簡介：

單晶結構分析應用范圍十分廣泛，凡是可獲得單晶體的樣品均可用于分析。該方法樣品用量少，只需0.5 mm大小的晶體一粒，即可獲得被測樣品的全部三維信息，結構包括原子間的鍵長、鍵角、分子在晶體中的堆積方式，分子在晶體中的相互作用以及氫鍵關系、π－π相互作用等各種有用信息。

產品介紹：

產品名稱：單晶X射線衍射儀

產品型號：Bruker SMART APEX II

品    牌：Bruker

功能/應用范圍：

單晶X射線衍射是一種廣泛應用的分析技術，用以測定一個新化合物（晶態）分子的準確三維空間（包括鍵長、鍵角、構型、構象乃至成鍵電子密度等）及分子在晶格中的實際排列狀況。它廣泛用于化學、分子生物學、藥物學、物理學、礦物學和材料科學等方面的分析研究。

主要技術指標：

高分辨率：映象面積62mm×62mm，4K CCD芯片，面積大容量高

象素分辨率高：15μm×15μm

高靈敏度：CCD探頭無束錐，1：1耦合，光線透過率70％，無圖形畸變，無空間變形

快速： 4個數據出口，速度快，死時間短，測試時間是原來的10%，一般晶體需5小時左右 

多功能： 可進行單晶、孿晶和粉晶測試，粉晶用量僅為0.1mm3

技術特色：

可用于中小分子直至大分子晶體的分子結構分析，絕對構型測定及精密電子密度測定；對孿晶、微小晶體有良好的適應性。對研究結構與性能及生物活性的關系，以及新材料的設計提供可靠的基礎。