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FEI “Quanta FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡”
- 品牌:美國FEI
- 型號: Quanta 250FEG/450FEG/650FEG
- 產地:美洲 美國
- 供應商報價:面議
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廣州貝拓科學技術有限公司
更新時間:2020-12-16 14:01:29
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
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詳細介紹
儀器簡介:
QuantaFEG系列場發射環境掃描電子顯微鏡是FEI公司的zuixin產品之一。是在FEI公司產品XL30ESEM-FEG場發射環境掃描電子顯微鏡的基礎上發展而來的。
QuantaFEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢,可對各種各樣的樣品(包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等)進行高分辨的靜態和動態觀察和分析。
QuantaFEG和Quanta一樣具有優異的系統擴展性能,可同時安裝能譜儀、波譜儀、EBSP、陰極熒光等附件。主要特點:
1.完全數字化系統控制,Windows XP操作系統
2.場發射環境掃描系統兼顧高分辨和樣品多樣性
3.數字電影功能可將觀察過程記錄為avi視頻文件
4.穩定的大束流(最大200nA)確保高速、準確的能譜、波譜和EBSD分析
5.可安裝冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品原位、動態觀察和分析技術參數:
1.分辨率:
二次電子:
高真空模式 1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV
高真空減速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項)
低真空模式 1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV
環境真空模式 1.4nm @ 30kV
背散射電子:
高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV
掃描透射STEM探測器:
0.8nm @ 30kV
2.加速電壓 200V ~ 30kV, 連續可調
3.高穩定性Schottky場發射電子槍
4.最大束流 200nA
5.樣品室壓力最高達4000Pa
6.樣品臺移動范圍
Quanta 250 FEG: X=Y=50mm
Quanta 450 FEG: X=Y=100mm
Quanta 650 FEG: X=Y=150mm技術資料