BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 電位三合一型
儀 器 簡 介
ABOUT INSTRUEMENT
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學檢測系統。該系統中集成了背向 +90°動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。
指標與性能
Index＆performance
粒徑測試
原理：動態光散射技術
粒徑范圍：0.3 nm – 15 μm
樣品量：3 μL - 1 mL
檢測角度：173°+90°+12°
分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS
Zeta電位測試
原理：相位分析光散射技術
檢測角度：12°
Zeta范圍：無實際限制
電泳遷移率范圍：> ±20 μ.cm/V.s
電導率范圍：0 - 260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍：2 nm – 110 μm
分子量測試
分子量范圍：342 Da – 2 x 107 Da
微流變測試
頻率范圍：0.2 – 1.3 x 107 rad/s
測試能力：均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量
粘度和折光率測試
粘度范圍：0.01 cp – 100 cp
折光率范圍：1.3-1.6
趨勢測試
模式：時間和溫度
系統參數
溫控范圍：-15° C - 110° C+/- 0.1°C
冷凝控制：干燥空氣或者氮氣
標準激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器：Z快25 ns采樣，Z多 4000 通道，1011 動態線性范圍
檢測器：APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制：0.0001% - 100%，手動或自動
軟件
中文和英文
符合21CFR Part 11
原理圖
Optical system
儀器檢測
Instruments Testing
檢測參數
顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布
顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
分子量
分布系數 PD.I
擴散系數 D
流體力學直徑 D H
顆粒間相互作用力因子 k D
溶液粘度
檢測技術
動態光散射
電泳光散射
靜態光散射
企業官網：www.bettersize.com
郵政編碼：118009
電話總機：0415-6193800
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