微觀測及微區分析儀器,向科研人員高附加值服務。
我們擁有一支涉及眾多領域高素質的應用支持團隊,為各行業的應用需求提供專業的解決方案和售后服務。
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尚豐科技(香港)科技有限公司
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已咨詢1864次SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統SEM產品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過簡單的操作即可實現數據采集??捎糜阡撹F等工業材料,汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外,SE系列包括4種型號(兩種類型,兩個等級),滿足眾多領域的測試需求。用戶可以根據實際用途(如微觀結構控制:用于改善電子元件、半導體等材料的功能和性能;異物、缺陷分析:用于提高產品品質)選擇適合的產品。
1波長范圍:400 - 1000 nm 2每一像素同時檢測時間(ToA)和強度(ToT)3時間分辨率1.6 ns,有效幀速率> 500 MHz 4無損、數據驅動讀出速度高達80 Mhits / s
高性能電子光學系統 二次電子分辨率: 頂位二次電子探測器(2.0 nm at 1kV)* 高靈敏度: 高效PD-BSD, 超強的低加速電壓性能,低至100 V成像 大束流(>200 nA): 便于高效微區分析 性能優異 壓力可變: 具有優異的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配備高靈敏度低真空探測器(UVD)* 開倉室快速簡單換樣(Z大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH) 微區分析: EDS, WDS, EBSD等等
ParticleX TC 全自動汽車清潔度分析系統 取代傳統顆粒物清潔度檢測方法,允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學成分,從而判斷出污染源。