
- 2025-01-10 17:05:18微納米力學測試系統
- 微納米力學測試系統是一種高精度的測試設備,主要用于研究材料在微納米尺度下的力學行為。該系統能夠精確測量材料的力學性能參數,如硬度、彈性模量、斷裂韌性等,并能在微小區域內進行原位測試,揭示材料微觀結構與性能之間的關系。該系統廣泛應用于材料科學、生物醫學、微電子等領域,為科研工作者提供了重要的實驗手段,有助于推動相關領域的技術進步和創新發展。
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- 涵蓋納米或微米尺度下材料力學性能的表征,包括:壓痕、劃痕及摩擦磨損等功能模塊,可以獲得材料硬度、彈性模量、薄膜與界面結合力和摩擦磨損等性能,可控制溫度與氣氛等環境條件。具有較高的靈活性及擴展性。
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微納米力學測試系統問答
- 2024-12-27 13:45:02石英晶體微天平測試方法
- 石英晶體微天平測試方法 石英晶體微天平(QCM, Quartz Crystal Microbalance)是一種高靈敏度的質量檢測工具,廣泛應用于材料科學、化學分析和生物傳感領域。QCM測試方法通過監測石英晶體的共振頻率變化來精確測量樣品的質量變化,尤其適用于研究納米級別的質量變化。本文將深入探討石英晶體微天平的工作原理、常見的測試方法以及應用實例,幫助科研人員和工程師更好地理解和使用這一重要的測量工具。 石英晶體微天平的工作原理 石英晶體微天平的核心原理基于石英晶體的壓電效應。當電場作用于石英晶體時,晶體會發生形變并產生電荷,反之,施加機械壓力時,石英晶體也會產生電信號。QCM利用這一特性,通過施加交流電信號使石英晶體在特定頻率下振蕩。當有質量附著在晶體表面時,會改變晶體的振蕩頻率,從而推算出附著物的質量變化。 QCM測試的靈敏度極高,能夠檢測到極微小的質量變化,通常達到微克(μg)級別,甚至納克(ng)級別。這使得它在分析薄膜、涂層、分子吸附以及生物分子相互作用等研究中具有不可替代的優勢。 石英晶體微天平的測試方法 頻率變化法 頻率變化法是QCM中常見的測試方法。它通過監測晶體頻率的變化來推算樣品的質量變化。根據愛因斯坦的科學定律,質量附著在晶體表面時,會導致晶體的共振頻率下降。通過精確測量頻率的變化,可以計算出質量的增減。這種方法適用于測量氣體、液體或者固體的附著量。 穩態法與動態法 在QCM的實驗中,穩態法和動態法是兩種常見的操作方式。穩態法是在樣品達到穩定附著量后,測量其頻率變化,而動態法則是在樣品附著過程中實時監控頻率的變化,分析附著速率和過程中的變化。動態法適用于實時監測反應過程,如化學反應、生物分子結合等。 溫度和壓力控制法 在某些應用中,溫度和壓力對測量結果有顯著影響,因此需要精確控制實驗條件。通過控制石英晶體微天平的工作環境,如溫度、濕度、壓力等,可以進一步提高測試的精確度。例如,在生物傳感器的應用中,溫度變化可能會導致生物分子活性的改變,因此穩定的溫度控制是至關重要的。 電化學QCM 電化學QCM是結合了QCM和電化學技術的一種先進方法。它通過在石英晶體表面施加電流或電壓,使樣品在電化學反應中發生變化。這種方法常用于研究電化學反應、腐蝕過程以及電極表面上的吸附和脫附現象。 石英晶體微天平的應用領域 石英晶體微天平的應用領域非常廣泛。在生物傳感器中,QCM可以用來研究分子相互作用、抗原與抗體的結合、DNA與RNA的雜交等生物化學過程。通過精確測量分子附著的質量變化,研究人員能夠實時監控生物分子反應,提供無標記檢測方案。 在材料科學中,QCM廣泛用于薄膜沉積、涂層厚度監測以及材料表面的化學改性等實驗。QCM能夠幫助科研人員實時跟蹤薄膜生長過程,提供準確的質量增量數據。 QCM在環境監測、食品安全、藥物研發等領域也有著重要的應用。例如,它可以用于檢測空氣中的有害氣體或食品中的添加劑,通過質量變化的檢測提供實時監控。 總結 石英晶體微天平作為一種高靈敏度的質量傳感器,具有廣泛的應用潛力和發展前景。通過不同的測試方法和實驗技巧,科研人員能夠在納米尺度上精確測量質量變化,并從中獲得有關分子相互作用、薄膜沉積及反應動力學等重要信息。在未來,隨著技術的不斷進步和優化,QCM將進一步推動各個科學領域的發展,成為更加重要的實驗工具。
