·支持 SATAI/II/III 的測試；
·支持 SSD測試片數高達72片；
·支持高溫測試；
·支持異常斷電測試和老化測試；
·支持自動化溫控測試；
·支持全部采用軟體進行智能化控制測試；
·支持測試測試軟體的定制化；
·支持箱內風速與溫度均衡；
·支持快速升降溫控制；
·支持網絡化控制，可以異地控制測試并看測試結果；
·支持 APP 遠程控制測試；
報價：￥1980000
已咨詢193次SSD檢測儀器
報價：￥2080000
已咨詢237次SSD檢測儀器
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已咨詢2023次四探針方阻/電阻率測試儀
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報價：￥46000
已咨詢304次100Kv-電壓擊穿測試儀
閃存芯片智能測試系統 FT-N008B 是一種可以量身定制測試方案的綜合閃存測試系統，系統并行測試閃存顆粒數量Z多可達 8 顆。 閃存芯片智能測試系統 FT-N008B 支持多種測試 pattern 及自定義測試參數功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現閃存顆粒剩余 壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠 性狀態，完成測試后可以方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供Z直觀的圖形化測 試數據，為閃存顆粒等級分類和應用提供Z精確的參考依據，并基于閃存顆粒品質檢測 結果實現智能分級。
SSD成品高溫智能測試系統采用 Win10 操作系統平臺，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA 產品的測試項目，通過 LINUX 系統和路油器進行數據傳輸，實現一鍵式操作，網絡化控制，節省人工，實現智能化數據管理，永久保留測試結果。
SSD成品高低溫智能測試系統采用 Win10 操作系統平臺，通過開放式腳本模式，可以任意的修改高低溫箱的溫度及SATA 產品的測試項目，通過 LINUX 系統和路油器進行數據傳輸，實現一鍵式操作，網絡化控制，節省人工，實現智能化數據管理，永久保留測試結果。
該系統是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統，系統可提供高溫測試環境，并行測試閃存顆粒種類Z多可達30種，并行測試閃存顆粒數量Z多可達240顆。同時支持多種測試 pattern 及自定義測試參數功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現閃存顆粒剩余壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態，完成測試后可以方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供Z直觀的圖形化測 試數據，為閃存顆粒等級分類和應用提供Z精確的參考依據，并基于閃存顆粒品質檢測結果實現智能分級，是國內唯一自主研發的閃存芯片智能測試系統，可以為存儲產商、科研機構以及測試中心等提供全面的產品解決方案和專業的測試服務。
該系統是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統，系統可提供寬溫測試環境，并行測試閃存顆粒種類Z多可達25種，并行測試閃存顆粒數量Z多可達200顆。同時支持多種測試 pattern 及自定義測試參數功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現閃存顆粒剩余壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態，完成測試后可以方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供Z直觀的圖形化測 試數據，為閃存顆粒等級分類和應用提供Z精確的參考依據，并基于閃存顆粒品質檢測結果實現智能分級，是國內唯一自主研發的閃存芯片智能測試系統，可以為存儲產商、科研機構以及測試中心等提供全面的產品解決方案和專業的測試服務。
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