產(chǎn)品概述
閃存芯片智能測試系統(tǒng)FT-N200是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統(tǒng)，系統(tǒng)可提供寬溫測試環(huán)境，并行測試閃存顆粒種類最多可達25種，并行測試閃存顆粒數(shù)量最多可達200 顆。
閃存芯片智能測試系統(tǒng)FT-N200 支持多種測試 pattern及自定義測試參數(shù)功能，提供一鍵式基礎(chǔ)測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現(xiàn)閃存顆粒剩余壽命預(yù)測、實測、數(shù)據(jù)保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態(tài)，完成測試后可以方便快捷地一鍵導(dǎo)出測試報告，為用戶提供最直觀的圖形化測試數(shù)據(jù)，為閃存顆粒等級分類和應(yīng)用提供最精確的參考依據(jù)，并基于閃存顆粒品質(zhì)檢測結(jié)果實現(xiàn)智能分級。
設(shè)備組成
名稱 | 規(guī)格 | 數(shù)量 | |
主 體 | 測試板 | PCBA_XC7Z030_NAND_TEST_V1_3_Rohs； | 25 |
溫箱 | FT-N200 定制溫箱 L187cm*W89cm*H183cm； 可并行測試顆粒數(shù)量：1~200 顆； 溫箱溫度范圍：-60℃~+150℃； 含維護用螺絲刀、備用螺絲、扳手； |
1 | |
上位機 | CPU-i7，16G 內(nèi)存，1T 固態(tài)硬盤+機械硬盤 3T； 21.5 寸顯示器； | 1 | |
交換機 | 千兆交換機 | 2 | |
配 件 | 真空吸筆 | 便攜式防靜電 | 1 |
閃存規(guī)格限位框 | 12mm*18mm（測試底座內(nèi)置） | 200 | |
閃存規(guī)格限位框 | 14mm*18mm | 200 | |
安裝 U 盤 | 32GB | 1 | |
軟 件 | NAND 閃存自動化測試分類與壽命預(yù)測儀 1.0 | 1 | |
閃存篩選方法軟件 V1.0.0 | 1 | ||
NAND 閃存高低溫測試分類與篩選儀 V1.0 | 1 | ||
產(chǎn)品功能
產(chǎn)品功能 | |
基礎(chǔ)測試 | 芯片信息識別 |
實時功耗測試 | |
誤碼率測試 | |
平均擦除時間測試 | |
平均編程時間測試 | |
壞塊數(shù)測試 | |
壞塊容量測試 | |
剩余可用容量測試 | |
閃存等級劃分 | |
剩余壽命預(yù)測 | |
一鍵導(dǎo)出測試報告 | |
實驗測試 | 最大錯誤數(shù)測試 |
平均擦除時間測試 | |
平均編程時間測試 | |
閃存錯誤數(shù)變化繪圖 | |
實際可擦寫次數(shù)測試 | |
最大頁面錯誤數(shù)變化測試 | |
擦除時間變化測試 | |
編程時間變化測試 | |
高階測試 | 測試電壓拉偏 |
設(shè)置測試范圍（塊間隔） | |
ECC 設(shè)定 | |
挑選測試 pattern | |
Read-retry | |
數(shù)據(jù)保持 | |
讀干擾 | |
報價：￥2980000
已咨詢244次芯片檢測儀器
報價：面議
已咨詢1021次Instron拉力試驗機
報價：￥2685000
已咨詢246次芯片檢測儀器
報價：￥390000
已咨詢169次芯片檢測儀器
報價：面議
已咨詢255次高低溫濕熱試驗箱
報價：面議
已咨詢189次小型高低溫試驗箱
報價：￥26983.5
已咨詢334次標準型高低溫箱
報價：￥33366
已咨詢269次低溫低濕試驗箱
閃存芯片智能測試系統(tǒng) FT-N008B 是一種可以量身定制測試方案的綜合閃存測試系統(tǒng)，系統(tǒng)并行測試閃存顆粒數(shù)量Z多可達 8 顆。 閃存芯片智能測試系統(tǒng) FT-N008B 支持多種測試 pattern 及自定義測試參數(shù)功能，提供一鍵式基礎(chǔ)測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現(xiàn)閃存顆粒剩余 壽命預(yù)測、實測、數(shù)據(jù)保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠 性狀態(tài)，完成測試后可以方便快捷地一鍵導(dǎo)出測試報告，為用戶提供Z直觀的圖形化測 試數(shù)據(jù)，為閃存顆粒等級分類和應(yīng)用提供Z精確的參考依據(jù)，并基于閃存顆粒品質(zhì)檢測 結(jié)果實現(xiàn)智能分級。
SSD成品高溫智能測試系統(tǒng)采用 Win10 操作系統(tǒng)平臺，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA 產(chǎn)品的測試項目，通過 LINUX 系統(tǒng)和路油器進行數(shù)據(jù)傳輸，實現(xiàn)一鍵式操作，網(wǎng)絡(luò)化控制，節(jié)省人工，實現(xiàn)智能化數(shù)據(jù)管理，永久保留測試結(jié)果。
SSD成品高低溫智能測試系統(tǒng)采用 Win10 操作系統(tǒng)平臺，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA 產(chǎn)品的測試項目，通過 LINUX 系統(tǒng)和路油器進行數(shù)據(jù)傳輸，實現(xiàn)一鍵式操作，網(wǎng)絡(luò)化控制，節(jié)省人工，實現(xiàn)智能化數(shù)據(jù)管理，永久保留測試結(jié)果。
該系統(tǒng)是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統(tǒng)，系統(tǒng)可提供高溫測試環(huán)境，并行測試閃存顆粒種類Z多可達30種，并行測試閃存顆粒數(shù)量Z多可達240顆。同時支持多種測試 pattern 及自定義測試參數(shù)功能，提供一鍵式基礎(chǔ)測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現(xiàn)閃存顆粒剩余壽命預(yù)測、實測、數(shù)據(jù)保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態(tài)，完成測試后可以方便快捷地一鍵導(dǎo)出測試報告，為用戶提供Z直觀的圖形化測 試數(shù)據(jù)，為閃存顆粒等級分類和應(yīng)用提供Z精確的參考依據(jù)，并基于閃存顆粒品質(zhì)檢測結(jié)果實現(xiàn)智能分級，是國內(nèi)唯一自主研發(fā)的閃存芯片智能測試系統(tǒng)，可以為存儲產(chǎn)商、科研機構(gòu)以及測試中心等提供全面的產(chǎn)品解決方案和專業(yè)的測試服務(wù)。
該系統(tǒng)是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統(tǒng)，系統(tǒng)可提供寬溫測試環(huán)境，并行測試閃存顆粒種類Z多可達25種，并行測試閃存顆粒數(shù)量Z多可達200顆。同時支持多種測試 pattern 及自定義測試參數(shù)功能，提供一鍵式基礎(chǔ)測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現(xiàn)閃存顆粒剩余壽命預(yù)測、實測、數(shù)據(jù)保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態(tài)，完成測試后可以方便快捷地一鍵導(dǎo)出測試報告，為用戶提供Z直觀的圖形化測 試數(shù)據(jù)，為閃存顆粒等級分類和應(yīng)用提供Z精確的參考依據(jù)，并基于閃存顆粒品質(zhì)檢測結(jié)果實現(xiàn)智能分級，是國內(nèi)唯一自主研發(fā)的閃存芯片智能測試系統(tǒng)，可以為存儲產(chǎn)商、科研機構(gòu)以及測試中心等提供全面的產(chǎn)品解決方案和專業(yè)的測試服務(wù)。
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