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- 2022-01-21 20:33:08納米軟件之絕緣電阻測試系統
- 系統組成 絕緣電阻測試系統由防爆一體機、HP3530絕緣電阻測試儀、待測絕緣電阻及腳踏開關組成。絕緣電阻測試系統組成產品特點l 軟件可以實現控制HP3530絕緣電阻測試儀對待測電阻的測量;l 軟件可以實現在單電阻模式下,每測20條數據后提示用戶進行線電阻清零;l 軟件可以實現在雙電阻模式下,每測10條數據后提示用戶進行線電阻清零;l 軟件可以通過腳踏開關來觸發測試的開始,極大的方便了用戶的使用;l 軟件具有管理員和測試員兩種權限的設置,增強了系統的管理功能;l 軟件可以將測試電阻值及其相關信息保存至數據庫,可供用戶隨時導出測試數據及信息;l 軟件將測試數據以word的形式進行導出?;居布?、防爆一體機防爆一體機主要用于安裝測試軟件和測試數據導出。2、 HP3530絕緣電阻測試儀測試儀可選RS232通訊模塊,與計算機進行通訊,組成一個自動化測試系統。測試端口、充電端口都具有多種保護電路,在任何工作模式、任何工作狀態下都可以確保安全。3、腳踏開關腳踏開關是一種通過腳踩或踏來控制電路通斷的開關。在本系統中,腳踏開關與鍵盤按鍵相關聯,軟件監控相應的按鍵,當腳踏開關被觸發時,進行一次電阻測試。 軟件功能絕緣電阻測試系統由用戶管理、系統登錄、儀器連接、功能選擇及測試、歷史數據查詢、數據導出和包絡分析組成。用戶管理: 用戶管理只對具有管理員權限的用戶開放,提高了系統的安全性和可控性,便于管理員對使用本系統的人員管理。 用戶管理界面用戶登錄:用戶在測試前必須要通過身份驗證否則不能進入系統進行測試。用戶通過賬號和密碼登錄系統,系統會自動識別當前用戶是管理員權限還是測試員權限。 用戶登錄界面儀器連接:用于檢測軟件是否與DZC-8M電阻測試儀建立連接,只有在建立連接的情況下才能進行后續的電阻測試;點擊相應的按鈕則將會進入相應的功能模塊。 功能模式選擇功能選擇及測試:本軟件主要有單電阻測試和雙電阻測試兩種功能供用戶選擇,功能選擇完畢后,用戶填寫相應的測試信息并開始測試電阻。單電阻測試模塊進入單電阻測試界面后,首先應該認真填寫測試信息,測試信息填寫無誤后點擊開始測試按鈕或者踩踏腳踏開關來觸發一次的電阻測試任務,直至測試任務完成退出測試界面。單電阻測試界面雙電阻測試模塊 雙電阻測試界面歷史數據查詢:軟件會將測試數據保存至數據庫,用戶可根據產品代號或產品批號在數據查詢界面進行歷史測試數據查詢。 數據導出:用戶在數據查詢界面查詢到數據后,可導出相應的數據,導出數據將以word形式展示。 包絡分析:包絡分析的主要功能是對測試數據進行包絡分析,能讓用戶更加直觀的看到本次數據的相關信息。 數據包絡分析
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- 2023-07-07 11:24:21安泰測試Agitek-9812DX低頻噪聲測試系統產品介紹
- 9812DX作為單一完整的低頻噪聲測試系統,支持多種半導體器件類型在各種工作條件下(如200V高壓、10pA極低電流等)的高精度噪聲測試。通過低頻噪聲測試,可以幫助芯片制造廠檢測和排除工藝制造缺陷,確保芯片質量符合預期,提高芯片穩定性。晶圓級噪聲測試精度和高測試帶寬,最低測試噪聲的電流精度低至10-27A2/Hz。典型噪聲測試速度提高至一個偏置條件僅需20s、最高測試電壓提高到200V。通過并行測試架構解決方案以及協同FS-Pro半導體參數測試系統等方式大幅度提高測試效率和吞吐量。用于28/14/10/7/5/3nm等各工藝節點的先進工藝研發和高端集成電路設計。內置功能強大的NoiseProPlus軟件,支持1/f噪聲、RTN噪聲測試和數據分析。產品亮點:行業黃金標準:半導體行業低頻噪聲測試“黃金標準”系統廣泛采用:已被眾多行業領先半導體公司所采用的標準測試系統并行測試:經頭部客戶驗證的高精度、高測試吞吐率并行測試能力寬量程:晶圓級高精度和測試帶寬寬電壓、寬電流、寬阻抗測量范圍系統架構:系統體系架構經行業認可并不斷完善兼具高精度和可靠性覆蓋廣泛:同時覆蓋從10Ω到10MΩ的高阻抗器件和低阻抗器件測試能力技術參數:寬量程: 最大器件端電壓和電流 : 200V, 200mA高精度: 最高 DC 電流精度 : 10pA、 系統噪聲電流精度 :
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- 2023-06-14 13:08:58基于納米微滴的試劑注入到油包水液滴中
- FluoSurf (2%, w/w) in HFE 7500 含氟表面活性劑 Zhu B, Du Z, Dai Y, Kitguchi T, Behrens S, Seelig B. Nanodroplet-based reagent delivery into water-in-fluorinated-oil droplets. ChemRxiv. Cambridge: Cambridge Open Engage; 2023; 體外區隔化是一種生成油包水微滴的技術,用于建立基因型(DNA信息)-表型(生物分子功能)連鎖,這是許多生物學應用所需要的。近年來,由于氟化油具有較好的生物相容性,在微滴制造中得到了越來越廣泛的應用。然而,需要在含氟水的油微滴中添加試劑來進行多步反應是困難的。芯片上的微滴操作通常用于此目的,但它可能遇到一些技術問題,即低通量或將試劑遞送到不同的微滴中有時間延遲。因此,我們評估了采用基于納米液滴的方法使用銅離子和中等大小的肽(2 kDa)分子來解決這些問題的可行性。
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- 2023-03-20 15:31:22微區原位表征多面手!3D/2D表面形貌、力學、電學、磁學等表征均可實現,換樣僅需幾分鐘!
- 一、設備簡介隨著材料性能在芯片制造、新能源、醫療、機械、機電等諸多領域的廣泛應用,材料的體相成分信息表征已不能滿足當前的研究,越來越多的研究者開始關注材料的微區結構。目前,微區性能通常使用多臺設備切換不同表征手段相互印證,很難實現在納米級精準度的前提下對某一微區進行表征,所獲得的研究結果關聯性較弱。為此,Quantum Design公司推出了多功能材料微區原位表征系統-FusionScope。該設備結合了SEM和AFM的互補優勢,直接選取感興趣的區域,即可在同一時間、同一樣品區域和相同條件下完成樣品的原位立體綜合表征,實現三維結構、力學、電學、磁性和組成成分的原位分析。該設備簡單直觀的軟件設計,可快速獲得所需數據;高分辨率SEM實時、快速、精準導航AFM針尖,從而實現AFM對感興趣區域的精準定位與測量,輕松表征納米線、2D材料、納米顆粒、電子元件、半導體、生物樣品等材料。Quantum Design微區性能綜合表征系統-FusionScope 二、測量模式2.1 SEM-AFM聯用:人造骨骼SEM-AFM測量2.2 微區三維形貌測量2.2.1 接觸模式: 聚合物樣品2.2.2 動態模式:懸空石墨烯樣品2.2.3 FIRE模式(測量樣品硬度和吸附力):聚苯乙烯和聚烯烴聚合物樣品 2.3微區性能測量2.3.1 導電AFM測量(C-AFM)左圖為在Si上Au電極SEM圖片,中圖為電極的AFM測量結果,右圖為電極導電測量結果2.3.2 靜電AFM測量(EFM)左圖BaTiO3陶瓷樣品的SEM圖片,中圖為樣品同一區域AFM形貌結果,右圖為+1.5V偏壓下EFM表征結果 2.3.3 磁力AFM(MFM)左圖為Pt/Co/Ta復合材料AFM表征結果,右圖為同一區域的MFM表征結果 三、應用案例3.1 材料微區性能表征左圖為雙相鋼在晶界處的SEM圖形,中圖為原位AFM形貌測量結果,右圖為樣品原位順磁和鐵磁區域表征結果3.2 電子/半導體器件分析左圖為通過SEM將AFM探針定位到CPU芯片特定區域,中圖為選定區域晶體管的AFM表征結果,右圖為選定區域晶體管的SEM圖像 3.3 二維材料表征左圖為通過SEM將AFM探針指引到HOPG所在區域,中圖為HOPG樣品三維形貌圖,右圖為中圖中HOPG樣品的高度(0.3 nm) 3.4 生命科學左圖為通過SEM將AFM探針定位到樣品所在區域,中圖為貝殼上硅藻結構的SEM圖像,右圖為硅藻結構的AFM三維形貌圖
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